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一种鞋底及测试鞋制造技术

技术编号:15036521 阅读:75 留言:0更新日期:2017-04-05 11:50
本实用新型专利技术涉及测试装置技术领域,尤其是涉及一种鞋底及测试鞋。所述鞋底,包括:测试中层和测试底膜;所述测试中层包括减震层和外凸层,所述外凸层的底部均匀排布有多个大小一致的凸起结构;所述凸起结构表面有第一标识,所述测试底膜表面有与所述第一标识相异的第二标识;所述测试底膜完全贴合在所述外凸层表面,且与外凸层固接。本实用新型专利技术解决了鞋子磨损位置、面积和深度难把握,鞋子的磨损图形很难准确反映消费者足底真实受力位置。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试装置
,尤其是涉及一种鞋底及测试鞋。
技术介绍
目前国内市场未出现商业生产、销售并提供给消费者个人使其不借助专用设备、专用场地并由专业人员实施的用于测试足型的专用足型测试鞋。消费者欲购买适合自己足型的运动鞋大致通过以下三类途径:一、某些品牌运动鞋专卖店店员在店内用其公司生产的专用设备测试消费者足型,大部分是静态测试,比如,裸足站立通过三维扫描等方式采集消费者静态足底压力分布图和裸足三维尺寸推断足型(足内翻、正常足、足外翻、足过度外翻,下称足型),通过测量足弓高低推断足型,通过膝关节旋内旋外辅助推断足型,通过店员在消费者后方观察消费者下肢(小腿)与足跟在踝关节处是否为一条直线或形成的角度推断足型等等;也有动态测试,比如,通过观察消费者步态(内、外八字)推断足型、通过观察消费者在跑步机上跑步过程中足部与小腿在踝关节处角度变化来推断足型等。二、某些专业运动测试机构的专业人员采用专用测试鞋(鞋底内置密度不同分布在不同部位的压敏电极,通过有线或无线方式与专用设备连接转换成直观的压力分布图等)或鞋垫(如压电薄膜电极采集信息方式)测量足底在静态或动态时压力分布;有些机构是通过专用设备观察记载运动员在跑步机上的步态及足部着地方式等来判断足型,为消费者选鞋提供相对准确的参考依据。三、有经验的专业人员让消费者提供穿到一定时间、磨损到一定程度的运动鞋,通过观察该鞋鞋底磨损位置、磨损面积判断足型,为消费者选鞋提供大致准确的参考依据。然而,上述第一种方式得到的静态足底压力分布图,仅仅是消费者选鞋的一种参考因素,因为人跑步时动态足底压力分布与人站立姿态时静态足底压力分布有差异,人站立时双足着地,压力均匀分布在双脚(包括足跟),人在跑步时蹬地瞬间是单足支撑,前脚掌及脚趾发力,为维持跑步时向前的直线运动和左右平衡,既需要脚掌(脚趾)有一个向前的蹬力,又需要一个维持左右平衡的向内分力,上述内向分力在静态足底压力分布图中很难体现。实践证明,通过测量足弓高低推断足型,通过膝关节旋内旋外辅助推断足型,通过在消费者后方观察下肢(小腿)与足跟在踝关节处是否为一条直线或形成的角度推断足型等方式判断足型与消费者真实足型的吻合度尚有一定差距,所以依靠此类方法采集的图形用来推断足型并作为选择运动鞋的依据,其可靠性很难保证。上述第二种方式中得到的动态足底压力分布图准确性较高,但受测试设备、专用场地及检测人员多寡及水平等限制,特别是压电薄膜类检测设备比较昂贵,检测设备有一定的使用期限,分散到消费者单人次检测成本较高,国内能够开展此项检测的机构较少,目前,欲想使足型测试成为一个大众项目较难实现。上述第三种方式有以下不足:1、消费者提供给专卖店的鞋子需要较长时间磨损;2、消费者提供给专卖店的鞋子磨损面积和深度不好把握(一双鞋鞋底磨损不足或过度磨损的鞋底对专业人员判断足型帮助不大);3、消费者提供给专卖店的鞋底磨损图形的形成原因可能比较复杂;4、消费者提供给专卖店的鞋底磨损图形不能较准确反映消费者足底真实用力位置和用力大小;5、消费者根据磨损鞋底自我判断足型较为困难,即使是专业人员,不借助专用设备,仅凭借目测观察磨损的鞋底图形来进行较精确判断足型也不易,消费者获取市场在销的适合自己足型的运动鞋的其他信息也较为困难。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种鞋底及测试鞋,解决了鞋子磨损位置、面积和深度难把握,鞋子的磨损图形很难准确反映消费者足底真实受力位置的问题。本技术提供的鞋底,包括:测试中层和测试底膜;所述测试中层包括减震层和外凸层,所述外凸层的底部均匀排布有多个大小一致的凸起结构;所述凸起结构表面有第一标识,所述测试底膜表面有与所述第一标识相异的第二标识;所述测试底膜完全贴合在所述外凸层表面,且与外凸层固接。进一步地,所述凸起结构为半球形结构或半椭圆球形结构。进一步地,所述减震层为弹性层或柔性片。进一步地,所述外凸层为耐磨损测试层。进一步地,所述测试底膜为易磨损测试底膜。进一步地,所述减震层为平面结构,所述凸起结构的最低点形成的同一平面与所述测试底膜的最低点形成的同一平面均与所述减震层平行。进一步地,所述测试底膜的厚度小于测试中层的厚度。进一步地,鞋底还包括鞋垫,所述鞋垫完全贴合在测试中层上表面。本技术还提供一种基于所述的鞋底的测试鞋,包括鞋面和鞋底,所述鞋面固接在所述鞋底侧围。进一步地,所述鞋面粘接在所述测试中层侧围。本技术的有益效果为:本技术提供的鞋底,凸起结构表面有第一标识,测试底膜表面有所述第一标识相异的第二标识,测试底膜由于采用了不耐磨材料,当测试底膜被磨损掉后,暴露出外凸层的凸起结构,由于第一标识与第二标识相异,所以能够很容易识别出被磨损掉的部分。另外,本技术提供的鞋底,多个凸起结构大小一致且均匀排布,统计暴露的凸起结构的数量,便可以较准确计算出磨损面积,如遇某一凸起结构没有被完全暴露之情况(该凸起结构下表面的测试底膜没有被完全磨损掉),则采用四舍五入的方法加以解决,这种在外凸层设计凸起结构的办法克服了以往消费者提供的已磨损鞋子之磨损面积不好计算的缺点。另外,由于凸起结构设置为半球形结构或半椭圆球形结构,因此不受力部位的半球形结构被覆的测试底膜没有磨损;当在受力较小、磨损次数较少时,部分半球形被覆的测试底膜已经磨损但仅磨损到半球形结构最低点较小范围内;当受力较大、磨损次数较多时,在上述磨损基础上测试底膜磨损到一部分半球形更大范围;当受力最大、磨损次数多时,由于半球形结构的被压缩,部分半球形结构下表面被覆的测试底膜几乎全部被磨损掉。最后,本技术提供的鞋底,减震层为平面结构,凸起结构的最低点形成的同一平面与测试底膜的最低点形成的同一平面均与所述减震层平行,使消费者足底对鞋底各处不同的压力大小和受力面积通过磨损后鞋底的磨损图形能够直接、客观的得以体现。上述设置,使得本技术提供的鞋底及测试鞋结构简单,使用方便,测试结果准确,加工成本低。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本技术的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术提供的实施例的鞋底的侧视图;图2为基于图1所述的鞋底的测试中层的结构示意图;图3为基于图1所述的鞋底的测试底膜的结构示意图;图4为基于图1所述的鞋底磨损后的结构示意图;图5为基于图1所述的鞋底的测试鞋的结构示意图;附图标记:1-鞋面;2-测试中层;3-测试底膜;4-鞋垫;21-减震层;22-外凸层;23-凸起结构;231-第一标识;31-第二标识。具体实施方式下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置本文档来自技高网
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一种鞋底及测试鞋

【技术保护点】
一种鞋底,其特征在于,包括:测试中层和测试底膜;所述测试中层包括减震层和外凸层,所述外凸层的底部均匀排布有多个大小一致的凸起结构;所述凸起结构表面有第一标识,所述测试底膜表面有与所述第一标识相异的第二标识;所述测试底膜完全贴合在所述外凸层表面,且与外凸层固接。

【技术特征摘要】
1.一种鞋底,其特征在于,包括:测试中层和测试底膜;所述测试中层包括减震层和外凸层,所述外凸层的底部均匀排布有多个大小一致的凸起结构;所述凸起结构表面有第一标识,所述测试底膜表面有与所述第一标识相异的第二标识;所述测试底膜完全贴合在所述外凸层表面,且与外凸层固接。2.根据权利要求1所述的鞋底,其特征在于,所述凸起结构为半球形结构或半椭圆球形结构。3.根据权利要求1所述的鞋底,其特征在于,所述减震层为弹性层或柔性片。4.根据权利要求1所述的鞋底,其特征在于,所述外凸层为耐磨损测试层。5.根据权利要求1所述的鞋底,其特征在于,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:韩维宜王燕维
申请(专利权)人:韩维宜王燕维
类型:新型
国别省市:山东;37

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