一种调试方法、应用该方法的电子产品及调试卡技术

本发明专利技术公开了一种电子产品的调试方法，包括：S10判断电子产品是否处于正常使用状态；当电子产品处于正常使用状态时，复用选择器将I/O接口与存储控制器选择连通；S20当电子产品不处于正常使用状态时，判断电子产品是否处于调试状态；当电子产品处于调试状态时，复用选择器将I/O接口与调试控制器选择连通；S30通过与调试控制器选择连通的I/O接口，调试所述电子产品。本发明专利技术能够减少集成电路引脚消耗和电子产品的芯片面积，并且调试工具对进行调试，不需要拆机和引测试信号线，能够针对一些低概率异常现象进行调试，效果更好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及调试领域，特别是涉及一种调试方法、应用该方法的电子产品及调试卡。
技术介绍
在常规电子产品开发流程中，开发人员通过预留在电路板上的JTAG接口和UART接口对产品进行调试，在产品完成设计后，电路板设计人员通过不安装对应插接件或者直接在电路板设计阶段直接取消JTAG和UART接口的引出等方式对这些功能进行禁用，并安装相应的设备外壳。此后设备可使用接口一般为外置存储接口、用户数据交互接口(USB等)、电源充电接口等。此时如果研发或维修人员想对产品进行深入调试和维护，需要拆掉设备外壳甚至专门从对应的IC上引出JTAG或者UART接口连线，在电子产品集成度高和小型化的局势下，该工作可实施可行性越来越低，开发人员和维修人员很难比较方便快捷的使用JTAG和UART接口对设备进行调试和维护，增大了产品的开发和维护难度。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种调试方法、应用该方法的电子产品及调试卡，将调试接口和存储功能接口进行复用，便于相关人员在设备的整个生命周期方便快捷的使用JTAG调试接口，提高设备的研发及维护效率，降低设备成本。。本专利技术提供的技术方案如下：一种电子产品的调试方法，包括：S10判断电子产品是否处于正常使用状态；当电子产品处于正常使用状态时，复用选择器将I/O接口与存储控制器选择连通；S20当电子产品不处于正常使用状态时，判断电子产品是否处于调试状态；当电子产品处于调试状态时，复用选择器将I/O接口与调试控制器选择连通；S30通过与调试控制器选择连通的I/O接口，调试所述电子产品。本专利技术还公开另一种电子产品的调试方法，还包括S10判断电子产品是否处于正常使用状态；当电子产品处于正常使用状态时，复用选择器将I/O接口与存储控制器选择连通；S20当电子产品不处于正常使用状态时，判断电子产品是否处于调试状态；当电子产品处于调试状态时，复用选择器将I/O接口与调试控制器选择连通；S21当电子产品不处于调试状态时，则电子产品处于自动复用状态，获取插入存储卡的检测信号；S22当插入存储卡的检测信号为有存储卡插入时，复用选择器自动选择与存储控制器连通；S23当插入存储卡的检测信号为无存储卡插入时，复用选择器自动选择与调试控制器连通。S30通过与调试控制器选择连通的I/O接口，调试所述电子产品。进一步优选的，其中插入存储卡的检测信号是指：I/O接口连接的SD_CD的检测信号；有存储卡插入的检测信号为SD_CD的低电平时，无存储卡插入的检测信号为SD_CD的高电平时。本专利技术还公开另一种电子产品的调试方法，还包括S10判断电子产品是否处于正常使用状态；当电子产品处于正常使用状态时，复用选择器将来自I/O接口的SD_CD、SDI/O_CMD/RXD、SDI/O_CLK/TXD、SD_D3/TCK、SD_D2/TMS、SD_D1/TDI和SD_D0/TDO与存储控制器的SD_CD、SDI/O_CMD、SDI/O_CLK、SD_D3、SD_D2、SD_D1和SD_D0选择连通；S20当电子产品不处于正常使用状态时，判断电子产品是否处于调试状态；当电子产品处于调试状态时，复用选择器将来自I/O接口的SDI/O_CMD/RXD、SDI/O_CLK/TXD、SD_D3/TCK、SD_D2/TMS、SD_D1/TDI和SD_D0/TDO与调试控制器的RXD、TXD、TCK、TMS、TDI和TDO选择连通；S21当电子产品不处于调试状态时，则电子产品处于自动复用状态，获取插入存储卡的检测信号；S22当插入存储卡的检测信号为有存储卡插入时，复用选择器自动将来自I/O接口的SD_CD、SDI/O_CMD/RXD、SDI/O_CLK/TXD、SD_D3/TCK、SD_D2/TMS、SD_D1/TDI和SD_D0/TDO与存储控制器的SD_CD、SDI/O_CMD、SDI/O_CLK、SD_D3、SD_D2、SD_D1和SD_D0选择连通；S23当插入存储卡的检测信号为无存储卡插入时，复用选择器自动将来自I/O接口的SDI/O_CMD/RXD、SDI/O_CLK/TXD、SD_D3/TCK、SD_D2/TMS、SD_D1/TDI和SD_D0/TDO与调试控制器的RXD、TXD、TCK、TMS、TDI和TDO选择连通；S30通过与调试控制器选择连通的I/O接口，调试所述电子产品。本专利技术还公开另一种电子产品的调试方法，还包括S10判断电子产品是否处于正常使用状态；当电子产品处于正常使用状态时，复用选择器将来自I/O接口的SD_CD、SDI/O_CMD/RXD、SDI/O_CLK/TXD、SD_D3/TCK、SD_D2/TMS、SD_D1/TDI和SD_D0/TDO与存储控制器的SD_CD、SDI/O_CMD、SDI/O_CLK、SD_D3、SD_D2、SD_D1和SD_D0选择连通；S20当电子产品不处于正常使用状态时，判断电子产品是否处于调试状态；当电子产品处于调试状态时，当电子产品处于UART调试状态时，复用选择器将RXD和TXD与UART控制器选择连通；当电子产品处于JTAG调试状态时，复用选择器将TCK、TMS、TDI和TDO与JTAG控制器选择连通；S21当电子产品不处于调试状态时，则电子产品处于自动复用状态，获取插入存储卡的检测信号；S22当插入存储卡的检测信号为有存储卡插入时，复用选择器自动将来自I/O接口的SD_CD、SDI/O_CMD/RXD、SDI/O_CLK/TXD、SD_D3/TCK、SD_D2/TMS、SD_D1/TDI和SD_D0/TDO与存储控制器的SD_CD、SDI/O_CMD、SDI/O_CLK、SD_D3、SD_D2、SD_D1和SD_D0选择连通；S23当插入存储卡的检测信号为无存储卡插入时，当电子产品处于UART调试状态时，复用选择器将RXD和TXD与UART控制器选择连通；当电子产品处于JTAG调试状态时，复用选择器将TCK、TMS、TDI和TDO与JTAG控制器选择连通；S30通过与调试控制器选择连通的I/O接口，调试所述电子产品。本专利技术还公开一种应用上述调试方法的电子产品，包括：I/O接口、与I/O接口电连接的复用选择器、分别与复用选择器电连接的存储控制器和调试控制器。本专利技术还公开另一种电子产品，包括：I/O接口、与I/O接口电连接的复用本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子产品的调试方法，其特征在于，包括：S10判断电子产品是否处于正常使用状态；当电子产品处于正常使用状态时，复用选择器将I/O接口与存储控制器选择连通；S20当电子产品不处于正常使用状态时，判断电子产品是否处于调试状态；当电子产品处于调试状态时，复用选择器将I/O接口与调试控制器选择连通；S30通过与调试控制器选择连通的I/O接口，调试所述电子产品。

【技术特征摘要】
1.一种电子产品的调试方法，其特征在于，包括：
S10判断电子产品是否处于正常使用状态；当电子产品处于正常使用状态
时，复用选择器将I/O接口与存储控制器选择连通；
S20当电子产品不处于正常使用状态时，判断电子产品是否处于调试状
态；当电子产品处于调试状态时，复用选择器将I/O接口与调试控制器选择连
通；
S30通过与调试控制器选择连通的I/O接口，调试所述电子产品。
2.如权利要求1所述的一种电子产品的调试方法，其特征在于，还包括：
S21当电子产品不处于调试状态时，则电子产品处于自动复用状态，获取
插入存储卡的检测信号；
S22当插入存储卡的检测信号为有存储卡插入时，复用选择器自动选择与
存储控制器连通；
S23当插入存储卡的检测信号为无存储卡插入时，复用选择器自动选择与
调试控制器连通。
3.如权利要求2所述的一种电子产品的调试方法，其特征在于，其中：
插入存储卡的检测信号是指：I/O接口连接的SD_CD的检测信号；有存储卡插
入的检测信号为SD_CD的低电平时，无存储卡插入的检测信号为SD_CD的高
电平时。
4.如权利要求1-3任一权利要求所述的一种电子产品的调试方法，其特征
在于，其中复用选择器将I/O接口与存储控制器选择连通是指：
复用选择器将来自I/O接口的SD_CD、SDI/O_CMD/RXD、
SDI/O_CLK/TXD、SD_D3/TCK、SD_D2/TMS、SD_D1/TDI和SD_D0/TDO与
存储控制器的SD_CD、SDI/O_CMD、SDI/O_CLK、SD_D3、SD_D2、SD_D1
和SD_D0选择连通。
5.如权利要求1-3任一权利要求所述的一种电子产品的调试方法，其特征
在于，其中复用选择器将I/O接口与调试控制器选择连通是指：
复用选择器将来自I/O接口的SDI/O_C...

【专利技术属性】
技术研发人员：江晶亮，林锦麟，王大岁，
申请(专利权)人：上海盈方微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31