一种测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统及其方法技术方案

一种测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统及其方法，包括一个ASE光源、一台光谱分析仪以及一个已知尾纤长度并用于参考的光纤耦合器；ASE光源与用于参考的光纤耦合器的第一端口相连接；用于参考的光纤耦合器的第二端口的长度和用于参考的光纤耦合器的第三端口的长度相同，用于参考的光纤耦合器的第二端口和用于参考的光纤耦合器的第三端口分别同待测尾纤长度差距的光纤耦合器的第二端口和待测尾纤长度差距的光纤耦合器的第三端口相连接；待测尾纤长度差距的光纤耦合器的第一端口通过第四光纤同光谱分析仪相连接；结合其方法来克服现有实验中需要专业的实验平台或者昂贵的仪器问题。而且更换简单，可以连续测量多个光纤耦合器尾纤长度差距。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光程差测量
，特别涉及一种测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统及其方法，尤其涉及一种使用ASE光源和光谱分析仪测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统及其方法。
技术介绍
在高速多通道光传输系统、CATV系统，相控阵雷达空间扫描系统等方面特别是在一些高精度仪器中都使用多条光纤进行信号传输，对光学元器件和仪器的尾纤长度要求有准确的精度。光纤耦合器作为一种常用光学器件，对其尾纤长度差距的有着严格的要求。目前的光纤长度测量方法主要有采用光时域反射仪法(OTDR)、光频域反射仪法(OFDR)、光相干域反射仪法(OCDR)。但是这些方法都需要用到专业的实验平台或者昂贵的仪器，而一般的实验室不一定具备这样的实验条件。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术提供了一种测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统及其方法，使用的是光学实验室中常有的光谱分析仪和ASE光源，克服现有实验中需要专业的实验平台或者昂贵的仪器问题。而且更换简单，可以连续测量多个光纤耦合器尾纤长度差距。为了克服现有技术中的不足，本专利技术提供了一种测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统及其方法的解决方案，具体如下：一种测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统，包括一个ASE光源、一台光谱分析仪以及一个已知尾纤长度并用于参考的光纤耦合器A；所述ASE光源通过第一光纤与用于参考的光纤耦合器A的第一端口相连接；所述用于参考的光纤耦合器A的第二端口的长度和用于参考的光纤耦合器A的第三端口的长度相同，所述用于参考的光纤耦合器A的第二端口和用于参考的光纤耦合器A的第三端口分别通过第二光纤和第三光纤同待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的第二端口和待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的第三端口相连接；所述待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的第一端口通过第四光纤同光谱分析仪相连接；所述光谱分析仪设置在支撑台上；所述光谱分析仪和支撑台搁置在箱子中。优选的，用于参考的光纤耦合器A的第一端口、用于参考的光纤耦合器A的第二端口、用于参考的光纤耦合器A的第三端口、待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的第一端口、待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的第二端口和待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的第三端口的连接均使用FC/APC法兰头。优选的，所述第一光纤、第二光纤、第三光纤和第四光纤均为慢轴对齐的保偏光纤。所述测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统的方法，激发所述ASE光源对第一光纤、第二光纤、第三光纤和第四光纤供应出激发光，接着在光谱分析仪上显示出一系列的干涉条纹，由此就能获得干涉条纹相邻峰值的频率差Δfn，其和光程差ΔL有关，由此光程差ΔL可由如下公式(1)获得：这样光程差ΔL就能作为待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的尾纤长度差距,其中c为光速。本专利技术的优点如下：实现简单，利用一种使用ASE光源和光谱分析仪测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统，克服现有到专用的实验平台或者昂贵的仪器，而且更换简单，可以连续测量多个光纤耦合器尾纤长度差距。附图说明图1为本专利技术的整体结构示意图；图2为本专利技术的光谱分析仪的工作状态图；图3为本专利技术的联结件的剖视图。图4为本专利技术的箱子的内部主视图；图5为本专利技术的箱子的右视图；图6为本专利技术的箱子的部分；图7为本专利技术的箱子的部分。图8为本专利技术的箱子的部分。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术做进一步地说明。根据附图1-图8可知，本专利技术的一种测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统，包括一个ASE光源、一台光谱分析仪以及一个已知尾纤长度并用于参考的光纤耦合器A；所述ASE光源通过第一光纤与用于参考的光纤耦合器A的第一端口相连接；所述用于参考的光纤耦合器A的第二端口的长度和用于参考的光纤耦合器A的第三端口的长度相同，所述用于参考的光纤耦合器A的第二端口和用于参考的光纤耦合器A的第三端口分别通过第二光纤和第三光纤同待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的第二端口和待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的第三端口相连接；所述待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的第一端口通过第四光纤同光谱分析仪相连接；所述光谱分析仪设置在支撑台上；所述光谱分析仪和支撑台搁置在箱子中。其中：用于参考的光纤耦合器A的第一端口、用于参考的光纤耦合器A的第二端口、用于参考的光纤耦合器A的第三端口、待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的第一端口、待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的第二端口和待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的第三端口的连接均使用FC/APC法兰头。所述第一光纤、第二光纤、第三光纤和第四光纤均为慢轴对齐的保偏光纤。测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统的方法为，由光干涉理论可知，激发所述ASE光源对第一光纤、第二光纤、第三光纤和第四光纤供应出激发光，接着在光谱分析仪上显示出一系列的干涉条纹，由此就能获得干涉条纹相邻峰值的频率差Δfn，其和光程差ΔL有关，由此光程差ΔL可由如下公式(1)获得：这样光程差ΔL就能作为待测尾纤长度差距的光纤耦合器B的尾纤长度差距,其中c为光速。另外现有的光谱分析仪设置在支撑台的方式往往是通过联结件来把光谱分析仪和支撑台联结在一起，而光谱分析仪、联结件与支撑台之间是通过套接而结合在一起的，此类结合架构的牢固性不好。所述光谱分析仪设置在支撑台的方式是通过联结件来把光谱分析仪和支撑台联结在一起，所述联结件G1横向设置，所述联结件G1朝下同支撑台上带有嵌接头的壁面相面对面，所述嵌接头同支撑台一体化连接，另外所述联结件G1的壁面面向所述嵌接头的地方设置着嵌接孔G2；所述联结件G1的相向的一对边壁各自朝上曲张还横向朝外伸展，所述嵌接孔G2设置在所述联结件G1上偏离所述曲张部分的地方，所述联结件G1的所述朝外伸展的部分上设置着一对以上的第一凹槽G3，所述第一凹槽G3内嵌有第一丝母，还有所述光谱分析仪从顶部到底部带有贯通孔；在所述支撑台上的嵌接头嵌接在所述联结件G1的嵌接孔G2，另外光谱分析仪放在所述联结件G1的顶壁时，所述光谱分析仪的贯通孔面对着所述联结件G1的第一凹槽G3，第一丝杠的顶部朝下同所述联结件G1的顶壁相抵，所述第一丝杠的丝槽朝下透过所述贯通孔并丝接在所述第一丝母，把光谱分析仪同所述联结件G1联结起来，另外所述光谱分析仪底端同所述支撑台上的嵌接头保持着间隔。所述贯通孔为圆柱状。所述嵌接孔为圆柱状。本专利技术为于联结件设有的嵌接孔G2的条件下，变化了联结件G1的架构，另外于变化了的所述联结件上设置着联结所述光谱分析仪与支撑台的凹槽达到联结件和光谱分析仪、支撑台的稳定联结。目前光谱分析仪和支撑台搁置在箱子中，因为光谱分析仪执行时会发热，如果热流无法实时排除，往往使得箱体中热气增多，让光谱分析仪在这样的环境下故障频发，乃至于出现烧坏的问题；另外目前设置光谱分析仪的箱体下端基本上均为铜合金支撑架，质量不小，若须般动箱体、实行维护，无法容易挪动，这样给维护产生了困难。所述箱子含有箱体Y1、位于箱体的正面板上的盖板Y2以及支撑板Y3，所述支撑板Y3的大小大于所述箱体Y1的下壁板的大小，所述箱体Y1铆接于支撑板Y3上，所述箱体Y1的一侧部同一对滑撑Y12的一头相铆接，所述滑撑Y12的另一头同位于箱体的正面板上的盖板Y2相铆接；让所述位于箱体的正面板上的盖板Y2可以滑撑Y12铆接的一头作为中心线来做旋转。所述箱体Y1里面的一对边部表面上铆接着若干对支撑片Y6，每对支撑本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统，其特征在于，包括一个ASE光源、一台光谱分析仪以及一个已知尾纤长度并用于参考的光纤耦合器；所述ASE光源通过第一光纤与用于参考的光纤耦合器的第一端口相连接；所述用于参考的光纤耦合器的第二端口的长度和用于参考的光纤耦合器的第三端口的长度相同，所述用于参考的光纤耦合器的第二端口和用于参考的光纤耦合器的第三端口分别通过第二光纤和第三光纤同待测尾纤长度差距的光纤耦合器的第二端口和待测尾纤长度差距的光纤耦合器的第三端口相连接；所述待测尾纤长度差距的光纤耦合器的第一端口通过第四光纤同光谱分析仪相连接；所述光谱分析仪设置在支撑台上；所述光谱分析仪和支撑台搁置在箱子中。

【技术特征摘要】
1.一种测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统，其特征在于，包括一个ASE光源、一台光谱分析仪以及一个已知尾纤长度并用于参考的光纤耦合器；所述ASE光源通过第一光纤与用于参考的光纤耦合器的第一端口相连接；所述用于参考的光纤耦合器的第二端口的长度和用于参考的光纤耦合器的第三端口的长度相同，所述用于参考的光纤耦合器的第二端口和用于参考的光纤耦合器的第三端口分别通过第二光纤和第三光纤同待测尾纤长度差距的光纤耦合器的第二端口和待测尾纤长度差距的光纤耦合器的第三端口相连接；所述待测尾纤长度差距的光纤耦合器的第一端口通过第四光纤同光谱分析仪相连接；所述光谱分析仪设置在支撑台上；所述光谱分析仪和支撑台搁置在箱子中。2.根据权利要求1所述的测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统，其特征在于所述用于参考的光纤耦合器的第一端口、用于参考的光纤耦合器的第二端口、用于参考的光纤耦合器的第三端口、待测尾纤长度差距的光纤耦合器的第一端口、待测尾纤长度差距的光纤耦合器的第二端口和待测尾纤长度差距的光纤耦合器的第三端口的连接均使用FC/APC法兰头。3.根据权利要求1所述的测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统，其特征在于所述第一光纤、第二光纤、第三光纤和第四光纤均为慢轴对齐的保偏光纤。4.根据权利要求1所述的测量光纤耦合器尾纤长度差距的系统，其特征在于所述光谱分析仪设置在支撑台的方式是通过联结件来把光谱分析仪和支撑台联结在一起，所述联结件横向设置，所述联结件朝下同支撑台上带有嵌接头的壁面相面对面，所述嵌接头同支撑台一体化连接，另外所述联结件的壁面面向所述嵌接头的地方设置着嵌接孔；所述联结件的相向的一对边壁各自朝上曲张还横向朝外伸展，所述嵌接孔设置在所述联结件上偏离所述曲张部分的地方，所述联结件的所述朝外伸展的部分上设置着一对以上的第一凹槽，所述第一凹槽内嵌有第一丝母，还有所述光谱分析仪从顶部到底部带有贯通孔；在所述支撑台上的嵌接头嵌接在所述联结件的嵌接孔，另外光谱分析仪放在所述联结件的顶壁时，所述光谱分析仪的贯通孔面对着所述联结件的第一凹槽，第一丝杠的顶部朝下...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶全意，
申请(专利权)人：金陵科技学院，
类型：发明
国别省市：江苏;32