倾斜式硅针尖及其制作方法技术

本发明专利技术公开了一种倾斜式硅针尖及其制作方法。所述针尖为三棱锥体，并具有第一倾斜面、第二倾斜面、第三倾斜面和底面，且所述第一倾斜面、第二倾斜面和第三倾斜面中至少两者与底面的夹角不相等。所述制作方法包括：在硅片上采用各向同性的刻蚀工艺加工形成所述倾斜式硅针尖的第一、第二倾斜面，之后在第一、第二倾斜面上设置保护层，再采用刻蚀工艺在所述硅片上加工形成第三倾斜面，获得目标产物。本发明专利技术提供了一种不同于传统硅针尖的倾斜式硅针尖，其能满足近场光学对实时观测的需求，且其制作方法简单，原料廉价易得，适于进行大规模生产，为硅针尖的推广和应用提供了一种新的路径。

Inclined silicon tip and its making method

The invention discloses an inclined silicon tip and a manufacturing method thereof. The tip is three pyramid, and has a first inclined surface and second inclined planes and third inclined surface and the bottom surface, wherein the first inclined plane and second inclined planes and third in at least two inclined surface and the bottom surface of the angle are not equal. Including the production method: first, second by isotropic etching process on silicon wafer to form the inclined silicon tip inclination, after the protective layer is arranged in the first and second inclined planes, and then using the etching process in the silicon wafer processing form third inclined plane, to obtain the target product. The invention provides a tilt type silicon tip is different from the traditional silicon tip, which can meet the demand of real-time observation of near-field optics, and its production method is simple, cheap and easily available raw materials, suitable for large-scale production, for the promotion and application of silicon tip provides a new path.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术主要涉及一种硅针尖，尤其涉及一种倾斜式硅针尖及其制作方法，属于微纳器件制备领域。
技术介绍
近年来，硅基纳米针尖在原子力显微镜探针、真空微电子器件、场发射器件、高密度数据存储器件、纳米级图形加工及微机械隧道传感器中得到广泛应用，硅基纳米针尖是上述器件的关键构件，这些器件性能的优劣取决于纳米针尖的曲率半径和针形。以原子力显微镜为例，硅针尖纵横比越大，曲率半径越小，原子力显微镜分辨率越高，因此研究硅基纳米针尖的制作有重要意义。目前制备硅基纳米针尖的常用方法有干法刻蚀、气－液－固生长和湿法腐蚀等三种。其中气－液－固生长法可制备直径小于2μm，纵横比大于15的超长硅基纳米针尖，但其曲率半径较大。目前广泛采用的各向异性湿法腐蚀单晶硅制备硅基纳米针尖的工艺，具有工艺简单，刻蚀速率均匀，成本较低廉等优点，但针尖的形状以及取向受晶向限制。干法刻蚀工艺刻蚀硅基纳米针尖可实现较大的纵横比，但工艺结果取决于每一个可能的工艺参数变化。上述现有工艺制备的硅针尖基本上都是垂直方向的针尖，其无法满足近场光学对实时观测的需求。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种倾斜式硅针尖及其制作方法，以克服现有技术中的不足。为实现前述专利技术目的，本专利技术采用了如下的技术方案：在一些实施例中提供了一种倾斜式硅针尖，其为三棱锥体，并具有第一倾斜面、第二倾斜面、第三倾斜面和底面，且所述第一倾斜面、第二倾斜面和第三倾斜面中至少两者与底面的夹角不相等。进一步的，所述第一倾斜面与底面的夹角为55°～80°，第二倾斜面与底面的夹角为55°～80°，第三倾斜面与底面的夹角为45°～75°。进一步的，所述针尖的高度为5μm～50μm。进一步的，所述针尖的曲率半径为1～20nm。进一步的，所述第一倾斜面、第二倾斜面与底面的夹角相等。在一些实施例中提供了一种倾斜式硅针尖的制作方法，其包括：在硅片上采用各向同性的刻蚀工艺加工形成所述倾斜式硅针尖的第一、第二倾斜面，之后在第一、第二倾斜面上设置保护层，再采用刻蚀工艺在所述硅片上加工形成第三倾斜面，获得所述倾斜式硅针尖。在一些实施例中，所述的制作方法具体包括：Ⅰ、在(100)或(111)型硅片上设置光刻胶掩模；Ⅱ、采用各向同性的干法刻蚀工艺在所述硅片上刻蚀形成所述探针的第一、第二倾斜面；Ⅲ、去除所述硅片的光刻胶，并在所述硅片表面设置二氧化硅层作为保护层，以保护所述第一、第二倾斜面；Ⅳ、在所述保护层上加工形成第三倾斜面的刻蚀窗口；Ⅴ、采用湿法腐蚀工艺自所述刻蚀窗口腐蚀硅片表面而形成第三倾斜面；Ⅵ、采用氧化方法进行所述针尖的锐化，再除去残留的保护层，获得所述倾斜式针尖。进一步的，所述干法刻蚀工艺包括ICP干法刻蚀，RIE干法刻蚀和DRIE干法刻蚀工艺中的任意一种，且不限于此。进一步的，所述的制作方法可以包括：采用氧化法于所述硅片表面形成作为保护层的二氧化硅层；或者，采用物理或化学沉积法于所述硅片表面形成作为保护层的二氧化硅层。进一步的，步骤Ⅳ可以包括：采用光刻及湿法腐蚀工艺于所述氧化层上形成第三倾斜面的刻蚀窗口。进一步的，步骤Ⅵ可以包括：采用湿法腐蚀工艺除去残留的保护层。进一步的，所述湿法腐蚀工艺包括KOH刻蚀和TMAH刻蚀中的任意一种，且不限于此。与现有技术相比，本专利技术的优点包括：提供了一种不同于传统硅针尖的倾斜式硅针尖，其能满足近场光学对实时观测的需求，且其制作方法简单，原料廉价易得，适于进行大规模生产。附图说明图1为本专利技术一典型实施案例中一种倾斜式硅针尖的结构示意图；图2为本专利技术一典型实施案例中一种倾斜式硅针尖的制作工艺流程示意图；图中各附图标记的含义如下：1～倾斜面1，2～倾斜面2，3～倾斜面3，4～光刻胶掩模，5～(100)或(111)型硅片，6～二氧化硅保护层，7～倾斜式针尖。具体实施方式如前所述，鉴于现有技术中的不足，本案专利技术人经长期研究和大量实践，特提出本专利技术的技术方案，并获得了出乎意料的良好技术效果。如下将结合实施例及附图对本专利技术的技术方案进行较为详细的解释说明。请参阅图1-2，其示出了本专利技术的一典型实施案例。进一步的，请参阅图1，该实施案例涉及一种倾斜式硅针尖，其为三棱锥体，并具有第一倾斜面、第二倾斜面、第三倾斜面和底面，且所述第一倾斜面、第二倾斜面和第三倾斜面中至少两者与底面的夹角不相等。其中，所述第一倾斜面与底面的夹角为55°～80°，第二倾斜面与底面的夹角为55°～80°，第三倾斜面与底面的夹角为45°～75°。进一步的，所述针尖的高度为5μm～50μm，曲率半径为1～20nm。进一步的，所述第一倾斜面、第二倾斜面与底面的夹角可以相等。而再请参阅图2，该倾斜式硅针尖的制作工艺可以包括：采用(100)型硅片为原料，首先在硅片上应用各向同性的干法刻蚀工艺形成探针针尖的两个倾斜面，之后应用氧化的方法在刻蚀出的倾斜表面上形成一层氧化层作保护层，最后采用湿法腐蚀形成第三个倾斜面，即可得到目标产物。进一步的，所述的倾斜式硅针尖的制作方法具体包括以下步骤：Ⅰ、采用(100)或(111)型硅片为衬底，在硅表面甩一层光刻胶做掩模，光刻出针尖位置；Ⅱ、采用干法刻蚀工艺在刻蚀出探针的第一、第二倾斜面；Ⅲ、采用丙酮去除光刻胶；Ⅳ、清洗后在硅片表面氧化或沉积一层二氧化硅氧化层，保护已经刻蚀出的两个侧面；Ⅴ、采用光刻及BOE腐蚀形成第三个倾斜面的刻蚀窗口；Ⅵ、应用湿法腐蚀工艺腐蚀出第三个倾斜面；Ⅶ、采用氧化的方法进行针尖的锐化，采用BOE腐蚀去除氧化层，即可得到所述倾斜式针尖。前述的光刻工艺、湿法刻蚀工艺、干法刻蚀工艺、针尖自锐化方法均可选用业界已知的合适方式实施，而其相应工艺条件等也可以是业界悉知的合适条件。例如，其中的湿法刻蚀工艺可以选用KOH刻蚀和TMAH刻蚀工艺中的任何一种。其中的干法刻蚀工艺可以选用ICP干法刻蚀，RIE干法刻蚀和DRIE干法刻蚀工艺中的任何一种。本专利技术提供了一种新的倾斜式硅针尖以及一种新的硅针尖制作工艺，该工艺简单易实施，成本低廉，为硅针尖的推广和应用提供了一种新的路径。应当理解的是，本专利技术可用其他的不违背本专利技术的精神或主要特征的具体形式来概述。因此，无论从哪一点来看，本专利技术的上述实施例仅是对本专利技术的说明而不能限制本专利技术，权利要求书指出了本专利技术的范围，而上述的说明并未指出本专利技术的范围，因此在与本专利技术的权利要求书相当的含义和范围内的任何改变，都应认为是包括在权利要求书的范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种倾斜式硅针尖，其特征在于所述针尖为三棱锥体，并具有第一倾斜面、第二倾斜面、第三倾斜面和底面，且所述第一倾斜面、第二倾斜面和第三倾斜面中至少两者与底面的夹角不相等。

【技术特征摘要】
1.一种倾斜式硅针尖，其特征在于所述针尖为三棱锥体，并具有第一倾斜面、第二倾斜面、第三倾斜面和底面，且所述第一倾斜面、第二倾斜面和第三倾斜面中至少两者与底面的夹角不相等。2.根据权利要求1所述的倾斜式硅针尖，其特征在于：所述第一倾斜面与底面的夹角为55°～80°，第二倾斜面与底面的夹角为55°～80°，第三倾斜面与底面的夹角为45°～75°；和/或，所述针尖的高度为5μm～50μm；和/或，所述针尖的曲率半径为1～20nm。3.根据权利要求1或2所述的倾斜式硅针尖，其特征在于所述第一倾斜面、第二倾斜面与底面的夹角相等。4.一种倾斜式硅针尖的制作方法，其特征在于包括：在硅片上采用各向同性的刻蚀工艺加工形成所述倾斜式硅针尖的第一、第二倾斜面，之后在第一、第二倾斜面上设置保护层，再采用刻蚀工艺在所述硅片上加工形成第三倾斜面，获得所述倾斜式硅针尖。5.根据权利要求4所述的制作方法，其特征在于包括：Ⅰ、在(100)或(111)型硅片上设置光刻胶掩模；Ⅱ、采用各向同性的干法刻蚀工艺在所述硅片上刻蚀形成所述探针的第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：李加东，苗斌，吴东岷，
申请(专利权)人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所，
类型：发明
国别省市：江苏;32