【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】本专利技术涉及用于检查烹饪锅在感应烹饪灶具的感应线圈上方的理想位置的方法。进一步，此外，本专利技术涉及一种感应烹饪灶具，该感应烹饪灶具包括用于检查烹饪锅在所述感应烹饪灶具的感应线圈上方的理想位置的系统。烹饪锅在感应线圈上方的错误或不适当位置可能导致欠佳的烹饪过程。烹饪锅的错误或不适当位置减少了从感应线圈传递至所述烹饪锅的功率。进一步，烹饪锅的错误或不适当位置可能会避免食材的均匀褐变。此外，烹饪锅的错误或不适当位置可能导致缓慢的加热时间。此外，烹饪锅的错误或不适当位置可能致使过高的功率传递到烹饪锅的临界区域中，例如到烹饪锅的侧壁中，从而造成损坏。然而，使用者通常不能辨认烹饪锅在感应线圈上方的理想位置。将会有利的是检查烹饪锅在感应烹饪灶具的感应线圈上方的理想位置。本专利技术的目的是提供用于一种以低复杂性检查烹饪锅在感应烹饪灶具的感应线圈上方的理想位置的方法和系统。这是通过根据权利要求1所述的用于检查烹饪锅在感应烹饪灶具的感应线圈上方的理想位置的方法来实...
【技术保护点】
一种用于检查烹饪锅(20)在感应烹饪灶具(10)的感应线圈(14)上方的理想位置的方法，其中，所述方法包括以下步骤：a)启动所述用于检查该理想位置的方法，b)检测关于电磁场的功率的和/或关于该烹饪锅(20)在该感应线圈(14)上方的位置的第一参数，c)检测关于电磁场的功率的和/或关于该烹饪锅(20)在该感应线圈(14)上方的位置的第二参数，d)将所检测的第一参数和第二参数与所述第一参数和第二参数与该烹饪锅(20)在该感应线圈(14)上方的位置之间的存储关系进行对比，e)确定该烹饪锅(20)的位置与在该感应线圈(14)上方的理想位置的偏差，f)在一段预定时间之后进行对步骤b)...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.11.25 EP 13194251.81.一种用于检查烹饪锅(20)在感应烹饪灶具(10)的感应线圈
(14)上方的理想位置的方法，其中，所述方法包括以下步骤：
a)启动所述用于检查该理想位置的方法，
b)检测关于电磁场的功率的和/或关于该烹饪锅(20)在该感应
线圈(14)上方的位置的第一参数，
c)检测关于电磁场的功率的和/或关于该烹饪锅(20)在该感应
线圈(14)上方的位置的第二参数，
d)将所检测的第一参数和第二参数与所述第一参数和第二参数与
该烹饪锅(20)在该感应线圈(14)上方的位置之间的存储关系进行对
比，
e)确定该烹饪锅(20)的位置与在该感应线圈(14)上方的理想
位置的偏差，
f)在一段预定时间之后进行对步骤b)至步骤e)的周期性重复，
并且
g1)如果所述偏差超过最小值，则输出对应于该烹饪锅(20)的
位置与该理想位置的偏差的至少一个信号，或
g2)如果所述偏差下低于最大值，则输出对应于该烹饪锅(20)
的位置与该理想位置的偏差的至少一个信号。
2.根据权利要求1所述的方法，
其特征在于
该第一参数是通过该感应线圈(14)的电流。
3.根据权利要求1或2所述的方法，
其特征在于
该第二参数是通过该感应线圈(14)的电流与在所述感应线圈(14)
处的电压之间的相位差。
4.根据以上权利要求中任一项所述的方法，
其特征在于
该方法是通过操作使用者界面的执行器来启动的，特别是，该方法
是通过操作所述执行器来手动启动的。
5.根据以上权利要求中任一项所述的方法，
其特征在于
如果该烹饪锅(20)处于该感应线圈(14)上方的该理想位置上，
则至少一个参数具有最小值或最大值。
6.根据以上权利要求中任一项所述的方法，
其特征在于
由该感应线圈(14)产生的电磁场的功率被检测和用于确定该烹饪
锅(20)的位置的偏差。
7.根据以上权利要求中任一项所述的方法，
其特征在于
这些步骤b)至步骤e)的后续周期性重复之间的预定时间在0.1
秒与1.0秒之间、优选地是0.5秒。
8.一种感应烹饪灶具(10)，该感应烹饪灶具包括用于检查烹饪
锅(20)在该感应烹饪灶具(...
【专利技术属性】
技术研发人员：杰罗姆·布拉瑟尔，乌尔里希·霍伊特勒，格哈德·克莱因，赫尔穆特·德贝尔，西尔克·霍尔巴舍克，
申请(专利权)人：伊莱克斯家用电器股份公司，
类型：发明
国别省市：瑞典;SE
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