用于组合材料芯片的高通量电化学表征的装置及方法制造方法及图纸

技术编号:15539973 阅读:118 留言:0更新日期:2017-06-05 09:59
本发明专利技术涉及一种用于组合材料芯片的高通量电化学表征的装置及方法。测试仪器包括丝束电极、丝束电极电流电位扫描仪、具有成分梯度分布的薄膜样品以及特定的腐蚀介质。采用丝束电极电流电位扫描仪中的丝束电极测量方法得到丝束电极每个探针的电极电位以及电流,从而可以比较薄膜样品表面不同区域的电位分布和电流分布,最终得到待测样品表面的局部电化学参数信息。这种测量方法具有操作简单、能够同时完成多区域的并行测量,因此可以大大提升电化学信息的表征速度,为材料的防蚀性能评价提供一种快速的筛选方法。

Apparatus and method for high throughput electrochemical characterization of composite material chips

The present invention relates to a device and method for high throughput electrochemical characterization of composite material chips. The test instruments include tow electrodes, tow electrodes, current potential scanners, thin film samples with compositionally graded distributions, and specific corrosion mediators. By using wire beam electrode measuring method of wire beam electrode current potential scanner are tow electrodes of each probe electrode potential and current, thus the distribution of potential and current distribution between thin films of different regions, finally get the measured local electrochemical sample surface parameter information. This method has simple operation and can simultaneously complete parallel measurement and multi region, thus can greatly enhance the electrochemical characterization of the speed information, provide a rapid screening method for the evaluation of corrosion resistance of materials.

【技术实现步骤摘要】
用于组合材料芯片的高通量电化学表征的装置及方法
本专利技术属于薄膜材料电化学表征与耐蚀性能检测领域,具体涉及一种快速高通量筛选组合材料芯片中具有优异耐蚀性能成分配比的用于组合材料芯片的高通量电化学表征的装置及方法。
技术介绍
目前常用的电化学研究方法(如开路电位,动电位极化曲线以及交流阻抗测试)得到的均是研究电极表面的平均信号,当电极表面化学状态不一致时,这些方法就不能表征研究电极表面的局部腐蚀情况,而且这些研究方法采用的是“炒菜式”的模式,只能单独测试,研究速度缓慢。而当下,国家正大力发展“材料基因组”工程项目,“材料基因组”工程分为三个模块,分别为材料计算模拟、材料高通量实验以及材料数据库,其中材料的高通量实验在基因组计划中扮演着承上启下的重要作用,“材料高通量实验”就是指在短时间内完成大量样品的制备与表征。其核心思想是将传统材料研究中采用的顺序迭代方法改为并行处理,以量变引起材料研究效率的质变,将材料从发现到应用的速度至少提高一倍,成本至少降低一半。而传统的电化学表征方法已经不能满足材料基因组要求的短时间内完成大量样品的制备后快速电化学性能表征的目标。虽然目前拥有高通量微区电化本文档来自技高网...
用于组合材料芯片的高通量电化学表征的装置及方法

【技术保护点】
一种用于组合材料芯片的高通量电化学表征的装置,该装置包括上位机、电流电位扫描仪和测量电极,其特征在于,所述测量电极为丝束电极,所述丝束电极作为辅助电极和参比电极。

【技术特征摘要】
1.一种用于组合材料芯片的高通量电化学表征的装置,该装置包括上位机、电流电位扫描仪和测量电极,其特征在于,所述测量电极为丝束电极,所述丝束电极作为辅助电极和参比电极。2.根据权利要求1所述的装置,所述丝束电极为数目为100根的探针,直径为0.8mm;100根所述探针按1010的阵列规则排列,并且在每根探针的一端分别引出一根导线,各导线之间相互绝缘,用环氧树脂将探针密封固定,探头表面涂上一层琼脂。3.根据权利要求2所述的装置,所述探针采用Ag/AgCl材料制成。4.一种利用权利要求1-3任一项所述的装置的表征方法,其特征在于,该方具体包括以下步骤:步骤1:首先选取薄膜样品并对薄膜样品进行预处理,以处理后薄膜样品作为工作电极,并对丝束电极作为辅助电极和参比电极,将饱含NaCl溶液的薄绒布放在所述薄膜样品和丝束电极之间,以NaCl溶液作为电解质,然后采用电流电位扫描仪中的丝束电极测量,...

【专利技术属性】
技术研发人员:高克玮杨杨宿彦京庞晓露
申请(专利权)人:北京科技大学
类型:发明
国别省市:北京,11

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