【技术实现步骤摘要】
一种熔体中成分纯度分析装置
本技术涉及成分分析,尤其是涉及一种熔体中成分纯度分析装置。
技术介绍
成分检测是金属冶炼中的重要环节,现有的实时在线的成分检测装置,多采用金属成分分析仪是采用XRF(荧光光谱分析)原理,对金属材料成分进行快速检测的仪器。由于X射线波长很短,因此是不可见的。但它照射到某些化合物如磷、铂氰化钡、硫化锌镉、钨酸钙等时,由于电离或激发使原子处于激发状态,原子回到基态过程中,由于价电子的能级跃迁而辐射出可见光或紫外线,这就是荧光。X射线使物质发生荧光的作用叫荧光作用,荧光强弱与X射线量成正比。美国伊诺斯(INNOV-X)公司利用X射线荧光光谱分析仪原理推出世界第一台应用于金属材料检查的手持式金属成分分析仪Alpha-2000,该仪器能够快速分析金属材料成分及含量。在进行成分分析时需要取少量原料,由于熔体温度较高,取料较为麻烦。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种熔体中成分纯度分析装置,以解决现有技术中熔体直纺存在的上述问题。为达此目的,本技术采用以下技术方案:一种熔体中成分纯度分析装置,其包括架体,其中,所述架体底部设有金属成分分析仪,所述架体的上端设有槽道,所述槽道内设有支撑杆,所述支撑杆的两端设有轮毂电机,所述支撑杆的中间设有连接杆,所述连接杆与支撑杆转动连接,所述连接杆的下端设有取样装置,所述取样装置包括第一伸缩杆,所述第一伸缩杆的下端设有N型架,所述N型架的上端内壁安装有第二伸缩杆,所述N型架的下端固定在取样活塞,所述第二伸缩杆的下端固定有活塞环所述取样活塞的下端设有锥形储料箱。特别地,所述架体的内部设有置物板,所述置物板的上端面设有 ...
【技术保护点】
一种熔体中成分纯度分析装置,其特征在于,其包括架体,其中,所述架体底部设有金属成分分析仪,所述架体的上端设有槽道,所述槽道内设有支撑杆,所述支撑杆的两端设有轮毂电机,所述支撑杆的中间设有连接杆,所述连接杆与支撑杆转动连接,所述连接杆的下端设有取样装置,所述取样装置包括第一伸缩杆,所述第一伸缩杆的下端设有N型架,所述N型架的上端内壁安装有第二伸缩杆,所述N型架的下端固定在取样活塞,所述第二伸缩杆的下端固定有活塞环所述取样活塞的下端设有锥形储料箱。
【技术特征摘要】
1.一种熔体中成分纯度分析装置,其特征在于,其包括架体,其中,所述架体底部设有金属成分分析仪,所述架体的上端设有槽道,所述槽道内设有支撑杆,所述支撑杆的两端设有轮毂电机,所述支撑杆的中间设有连接杆,所述连接杆与支撑杆转动连接,所述连接杆的下端设有取样装置,所述取样装置包括第一伸缩杆,所述第一伸缩杆的下端设有N型架,所述N型架的上端内壁安装有第二伸缩杆,所述N型架的下端固定在取样活塞,所述第二伸缩杆的...
【专利技术属性】
技术研发人员:李群,高磊,胡胤杰,
申请(专利权)人:无锡聚新科技有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏,32
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