K线形态识别方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种K线形态识别方法及装置，属于计算机技术领域。所述方法包括：获取待识别的K线数据；读取形态配置文件中的配置参数以及各个关键点的逻辑坐标，该形态配置文件指示预定形态；根据配置参数以及关键点的逻辑坐标对K线数据进行遍历识别，确定该K线数据是否与预定形态匹配。本发明专利技术解决了现有技术中人为标示K线形态的方法带有较多的主观性，且对于数据过多、图形密集的K线，分析师难以通过肉眼识别，对K线形态识别的误差率比较高的问题；可以让终端自动、快速的进行K线形态识别，摒弃人工识别的主观性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机
，特别涉及一种K线形态识别方法及装置。
技术介绍
K线形态是股票在下跌、盘整、上升过程中的价格轨迹的特征，通过观察多根K线组成的复合图形，可以判断股价的后期走向。常见的K线形态有W底、M顶、上升通道、下降通道等。现有的K线形态主要依靠人为识别，分析师可以通过局部放大K线图，凭借经验，将K线形态的各个特征标示出来。在实现本专利技术的过程中，专利技术人发现现有技术至少存在以下问题：现有的人为标示K线形态的方法带有较多的主观性，且对于数据过多、图形密集的K线，分析师难以通过肉眼识别，对K线形态识别的误差率比较高。
技术实现思路
为了解决现有技术中人为标示K线形态的方法带有较多的主观性，且对于数据过多、图形密集的K线，分析师难以通过肉眼识别，对K线形态识别的误差率比较高的问题，本专利技术实施例提供了一种K线形态识别方法及装置。所述技术方案如下：第一方面，提供了一种K线形态识别方法，所述方法包括：获取待识别的K线数据；读取形态配置文件中的配置参数以及各个关键点的逻辑坐标，所述形态配置文件指示预定形态；根据所述配置参数以及所述关键点的逻辑坐标对所述K线数据进行遍历识别，确定所述K线数据是否与所述预定形态匹配。可选的，所述根据所述配置参数以及所述关键点的逻辑坐标对所述K线数据进行遍历识别，确定所述K线数据是否与所述预定形态匹配，包括：确定第一视窗内的K线是否组成与所述预定形态匹配的形态；在所述第一视窗内的K线组成与所述预定形态匹配的形态，则将所述第一视窗的左边界值和右边界值均加1，得到第二视窗，进一步确定第二视窗内的K线是否组成与所述预定形态匹配的形态；在所述第一视窗内的K线未组成与所述预定形态匹配的形态，则将所述第一视窗的右边界值减1，得到第三视窗，在所述第三视窗的大小大于视窗最小值时，确定所述第三视窗内的K线是否组成与所述预定形态匹配的形态，在所述第三视窗的大小小于所述视窗最小值时，确定所述第一视窗内的K线是否与所述预定形态匹配。可选的，所述确定第一视窗内的K线是否与所述预定形态匹配，包括：将每条K线数据中的四个数据进行标准化，标准化后的数值均位于0-1之间，所述K线数据中的四个数据为所述K线对应的最高价、最低价、开盘价和收盘价；计算所述第一视窗内各条K线的逻辑位置；根据所述逻辑位置计算每条K线所对应的上边界线值和下边界线值；根据所述K线中四个数据标准化后的数值以及对应的所述上边界线值和下边界线值，计算所述第一视窗内的判定参数，所述预定判定参数包括点突破率、关键点错误率、通道突破率、通道缺损率以及适配率中的至少一种；根据所述判定参数，确定所述第一视窗内的K线数据与所述预定形态匹配。可选的，所述计算所述第一视窗内各条K线的逻辑位置，包括：获取所述第一视窗所对应通道的起始位置以及所述第一视窗的大小；对于每个K线，将所述K线的索引位置减去所述起始位置，将得到的差值除以所述第一视窗的大小，得到所述K线在所述第一视窗内的逻辑位置。可选的，所述根据所述逻辑位置计算每条K线所对应的上边界线值和下边界线值，包括：对于每条K线，确定出位于所述K线左侧最近的第一上边界关键点和右侧最近的第二上边界关键点，获取所述第一上边界关键点和所述第二上边界关键点之间的第一连线，计算所述K线的延长线与所述第一连线的第一交叉点，将所述第一交叉点的纵坐标确定为所述K线的上边界线值；确定出位于所述K线左侧最近的第一下边界关键点和右侧最近的第二下边界关键点，获取所述第一下边界关键点和所述第二下边界关键点之间的第二连线，计算所述K线的延长线与所述第二连线的第二交叉点，将所述第二交叉点的纵坐标确定为所述K线的下边界线值。可选的，所述根据所述K线中四个数据标准化后的数值以及对应的所述上边界线值和下边界线值，计算所述第一视窗内的判定参数，包括：对于所述第一视窗内的每条K线，当所述K线的最高点超过所述第一视窗的通道的上边界线时，计算所述K线的向上突破率，当所述K线的最低点超过所述通道的下边界线时，计算所述K线的向下突破率；或者，对于所述第一视窗内的每个关键点，分别计算所述关键点、所述关键点前的第一点和所述关键点后的第二点的上差值总和以及下差值总和，将得到的各个上差值总和加上得到的各个下差值总和，将得到的和值除以关键点数量的2倍，得到关键点错误率；或者，统计所述第一视窗向上突破的K线数量和向下突破的K线数量，将所述向上突破的K线数量加上所述向下突破的K线数量，将得到的和值除以所述第一视窗大小的2倍，得到通道突破率；或者，统计所述第一视窗内所有K线的上缺损值和下缺损值的总和，将所述总和除以所述第一视窗的大小，得到通道缺损率；或者，计算所述关键点错误率、所述通道突破率和所述通道缺损率的和值，将1减去所述和值，得到适配率。可选的，所述根据所述判定参数，确定所述第一视窗内的K线数据是否组成与所述预定形态匹配的形态，包括：在任何一条K线的向上突破率超过第一点突破率阈值或向下突破率超过第二点突破率阈值，或者，所述关键点错误率超过关键点错误率阈值，或者，所述通道突破率超过通道突破率阈值，或者，所述通道缺损率超过通道缺损率阈值，或者，所述适配率小于最低适配率阈值时，判定所述第一视窗内的K线数据与所述预定形态不匹配；在任何一条K线的向上突破率未超过第一点突破率阈值或向下突破率超过第二点突破率阈值，且，所述关键点错误率未超过关键点错误率阈值，且，所述通道突破率超过通道突破率阈值，且，所述通道缺损率未超过通道缺损率阈值，且，所述适配率大于最低适配率阈值时，判定所述第一视窗内的K线数据与所述预定形态匹配。第二方面，提供了一种K线形态识别装置，所述装置包括：获取模块，用于获取待识别的K线数据；读取模块，用于读取形态配置文件中的配置参数以及各个关键点的逻辑坐标，所述形态配置文件指示预定形态；确定模块，用于根据所述配置参数以及所述关键点的逻辑坐标对所述K线数据进行遍历识别，确定所述K线数据是否与所述预定形态匹配。可选的，所述确定模块，包括：第一确定单元，用于确定第一视窗内的K线是否组成与所述预定形态匹配的形态；第二确定单元，用于在所述第一视窗内的K线组成与所述预定形态匹配的形态，则将所述第一视窗的左边界值和右边界值均加1，得到第二视窗，进一步确定第二视窗内的K线是否组成与所述预定本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种K线形态识别方法，其特征在于，所述方法包括：获取待识别的K线数据；读取形态配置文件中的配置参数以及各个关键点的逻辑坐标，所述形态配置文件指示预定形态；根据所述配置参数以及所述关键点的逻辑坐标对所述K线数据进行遍历识别，确定所述K线数据是否与所述预定形态匹配。

【技术特征摘要】
1.一种K线形态识别方法，其特征在于，所述方法包括：
获取待识别的K线数据；
读取形态配置文件中的配置参数以及各个关键点的逻辑坐标，所述形态配
置文件指示预定形态；
根据所述配置参数以及所述关键点的逻辑坐标对所述K线数据进行遍历识
别，确定所述K线数据是否与所述预定形态匹配。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述配置参数以及
所述关键点的逻辑坐标对所述K线数据进行遍历识别，确定所述K线数据是否
与所述预定形态匹配，包括：
确定第一视窗内的K线是否组成与所述预定形态匹配的形态；
在所述第一视窗内的K线组成与所述预定形态匹配的形态，则将所述第一
视窗的左边界值和右边界值均加1，得到第二视窗，进一步确定第二视窗内的K
线是否组成与所述预定形态匹配的形态；
在所述第一视窗内的K线未组成与所述预定形态匹配的形态，则将所述第
一视窗的右边界值减1，得到第三视窗，在所述第三视窗的大小大于视窗最小值
时，确定所述第三视窗内的K线是否组成与所述预定形态匹配的形态，在所述
第三视窗的大小小于所述视窗最小值时，确定所述第一视窗内的K线是否与所
述预定形态匹配。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定第一视窗内的K线
是否与所述预定形态匹配，包括：
将每条K线数据中的四个数据进行标准化，标准化后的数值均位于0-1之
间，所述K线数据中的四个数据为所述K线对应的最高价、最低价、开盘价和
收盘价；
计算所述第一视窗内各条K线的逻辑位置；
根据所述逻辑位置计算每条K线所对应的上边界线值和下边界线值；
根据所述K线中四个数据标准化后的数值以及对应的所述上边界线值和下

\t边界线值，计算所述第一视窗内的判定参数，所述预定判定参数包括点突破率、
关键点错误率、通道突破率、通道缺损率以及适配率中的至少一种；
根据所述判定参数，确定所述第一视窗内的K线数据与所述预定形态匹配。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述计算所述第一视窗内各
条K线的逻辑位置，包括：
获取所述第一视窗所对应通道的起始位置以及所述第一视窗的大小；
对于每个K线，将所述K线的索引位置减去所述起始位置，将得到的差值
除以所述第一视窗的大小，得到所述K线在所述第一视窗内的逻辑位置。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述逻辑位置计算
每条K线所对应的上边界线值和下边界线值，包括：
对于每条K线，确定出位于所述K线左侧最近的第一上边界关键点和右侧
最近的第二上边界关键点，获取所述第一上边界关键点和所述第二上边界关键
点之间的第一连线，计算所述K线的延长线与所述第一连线的第一交叉点，将
所述第一交叉点的纵坐标确定为所述K线的上边界线值；
确定出位于所述K线左侧最近的第一下边界关键点和右侧最近的第二下边
界关键点，获取所述第一下边界关键点和所述第二下边界关键点之间的第二连
线，计算所述K线的延长线与所述第二连线的第二交叉点，将所述第二交叉点
的纵坐标确定为所述K线的下边界线值。
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述K线中四个数
据标准化后的数值以及对应的所述上边界线值和下边界线值，计算所述第一视
窗内的判定参数，包括：
对于所述第一视窗内的每条K线，当所述K线的最高点超过所述第一视窗
的通道的上边界线时，计算所述K线的向上突破率，当所述K线的最低点超过
所述通道的下边界线时，计算所述K线的向下突破率；
或者，
对于所述第一视窗内的每个关键点，分别计算所述关键点、所述关键点前
的第一点和所述关键点后的第二点的上差值总和以及下差值总和，将得到的各

\t个上差值总和加上得到的各个下差值总和，将得到的和值除以关键点数量的2
倍，得到关键点错误率；
或者，
统计所述第一视窗向上突破的K线数量和向下突破的K线数量，将所述向
上突破的K线数量加上所述向下突破的K线数量，将得到的和值除以所述第一
视窗大小的2倍，得到通道突破率；
或者，
统计所述第一视窗内所有K线的上缺损值和下缺损值的总和，将所述总和
除以所述第一视窗的大小，得到通道缺损率；
或者，
计算所述关键点错误率、所述通道突破率和所述通道缺损率的和值，将1
减去所述和值，得到适配率。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述判定参数，确
定所述第一视窗内的K线数据是否组成与所述预定形态匹配的形态，包括：
在任何一条K线的向上突破率超过第一点突破率阈值或向下突破率超过第
二点突破率阈值，或者，所述关键点错误率超过关键点错误率阈值，或者，所
述通道突破率超过通道突破率阈值，或者，所述通道缺损率超过通道缺损率阈
值，或者，所述适配率小于最低适配率阈值时，判定所述第一视窗内的K线数
据与所述预定形态不匹配；
在任何一条K线的向上突破率未超过第一点突破率阈值或向下突破率超过
第二点突破率阈值，且，所述关键点错误率未超过关键点错误率阈值，且，所
述通道突破率超过通道突破率阈值，且，所述通道缺损率未超过通道缺损率阈
值，且，所述适配率大于最低适配率阈值时，判定所述第一视窗内的K线数据
与所述预定形态匹配。
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【专利技术属性】
技术研发人员：吴善珩，蔡伟杰，
申请(专利权)人：上海银天下科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31