系统可以包括：测试和测量工具，所述测试和测量工具被配置成用于生成测量数据；成像工具，所述成像工具被配置成用于生成图像数据；以及处理器，所述处理器与所述成像工具和所述测试和测量工具通信。所述处理器可被配置成用于从所述成像工具接收图像数据，并且如果所述图像数据满足一个或多个预定条件则触发所述测试和测量工具执行一个或多个相应的操作。类似地，所述处理器可从所述测试和测量工具接收测量数据，并且如果所述测量数据满足一个或多个预定条件则触发所述成像工具执行一个或多个相应的操作。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】交叉引用本申请要求于2014年11月6日提交的美国临时申请号62/076,088以及于2014年9月17日提交的美国临时申请号62/051,930的权益，所述申请的内容通过引用以其全文结合在此。
技术介绍
各种参数和其他数据在对装备的操作进行监测时可以是有用的。例如，装备的电特性可提供有关装备的功耗的有价值的信息。电能质量测量可用于确定有关功率系统的操作条件的信息。其他数据（诸如温度数据（例如，来自红外相机、热电偶或其他温度测量设备））可提供有关电系统内潜在故障地点的附加细节。由于许多数据流可用于对装备的操作条件和/或质量进行监测，因此，可以使用多个传感器对系统进行监测。例如，技术人员可周期性地访问一个地点并执行各种测量以便监测装备在所述点的操作。为了消除这种高成本的要求，可设置多件监测装备以便继续监测系统的各种性质。然而，操作这种装备的成本和数据存储要求可对系统的资源造成不必要的负担。
技术实现思路
本专利技术的实施例涉及用于采集测量数据和/或图像数据的系统和方法。系统可包括被配置成用于生成测量数据的测试和测量工具以及被配置成用于生成图像数据的成像工具。在一些示例中，与所述成像工具以及所述测试和测量工具通信的处理器可被配置成用于从所述成像工具接收图像数据。在所述接收的图像数据满足一个或多个预定条件的情况下，所述处理器可触发所述测试和测量工具执行一个或多个相应的操作。在一些示例中，所述成像工具可生成表示来自目标场景的红外辐射的红外图像数据。在一些这种实施例中，所述图像数据满足一个或多个预定条件可包括温度条件。所述一个或多个相应的操作可包括各种任务，诸如执行特定类型的测量或者调节测量特性。例如，所述一个或多个相应的操作可包括调节测量的频率、测量的持续时间、或由所述测试和测量工具执行的测量的类型。另外地或可替代地，所述处理器可被配置为使得：在所述接收的测量数据满足一个或多个预定条件的情况下，所述处理器可触发所述成像工具执行一个或多个相应的操作。所述一个或多个预定条件可涉及各种测量数据，诸如被测物体的电参数。例如，在各实施例中，所述一个或多个预定条件可包括电阻、电流、或电压条件中的至少一项。在一些实施例中，所述一个或多个触发操作可包括以下各项中的一项或多项：触发捕获单张图像；触发捕获多张图像；触发开启视频录制；或者触发停止视频录制。所述处理器可另外地或可替代地基于接收到的信息来确定由于被测物体的热量消散而损失的电能或能量的量。例如，所述处理器可基于所述测量数据和图像数据中的一者或两者对被测物体上所存在的负载进行分析。在一些这种示例中，所述处理器被配置成用于确定在发生潜在安全隐患之前可被施加到所述被测物体上的附加负载量。在各实施例中，由所述处理器确定的任何信息可被处理并且准备向用户显示。附图说明图1A和图1B提供了包括测试和测量工具以及成像工具的示例性系统的前视图和后视图。图2是包括各种部件的测试和测量工具的示例性示意图。图3示出了根据一些示例性系统的被配置成用于接收电磁辐射的成像工具的示例框图。图4是集成的成像与测试和测量工具的示例性实施例。图5是包括成像工具以及测试和测量工具的示例性系统的视图。图6展示了根据一些实施例的示例性系统。图7示出了能够生成图像数据和测量数据中的一者或两者的各种工具和附件。图8示出了包括分离的成像工具与测试和测量工具的系统。图9示出了包括用于对电系统进行监测的多个工具的示例性系统。图10是示出组合的图像和测量数据的示例性显示器。具体实施方式本专利技术的实施例总体上涉及用于利用成像工具来调节或操作测试和测量工具的方法和设备，包括例如电能质量装备。示例性测试和测量工具可包括但不限于：数字万用表、电能质量工具、电流测量工具、振动工具、便携式示波器工具、激光对准工具、超声波测试工具、绝缘电阻测试器、多功能电测试工具、单功能电测试工具、触点温度测量工具、湿度测量工具、气流测量工具、气温测量工具、空气质量和颗粒测量工具、压力测量工具、气体检测器和分析器。各种测试和测量工具可包括测试和测量工具被配置为用于执行的一个或多个主要功能。在一些示例中，测试和测量工具的主要功能可包括执行一种或多种主要测量。例如，一些电流测量工具的主要功能可包括测量电流。在一些实施例中，成像工具可包括一个或多个相机、传感器、或其他成像设备（通常被称为成像设备）。成像工具的一个或多个成像设备可能够检测可见光（VL）、近红外（NIR）、短波长红外（SWIR）、长波长红外（LWIR）、太赫兹（THz）、紫外线（UV）、X射线、或其他波长的任意组合。在一些示例中，所述一个或多个成像设备被配置成用于生成表示至少部分重叠的目标场景的图像数据。成像工具可包括用于捕获基本上相同或重叠的场景的多张图像的一个或多个相机（例如，红外（IR）相机和VL相机）。通常，成像工具可以任何数量的方式与测试和测量工具进行通信，例如，如在2015年9月16日提交并且题为“TESTANDMEASUREMENTSYSTEMWITHREMOVABLEIMAGINGTOOL（具有可移除成像工具的测试和测量系统）”的美国专利申请号14/855,884中描述的，所述申请被转让给本申请的受让人，并且所述申请通过引用以其全文结合在此。通信可以是有线的或无线的。在一些示例中，成像工具可内置到测试和测量工具中或者以其他方式永久地或可移除地附接至测试和测量工具上，例如，如在2015年9月16日提交并且题为“METHODOFATTACHINGCAMERAORIMAGINGSENSORTOTESTANDMEASUREMENTTOOLS（将相机或成像传感器附接至测试和测量工具的方法）”的美国专利申请号14/855,844中描述的，所述申请被转让给本申请的受让人，并且所述申请通过引用以其全文结合在此。图1A和图1B提供了包括测试和测量工具以及成像工具的示例性系统的前视图和后视图。图1A和图1B的实施例包括被组合成单个组合工具120的测试和测量工具100以及成像工具110。在所展示的实施例中，测试和测量工具100包括成像工具110通过其进行操作的后表面102。在一些示例中，成像工具110可包括多个感测部件。例如，成像工具110可以包括红外（IR）相机和可见光（VL）相机中的一者或两者。将认识到的是，各种成像工具（诸如110）可包括能够检测各种波长的适当的传感器的任意组合。在图1A和图1B的示例中，成像工具110集成到测试和测量工具100中。也就是说，图1的系统示出了具有一体式测试和测量工具100和成像工具110的组合工具120。成像工具110包括能够检测一个或多个波长范围的辐射的相机。如所描述的，成像工具110可以包括用于检测不同波长谱的辐射的多个相机。在一些示例中，成像工具可以包括多个传感器阵列，每个传感器阵列对不同范围的波长敏感。一些这种实施例包括用于对入射至成像工具的光进行分离并且将某些波长范围内的光基本上引导至相应的传感器阵列的光学器件。图1A和图1B的组合工具120可以被配置成用于基本上同时生成图像数据和测量数据。在一些示例中，组合工具120包括能够呈现图像数据、测量数据、或其他信息中的一项或多项的显示器（未示出）。另外地或可替代地，测试和测量工具100、成像工具110本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种系统，包括：测试和测量工具，所述测试和测量工具被配置成用于生成测量数据；成像工具，所述成像工具被配置成用于生成图像数据；以及处理器，所述处理器与所述成像工具以及所述测试和测量工具通信，所述处理器被配置成用于：(i) 从所述成像工具接收图像数据；以及 (ii) 在所述接收的图像数据满足一个或多个预定条件的情况下触发所述测试和测量工具执行一个或多个相应的操作。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.09.17 US 62/051930;2014.11.06 US 62/076088;201.一种系统，包括：测试和测量工具，所述测试和测量工具被配置成用于生成测量数据；成像工具，所述成像工具被配置成用于生成图像数据；以及处理器，所述处理器与所述成像工具以及所述测试和测量工具通信，所述处理器被配置成用于：(i)从所述成像工具接收图像数据；以及(ii)在所述接收的图像数据满足一个或多个预定条件的情况下触发所述测试和测量工具执行一个或多个相应的操作。2.如权利要求1所述的系统，其中，所述成像工具包括所述处理器。3.如权利要求1所述的系统，其中，所述测试和测量工具与所述成像工具被组合成单个装置。4.如权利要求1所述的系统，其中，所述成像工具被配置成用于检测来自目标场景的红外（IR）能量并生成与所述检测的IR能量相对应的IR图像数据。5.如权利要求4所述的系统，其中，所述一个或多个预定条件包括由来自所述目标场景的检测到的IR能量所满足的报警条件。6.如权利要求4所述的系统，其中，所述处理器进一步被配置成用于基于来自所述目标场景的检测到的IR能量来确定作为热量从被测物体消散的电能量，并且其中，所述一个或多个预定条件包括所述确定的作为热量消散的电能量满足阈值。7.如权利要求1所述的系统，其中，所述测试和测量工具被配置成用于响应于在所述图像数据中检测到的温度报警而执行电能质量测量。8.如权利要求1所述的系统，其中，由所述测试和测量工具执行的所述一个或多个操作可包括调节测量的频率、测量的持续时间、或由所述测试和测量工具执行的测量的类型的任意组合。9.如权利要求1所述的系统，进一步包括：显示器，所述显示器被配置成用于显示所述图像数据与所述测量数据两者之一。10.如权利要求9所述的系统，其中，所述显示器被并入到所述成像工具或者所述测试和测量工具中的至少一项中。11.如权利要求9所述的系统，其中，所述显示器和所述处理器中的一者或两者包括在与所述测试和测量工具以及所述成像工具分离的外部设备中。12.一种系统，包括：测试和测量工具，所述测试和测量工具被配置成用于生成测量数据；成像工具，所述成像工具被配置成用于生成图像数据；以及处理器，所述处理器与所述成像工具以及所述测...
【专利技术属性】
技术研发人员：MD斯图尔特，PH黑伦，JV费兰特，MA肖赫，HG哈蒙德，
申请(专利权)人：弗兰克公司，
类型：发明
国别省市：美国;US
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