一种光纤刻写监测光路和光纤刻写装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光纤刻写监测光路及光纤刻写系统，包括：光源，用于发射检测光；光环形器，设置有第一环形端口、第二环形端口和第三环形端口，第一环形端口与光源连接，第二环形端口用于连接第一待刻写光纤的一端；第一光开关，设置有第一开关端口、第二开关端口和第三开关端口，第一开关端口与第三环形端口连接，第二开关端口用于与第一待刻写光纤的另一端连接；光谱仪，与第三开关端口连接；当第三开关端口与第一开关端口连通时，光谱仪检测待刻写光纤的反射谱，当第三开关端口与第二开关端口连通时，光谱仪检测待刻写光纤的透射谱。通过上述方式，本发明专利技术能够实现监测第一待刻写光纤的透射谱和反射谱的光路共用光源和光谱仪，节省成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光纤
，特别是涉及一种光纤刻写监测光路和光纤刻写装置。
技术介绍
光纤光栅是指使光纤纤芯的折射率发生轴向周期性调制而形成的衍射光栅。由于光纤光栅具有体积小、熔接损耗小、全兼容于光纤、能埋入智能材料等优点，其在传感和通信领域具有广泛的应用。目前光纤刻写的技术主要为相位掩模法紫外刻写，其需要在线监测光路、刻写光路和熔接设备两部分组成，熔接设备用于熔接待刻写光纤，待刻写光纤熔接完成后放入刻写光路，在刻写光路对待刻写光纤进行刻写的过程中，通过在线监测光路对待刻写光纤进行反射谱和/或透射谱进行监测，以保证刻写出来光纤光栅的一致性更好。但是在对待刻写光纤进行反射谱和/或透射谱进行监测，待刻写光纤的反射谱和透射谱的光路不相同，因此，通常配备两套在线监测光路进行监测，成本非常高。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种光纤刻写监测光路和光纤刻写装置，能够在第一待刻写光纤进行刻写的过程中，监测第一待刻写光纤的反射谱或者透射谱，并且监测第一待刻写光纤的透射谱和反射谱的光路共用光源和光谱仪，节省成本。为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是：提供一种光纤刻写监测光路，包括：光源，用于发射检测光；光环形器，设置有第一环形端口、第二环形端口和第三环形端口，所述第一环形端口与所述光源连接，所述第二环形端口用于连接第一待刻写光纤的一端，其中，所述检测光从所述第一环形端口入射，从所述第二环形端口出射，输出到所述第一待刻写光纤，所述第一待刻写光纤所反射的反射光从所述第二环形端口入射，从所述第三环形端口输出；第一光开关，设置有第一开关端口、第二开关端口和第三开关端口，所述第一开关端口与所述第三环形端口连接，所述第二开关端口用于与所述第一待刻写光纤的另一端连接；光谱仪，与所述第三开关端口连接；在所述第一待刻写光纤在刻写形成光纤光栅的过程中，当所述第三开关端口与第一开关端口连通时，所述光谱仪检测所述待刻写光纤的反射谱，当所述第三开关端口与第二开关端口连通时，所述光谱仪检测所述待刻写光纤的透射谱。其中，所述光纤刻写监测光路还包括合束器和第二光开关；所述第二光开关设置有第四开关端口、第五开关端口和第六开关端口；所述第四开关端口与第二环形端口连接，所述第五开关端口用于与所述第一待刻写光纤的一端连接，所述第六开关端口用于与第二待刻写光纤的一端连接；所述合束器设置有第一分支端口、第二分支端口和合束端口，所述合束端口与所述第二开关端口连接，所述第一分支端口用于与第一待刻写光纤的另一端连接，所述第二分支端口用于与第二待刻写光纤的另一端连接；在所述第四开关端口与第五开关端口连通时，所述光纤刻写监测光路用于监测所述第一待刻写光纤的反射谱和透射谱，在所述第四开关端口与第六开关端口连通时，所述光纤刻写监测光路用于监测所述第二待写光纤的反射谱和透射谱。其中，所述第一光开关和第二光开关均为1*2光开关。其中，所述第二光开关还设置有第七开关端口，所述合束器还设置有第三分支端口，所述第七开关端口和第三分支端口分别用于与第三待刻写光纤的两端连接；在所述第四开关端口与第七开关端口连通时，所述光纤刻写监测光路用于监测所述第三待刻写光纤的反射谱和透射谱；所述第一光开关为1*2光开关，所述第二光开关为1*3光开关。为解决上述技术问题，本专利技术采用的另一个技术方案是：提供一种光纤刻写系统，包括光纤刻写监测光路、第一待刻写光纤和刻写光路，所述光纤刻写监测光路包括光源、光环形器、第一光开关和光谱仪；所述光源用于发射检测光；所述光环形器设置有第一环形端口、第二环形端口、第三环形端口，所述第一环形端口与所述光源连接，所述第二环形端口连接第一待刻写光纤的一端，其中，所述检测光从所述第一环形端口入射，从所述第二环形端口出射，输出到所述第一待刻写光纤，所述第一待刻写光纤所反射的反射光从所述第二环形端口入射，从所述第三环形端口输出；所述第一光开关设置有第一开关端口、第二开关端口和第三开关端口，所述第一开关端口与所述第三环形端口连接，所述第二开关端口与所述第一待刻写光纤的另一端连接；所述光谱仪与所述第三开关端口连接；所述刻写光路用于向所述第一待刻写光纤照射刻写激光，以对所述第一待刻写光纤进行刻写形成光纤光栅；在所述待刻写光纤在刻写形成光纤光栅的过程中，当所述第一开关端口与第三开关端口连通时，所述光谱仪检测所述待刻写光纤的反射谱，当所述第二开关端口与所述第三开关端口连通时，所述光谱仪检测所述待刻写光纤的透射谱。其中，所述光纤刻写监测光路还包括合束器和第二光开关；所述光纤刻写系统还包括第二待刻写光纤；所述第二光开关设置有第四开关端口、第五开关端口和第六开关端口；所述第四开关端口与第二环形端口连接，所述第五开关端口与所述第一待刻写光纤的一端连接，所述第六开关端口与第二待刻写光纤的一端连接；所述合束器设置有第一分支端口、第二分支端口和合束端口，所述合束端口与所述第二开关端口连接，所述第一分支端口与第一待刻写光纤的另一端连接，所述第二分支端口与第二待刻写光纤的另一端连接；所述刻写光路还用于向所述第二待刻写光纤照射刻写激光，以对所述第二待刻写光纤进行刻写形成光纤光栅，在所述第四开关端口与第五开关端口连通时，所述光纤刻写监测光路用于监测所述第一待刻写光纤的反射谱和透射谱，在所述第四开关端口与第六开关端口连通时，所述光纤刻写监测光路用于监测所述第二待写光纤的反射谱和透射谱。其中，所述第一光开关和第二光开关均为1*2光开关。其中，所述光纤刻写系统还包括第三待刻写光纤；所述第二光开关还设置有第七开关端口，所述合束器还设置有第三分支端口，所述第七开关端口和第三分支端口分别用于与第三待刻写光纤的两端连接；所述刻写光路还用于向所述第三待刻写光纤照射刻写激光，以对所述第三待刻写光纤进行刻写形成光纤光栅，在所述第四开关端口与第七开关端口连通时，所述光纤刻写监测光路用于监测所述第三待刻写光纤的反射谱和透射谱。其中，所述第一光开关为1*2光开关，所述第二光开关为1*3光开关。其中，所述光纤刻写系统还包括夹具，所述夹具用来固定待刻写光纤。本专利技术的有益效果是：区别于现有技术的情况，本专利技术通过光环形器的第一环形端口与光源连接，光环形器的第三环形端口与第一光开关的第一开关端口连接，第一光开关的第三开关端口与光谱仪连接，光环形器的第二环本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光纤刻写监测光路，其特征在于，包括：光源，用于发射检测光；光环形器，设置有第一环形端口、第二环形端口和第三环形端口，所述第一环形端口与所述光源连接，所述第二环形端口用于连接第一待刻写光纤的一端，其中，所述检测光从所述第一环形端口入射，从所述第二环形端口出射，输出到所述第一待刻写光纤，所述第一待刻写光纤所反射的反射光从所述第二环形端口入射，从所述第三环形端口输出；第一光开关，设置有第一开关端口、第二开关端口和第三开关端口，所述第一开关端口与所述第三环形端口连接，所述第二开关端口用于与所述第一待刻写光纤的另一端连接；光谱仪，与所述第三开关端口连接；在所述第一待刻写光纤在刻写形成光纤光栅的过程中，当所述第三开关端口与第一开关端口连通时，所述光谱仪检测所述待刻写光纤的反射谱，当所述第三开关端口与第二开关端口连通时，所述光谱仪检测所述待刻写光纤的透射谱。

【技术特征摘要】
1.一种光纤刻写监测光路，其特征在于，包括：
光源，用于发射检测光；
光环形器，设置有第一环形端口、第二环形端口和第三环形端口，
所述第一环形端口与所述光源连接，所述第二环形端口用于连接第一待
刻写光纤的一端，其中，所述检测光从所述第一环形端口入射，从所述
第二环形端口出射，输出到所述第一待刻写光纤，所述第一待刻写光纤
所反射的反射光从所述第二环形端口入射，从所述第三环形端口输出；
第一光开关，设置有第一开关端口、第二开关端口和第三开关端口，
所述第一开关端口与所述第三环形端口连接，所述第二开关端口用于与
所述第一待刻写光纤的另一端连接；
光谱仪，与所述第三开关端口连接；
在所述第一待刻写光纤在刻写形成光纤光栅的过程中，当所述第三
开关端口与第一开关端口连通时，所述光谱仪检测所述待刻写光纤的反
射谱，当所述第三开关端口与第二开关端口连通时，所述光谱仪检测所
述待刻写光纤的透射谱。
2.根据权利要求1所述的光纤刻写监测光路，其特征在于，
所述光纤刻写监测光路还包括合束器和第二光开关；
所述第二光开关设置有第四开关端口、第五开关端口和第六开关端
口；
所述第四开关端口与第二环形端口连接，所述第五开关端口用于与
所述第一待刻写光纤的一端连接，所述第六开关端口用于与第二待刻写
光纤的一端连接；
所述合束器设置有第一分支端口、第二分支端口和合束端口，所述
合束端口与所述第二开关端口连接，所述第一分支端口用于与第一待刻
写光纤的另一端连接，所述第二分支端口用于与第二待刻写光纤的另一
端连接；
在所述第四开关端口与第五开关端口连通时，所述光纤刻写监测光

\t路用于监测所述第一待刻写光纤的反射谱和透射谱，在所述第四开关端
口与第六开关端口连通时，所述光纤刻写监测光路用于监测所述第二待
写光纤的反射谱和透射谱。
3.根据权利要求2所述的光纤刻写监测光路，其特征在于，
所述第一光开关和第二光开关均为1*2光开关。
4.根据权利要求2所述的光纤刻写监测光路，其特征在于，
所述第二光开关还设置有第七开关端口，所述合束器还设置有第三
分支端口，所述第七开关端口和第三分支端口分别用于与第三待刻写光
纤的两端连接；
在所述第四开关端口与第七开关端口连通时，所述光纤刻写监测光
路用于监测所述第三待刻写光纤的反射谱和透射谱；
所述第一光开关为1*2光开关，所述第二光开关为1*3光开关。
5.一种光纤刻写系统，其特征在于，包括：光纤刻写监测光路、第
一待刻写光纤和刻写光路，所述光纤刻写监测光路包括光源、光环形器、
第一光开关和光谱仪；
所述光源用于发射检测光；
所述光环形器设置有第一环形端口、第二环形端口、第三环形端口，
所述第一环形端口与所述光源连接，所述第二环形端口连接第一待刻写
光纤的一端，其中...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁强，马立霜，蒋峰，
申请(专利权)人：深圳市创鑫激光股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44