用于校准X射线机管电流非介入测量装置的脉冲发生器制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了用于校准X射线机管电流非介入测量装置的脉冲发生器，包括波形发生模块、功率放大模块、电流采样模块以及输出模块，所述波形发生模块的信号输出端与功率放大模块的信号输入端连接，功率放大模块的信号输出端与电流采样模块的信号输入端连接，电流采样模块的信号输出端与输出模块的信号输入端连接；所述输出模块包括输出单元和负载单元，输出单元与电流采样模块连接，且输出单元与负载单元串联，输出单元为导线，负载单元为负载电阻。本实用新型专利技术采用上述结构，能够满足计量特性中重复性、复现性要求，开展校准工作时既无放射线产生又节能低耗绿色环保。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于校准X射线机管电流非介入测量装置的脉冲发生器。
技术介绍
对X射线机管电流和曝光时间进行测量，常用于医院作影像质量控制、技术监督部门作运行的质量控制，对X射线机生产、安装调试、故障检查维修也具有一定的现实意义。随着技术水平的发展，采用非介入测量装置来完成该项测量也越来越多（例如：201210075279.0《便携式X射线机管电流非介入测量仪》，201310003388.6《X射线机曝光时间非介入测量的装置及方法》）。然而，作为计量测量仪器的管电流非介入测量装置需要进行校准。目前根据相关校准规范进行校准时，主要使用医用X射线机作为脉冲电流发生器，其不足为：（1）溯源困难；（2）进行校准时医用X射线机会有射线产生，因而工作场地须做辐射防护处理，X射线机一般均安装在屏蔽室内，从而在测量X射线机管电流时，工作人员为避免被辐射，须撤离到安全的地方（例如：控制室），操作极其不方便；（3）X射线机工作时消耗电功率高达kw，不利于绿色环保节能；（4）全国各地在建立校准实验室时，即使采用同一厂商生产的同一型号的X射线机，其参数也有离散性，对校准结果会有一定影响；（5）采用某一特定型号的X射线机，其电流波形参数是特定的（如：脉冲形状，上升时间，下降时间等），在该种校准条件下校准后的管电流非介入测量装置对其他型号的X射线机（特别是不同电流波形的X射线机）是否适用，有待论证。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于校准X射线机管电流非介入测量装置的脉冲发生器，该脉冲发生器既能溯源又满足计量特性中重复性、复现性要求，开展校准工作时又无放射线产生，而且绿色环保节能低耗电功率。本技术是通过以下技术方案来实现的：用于校准X射线机管电流非介入测量装置的脉冲发生器，包括波形发生模块、功率放大模块、电流采样模块以及输出模块，所述波形发生模块的信号输出端与功率放大模块的信号输入端连接，功率放大模块的信号输出端与电流采样模块的信号输入端连接，电流采样模块的信号输出端与输出模块的信号输入端连接；所述输出模块包括输出单元和负载单元，输出单元与电流采样模块连接，且输出单元与负载单元串联，输出单元为导线，负载单元为负载电阻。进一步地，作为优选方案，所述导线为多股导线。进一步地，作为优选方案，所述多股导线为带绝缘层的漆包线。进一步地，作为优选方案，所述负载电阻为无感电阻。进一步地，作为优选方案，所述波形发生模块包括通讯单元、CPU单元、FPGA单元、SRAM单元和D/A单元；通讯单元与CPU单元连接，用于从上位机下载任意波形数据；CPU单元与FPGA单元连接，用于对FPGA进行现场配置、对FPGA进行读写控制、根据波形特征参数和/或逐点数据产生D/A使用的波形数据并将该数据写入SRAM，CPU单元内设计有大容量FLASH，用于存放FPGA配置文件和内置波形特征参数及波形逐点数据；FPGA单元与SRAM单元连接，在CPU单元的控制下，通过FPGA单元将波形数据写入SRAM，产生波形时，FPGA单元直接从SRAM单元读出波形数据送往D/A单元；FPGA单元与D/A单元连接，FPGA单元从D/A单元读取数据的模式为DMA模式，产生波形时，FPGA单元直接从SRAM单元读出波形数据送往D/A单元，D/A单元输出波形信号送往功率放大模块。进一步地，作为优选方案，所述波形发生模块包括两个D/A单元，一个D/A单元用于低频率信号产生，另一个D/A单元用于高频率信号产生。进一步地，作为优选方案，所述功率放大模块包括功率放大器、启动静音单元和输出电压检测单元，启动静音单元的信号输入端与波形发生模块的信号输出端连接，启动静音单元的信号输出端与功率放大器的控制端连接。本技术的有益效果是：本技术既满足计量特性中重复性、复现性要求，开展校准工作时既无放射线产生又节能低耗绿色环保。附图说明图1为本技术实施例1的结构示意图；图2为实施例1中输出单元与被校准钳形电流表的连接示意图；图3为本技术实施例3的结构示意图；图4为实施例3中输出单元与被校准钳形电流表的连接示意图；图5为模拟单相工频半波整流射线机工作电流的示意图；图6为模拟单相工频全波整流射线机工作电流的示意图；图7为模拟三相工频全波整流射线机工作电流的示意图；图8为模拟高频射线机工作电流叠加有纹波的矩形电流波形的示意图；图9为用自定义任意波形模拟变频射线机斩波输出电流波形的示意图；图10为实施例1波形发生模块的结构示意图；图11为实施例3波形发生模块的结构示意图；图12为功率放大模块的结构示意图；图13为输出电压检测单元的结构示意图。图中附图标记对应的名称是：101、工频交流A相，102、工频交流B相，103、工频交流C相，105、输出电流时间控制波形，106、无纹波叠加的矩形电流波形，107、变频斩波X射线机管电压波形，108、输出电流波形，201、输出单元1，202、输出单元2，203、钳形电流表。具体实施方式【实施例1】下面结合实施例对本技术作进一步的详细说明，但是本技术的结构不仅限于以下实施例：如图1所示，本实施例所述的用于校准X射线机管电流非介入测量装置包括波形发生模块、功率放大模块、采样模块、输出模块，波形发生模块与功率放大模块连接，功率放大模块与采样模块连接，采样模块与输出模块连接；如图10所示，本实施例的波形发生模块包括通讯单元、CPU单元、FPGA单元、SRAM单元和D/A单元；通讯单元与CPU单元连接，用于从上位机下载任意波形数据等；CPU单元与FPGA单元连接，用于对FPGA进行现场配置、对FPGA进行读写控制、根据波形特征参数和/或逐点数据产生D/A使用的波形数据并将该数据写入SRAM等，CPU单元内设计有大容量FLASH，用于存放FPGA配置文件和内置波形特征参数及波形逐点数据；FPGA单元与SRAM单元连接，在CPU单元的控制下，通过FPGA单元将波形数据写入SRAM，产生波形时，FPGA单元直接从SRAM单元读出波形数据送往D/A单元；FPGA单元与D/A单元连接，FPGA单元从D/A单元读取数据的模式为DMA模式，即：产生波形时，FPGA单元直接从SRAM单元读出波形数据送往D/A单元，D/A单元输出波形信号送往功率放大模块，D/A单元既可输出正极性又可输出负极性波形信号；具体方法为矩形电流波形由CPU根据脉冲幅度、脉冲宽度、脉冲上升时间、脉冲下降等波形特征参数，直接控制FPGA单元，FPGA单元按照波形特征参数控制D/A输出波形，脉冲幅度代表管电流，脉冲宽度代表曝光时间，脉冲宽度宽则信号频谱窄，脉冲宽度窄则信号频谱宽，通过改变脉冲输出宽度由宽到窄，待校准的管电流非介入测量装置的读数逐步减小，当读数减小到规定值时，则得到管电流非介入测量装置可以本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于校准X射线机管电流非介入测量装置的脉冲发生器，其特征在于：包括波形发生模块、功率放大模块、电流采样模块以及输出模块，所述波形发生模块的信号输出端与功率放大模块的信号输入端连接，功率放大模块的信号输出端与电流采样模块的信号输入端连接，电流采样模块的信号输出端与输出模块的信号输入端连接；所述输出模块包括输出单元和负载单元，输出单元与电流采样模块连接，且输出单元与负载单元串联，输出单元为导线，负载单元为负载电阻。

【技术特征摘要】
1.用于校准X射线机管电流非介入测量装置的脉冲发生器，其特征在于：包括波形发生模块、功率放大模块、电流采样模块以及输出模块，所述波形发生模块的信号输出端与功率放大模块的信号输入端连接，功率放大模块的信号输出端与电流采样模块的信号输入端连接，电流采样模块的信号输出端与输出模块的信号输入端连接；
所述输出模块包括输出单元和负载单元，输出单元与电流采样模块连接，且输出单元与负载单元串联，输出单元为导线，负载单元为负载电阻。
2.根据权利要求1所述的用于校准X射线机管电流非介入测量装置的脉冲发生器，其特征在于：所述导线为多股导线。
3.根据权利要求2所述的用于校准X射线机管电流非介入测量装置的脉冲发生器，其特征在于：所述多股导线为带绝缘层的漆包线。
4.根据权利要求1所述的用于校准X射线机管电流非介入测量装置的脉冲发生器，其特征在于：所述负载电阻为无感电阻。
5.根据权利要求1所述的用于校准X射线机管电流非介入测量装置的脉冲发生器，其特征在于：所述波形发生模块包括通讯单元、CPU单元、FPGA单元、SRAM单元和D/A单元；
通讯单元与CPU单元连接，用于从上位机下载任意波形数据；
CPU单元与FPGA单元连接，用于对FPGA进...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘志宏，
申请(专利权)人：刘志宏，
类型：新型
国别省市：四川;51