一种RFID标签介质影响的动态测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种RFID标签介质影响的动态测试系统，本系统基于控速轨道装置、标签固定托盘、介质环境模拟装置、伸缩调节支架、标签信号识别装置以及总控制器来实现。基于上述方案构成的移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试方案够综合测试介质影响下的移动速度指标检测，自动控制检测过程，可控性高，可重复性强，介质多样可调、并极大地提高检测效率，从而提高RFID系统在典型应用场景中规模化应用的增长率，且针对的介质多样规格化，结构简单，实现方法简便，操作便捷。

A dynamic testing system for RFID tag media effects

The dynamic testing system of the utility model discloses a RFID label media influence, the speed control system based on track device, label fixed tray, medium environment simulation device and a telescopic adjusting bracket, the tag signal recognition device and controller to achieve. The performance of the interference test scheme of mobile state consisting of the program under the RFID label detection speed index of medium - enough comprehensive test medium under the influence of automatic control, detection process, high controllability, repeatability, medium variety adjustable, and greatly improve the detection efficiency, so as to improve the application of RFID system in a typical scale the application of the scene of the growth rate, and for the medium variety specification, simple structure, convenient operation and easy realization.

【技术实现步骤摘要】
一种RFID标签介质影响的动态测试系统
本技术涉及射频识别(RFID)技术及其测试
，具体涉及对RFID标签介质影响进行移动测试技术。
技术介绍
从20世纪80年代兴起，RFID技术在国内外各行业应用范围正不断扩大。就中国而言，2014年RFID产业市场规模将达311亿元，并保持超过30％增长率的发展态势。随着国家物联网示范工程建设推进，RFID技术广泛应用于金融、物流、零售、交通、医疗、军事、图书、资产管理、公共安全等行业领域，其中RFID标签应用于电子不停车收费系统(ETC)、电子车牌识别、物流中自动化识别、分转运管理、生产线上自动化流水作业及人员出入自动识别管理等移动应用场景。在移动应用场景中，RFID标签介质不同且处于运动状态下能够与读写器进行通讯。为了实现RFID典型成功应用案例在大规模的移动应用场景中规模化推广，需要对RFID标签介质影响的移动速度指标进行测试。针对RFID标签的移动速度性能测试，一般有直线高速模拟的方法和高速旋转转速模拟的方法。针对RFID标签介质影响性能测试，一般有收发天线模拟信号的RFID介质基准测试系统。在现有的测试方法中，两个单项指标测试方法在标准RFID测试实验室中无法直接组合进行测试，移动速度测试结果一致性不可控，速度采用步长与实际应用中的速度值和GB/T2927-2012中表2规定存在不可调的偏差。传统的操作方法导致测试的局限性大、不连续、不同步、可控性较低，应用场景模拟失真较大，且测试效率低，有此极大地制约了大地制约了RFID系统在典型移动应用场景中规模化应用的增长率。
技术实现思路
针对现有RFID标签的移动速度性能测试技术所存在的问题，需要一种新的RFID标签介质影响的动态测试技术。为此，本技术所要解决的技术问题是提供一种RFID标签介质影响的动态测试系统，能够综合测试移动状态RFID标签抗介质干扰性能，且可操作性强，检测效率高。为了解决上述技术问题，本技术提供的一种RFID标签介质影响的动态测试系统，其包括：控速轨道装置，所述控速轨道装置以设定速度且匀速运动，以模拟待测RFID标签应用时的移动状态；标签固定托盘，所述标签固定托盘用于承载待测RFID标签，其安置在控速轨道装置上，并在控速轨道装置的驱动下沿控速轨道装置移动；介质环境模拟装置，所述介质环境模拟装置罩设在标签固定托盘上，模拟待测RFID标签应用时的介质环境；伸缩调节支架，所述伸缩调节支架对应的架设在控速轨道装置上；标签信号识别装置，所述标签信号识别装置对应的安置在控速轨道装置和/或伸缩调节支架上；总控制器，所述总控制器控制连接控速轨道装置以及标签信号识别装置。在测试系统中，所述控速轨道装置包括若干运动轨道、若干驱动电机、若干移动平台以及调速单元，若干运动轨道间水平相对设置；若干移动平台分别对应安置在若干运动轨道上，以承载待驱动设备；若干驱动电机分别驱动对应的运动轨道带动其上的移动平台运动；调速单元控制连接若干驱动电机，根据设置的速度来控制若干驱动电机，以分别驱动若干运动轨道带动其上的移动台沿着轨道均匀速度地来回移动，并实时显示每个移动平台的状态及相对速度。在测试系统中，所述调速单元为独立设置的调速控制器或为设置在总控制器中的调速控制模块。在测试系统中，所述标签固定托盘包括塑料支撑平板和固定塑料夹具，固定塑料夹具用于固定不同规格的待测标签。在测试系统中，所述介质环境模拟装置包括若干介质板以及介质板固定架，所述介质板固定架罩设在标签固定托盘上，若干介质板分布安插在介质板固定架上。在测试系统中，所述的介质板为各种尺寸，不同等级厚度且带孔的一种或一种以上的金属板、玻璃板、塑料板、木材板和纸材板。在测试系统中，所述介质板固定架为方形镂空框架，其上设置有用于安插介质板的固定机构以及与标签固定托盘固定连接且可调节的连接凹槽，所述固定机构以使介质板安插在方形镂空框架的各个面上；所述连接凹槽与标签固定托盘配合，以控制待测标签在介质板固定架内的位置，调整与介质板固定架上介质板的间距。在测试系统中，所述伸缩调节支架包括可升降高度的竖向支架、可横向伸缩的横向支架以及多向调节固定机构；所述竖向支架相对于控速轨道装置安置在其两侧，所述横向支架安装于竖向支架上；所述多向调节固定机构安置在竖向支架和/或横向支架上。在测试系统中，所述标签信号识别装置包括标准读写器和/或矢量信号发生器。基于上述方案构成的移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试方案够综合测试介质影响下的移动速度指标检测，自动控制检测过程，可控性高，可重复性强，介质多样可调、并极大地提高检测效率，从而提高RFID系统在典型应用场景中规模化应用的增长率，且针对的介质多样规格化，结构简单，实现方法简便，操作便捷。附图说明以下结合附图和具体实施方式来进一步说明本技术。图1为本技术实例中移动状态下RFID标签抗介质干扰性能测试系统的结构示意图；图2为本技术实例中移动平台的结构示意图；图3为本技术实例中介质环境模拟装置的结构示意图；图4为本技术实例中介质板的结构示意图；图5为本技术实例中伸缩调节支架的结构示意图；图6为本技术实例中四轨道测试系统的结构示意图。具体实施方式为了使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本技术。参见图1，其所示为本实例中移动状态下RFID标签抗介质干扰性能测试系统的组成结构图。由图可知，该测试系统100主要包括控速轨道装置110、标签固定托盘120、介质环境模拟装置130、伸缩调节支架140、标签信号识别装置以及总控制器。其中，控速轨道装置110用于模拟待测RFID标签应用时的移动状态，其以设定速度且匀速运动。标签固定托盘120，用于承载待测RFID标签，其安置在控速轨道装置110上，并在控速轨道装置的驱动下带动待测RFID标签沿控速轨道装置移动，以便进行测试。介质环境模拟装置130罩设在标签固定托盘上，用于模拟待测RFID标签应用时的介质环境。伸缩调节支架140，其架设在控速轨道装置110上，用于固定标签信号识别装置，以模拟待测RFID标签不同应用场景中对应的标签信号识别装置的安装位置。标签信号识别装置，其根据需要对应的安置在控速轨道装置110和/或伸缩调节支架140上，以模拟待测RFID标签不同应用场景中的信号识别装置。总控制器，其控制连接控速轨道装置以及标签信号识别装置，协调它们之间配合工作，以实现对移动状态下RFID标签抗介质干扰性能的自动、快速测试。基于上述的原理方案，本实例还进一步提供具体的实施方案，具体如下：本测试系统中的控速轨道装置110，其包括接收端高速运动轨道111、发射端高速运动轨道112、驱动电机113、114、移动平台115、116以及调速单元。驱动电机113、114分别驱动连接接收端高速运动轨道111、发射端高速运动轨道112，以驱动接收端高速运动轨道111、发射端高速运动轨道112按照设定速度进行高速且匀速运动。移动平台115、116分别安置在接收端高速运动轨道111、发射端高速运动轨道112上，并在接收端高速运动轨道111、发射端高速运动轨道112的驱动下分别沿接收端高速运动轨道111、发射端高速本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种RFID标签介质影响的动态测试系统，其包括：控速轨道装置，所述控速轨道装置以设定速度且匀速运动，以模拟待测RFID标签应用时的移动状态；标签固定托盘，所述标签固定托盘用于承载待测RFID标签，其安置在控速轨道装置上，并在控速轨道装置的驱动下沿控速轨道装置移动；介质环境模拟装置，所述介质环境模拟装置罩设在标签固定托盘上，模拟待测RFID标签应用时的介质环境；伸缩调节支架，所述伸缩调节支架对应的架设在控速轨道装置上；标签信号识别装置，所述标签信号识别装置对应的安置在控速轨道装置和/或伸缩调节支架上；总控制器，所述总控制器控制连接控速轨道装置以及标签信号识别装置。

【技术特征摘要】
1.一种RFID标签介质影响的动态测试系统，其包括：控速轨道装置，所述控速轨道装置以设定速度且匀速运动，以模拟待测RFID标签应用时的移动状态；标签固定托盘，所述标签固定托盘用于承载待测RFID标签，其安置在控速轨道装置上，并在控速轨道装置的驱动下沿控速轨道装置移动；介质环境模拟装置，所述介质环境模拟装置罩设在标签固定托盘上，模拟待测RFID标签应用时的介质环境；伸缩调节支架，所述伸缩调节支架对应的架设在控速轨道装置上；标签信号识别装置，所述标签信号识别装置对应的安置在控速轨道装置和/或伸缩调节支架上；总控制器，所述总控制器控制连接控速轨道装置以及标签信号识别装置。2.根据权利要求1所述的一种RFID标签介质影响的动态测试系统，其特征在于，所述控速轨道装置包括若干运动轨道、若干驱动电机、若干移动平台以及调速单元，若干运动轨道间水平相对设置；若干移动平台分别对应安置在若干运动轨道上，以承载待驱动设备；若干驱动电机分别驱动对应的运动轨道带动其上的移动平台运动；调速单元控制连接若干驱动电机，根据设置的速度来控制若干驱动电机，以分别驱动若干运动轨道带动其上的移动台沿着轨道均匀速度地来回移动，并实时显示每个移动平台的状态及相对速度。3.根据权利要求2所述的一种RFID标签介质影响的动态测试系统，其特征在于，所述调速单元为独立设置的调速控制器或为设置在总控制器中的调速控制模块。4.根据权利要求1所述的一种RFID标签介质影响的动态测试系...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘彩霞，张振一，洪垚，
申请(专利权)人：公安部第三研究所，
类型：新型
国别省市：上海,31