一种电子元件样本标注方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电子元件样本标注方法，包括：获取待标注的N个电子元件样本的图像；其中，N≥1；将每个电子元件样本的图像与模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值；根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行排序，并从排序后的所述N个电子元件样本中标注出所需的电子元件样本。相应的，本发明专利技术还公开了一种电子元件样本标注装置。采用本发明专利技术实施例，能够提高电子元件样本的标注效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自动光学检测领域，尤其涉及一种电子元件样本标注方法及装置。
技术介绍
自动光学检测(AOI,AutomatedOpticalInspection)为工业自动化有效的检测方法，使用机器视觉作为检测标准技术，大量应用于LCD/TFT、晶体管与PCB工业制程上。自动光学检测是工业制程中常见的代表性手法，利用光学方式取得成品的表面状态，以影像处理来检出异物或图案异常等瑕疵。对电子元件样本进行识别和标注对自动光学检测系统来说越来越重要，识别并标注出的电子元件样本，不但可以用来作为训练模型，提高(有极性)电子元件的极性识别效果，也可以用来检测电子元件的漏件情况(电子元件的漏件是一种二分类识别情况)。目前，现有技术中最常见的电子元件样本标注方法是通过全人工识别标注方法，即人工遍历所有待识别的电子元件样本，并对每个电子元件样本进行识别，进而标注标签。这种全人工的标注方法速度慢、效率低，及其耗时耗力。
技术实现思路
本专利技术实施例提出一种电子元件样本标注方法及装置，能够提高电子元件样本的标注效率。本专利技术实施例提供一种电子元件样本标注方法，包括：获取待标注的N个电子元件样本的图像；其中，N≥1；将每个电子元件样本的图像与模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值；根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行排序，并从排序后的所述N个电子元件样本中识别并标注出所需的电子元件样本。进一步地，所述将每个电子元件样本的图像与模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值，具体包括：将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的第一匹配值；计算最小的M个第一匹配值的平均值；其中，M≥1；判断所述平均值是否小于预设的阈值；若是，则将所述每个电子元件样本的第一匹配值作为其匹配度值；若否，则将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值。进一步地，所述将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的第一匹配值，具体包括：采用模板匹配算法，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，计算获得所述每个电子元件样本的第一匹配值。进一步地，所述将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值，具体包括：采用纹理信息匹配算法，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，计算获得所述每个电子元件样本的第二匹配值；计算所述每个电子元件样本的所述第一匹配值和所述第二匹配值的平均值，并将计算获得的平均值作为所述电子元件样本的匹配度值。进一步地，所述根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行排序，并从排序后的所述N个电子元件样本中识别并标注出所需的电子元件样本，具体包括：根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行升序排列，并按照排列顺序将N个电子元件样本划分为P组；P≥1；分别对每组电子元件样本进行识别，并对识别出的所需的电子元件样本进行标注。相应的，本专利技术实施例还提供一种电子元件样本标注装置，包括：样本图像获取模块，用于获取待识别的N个电子元件样本的图像；其中，N≥1；匹配模块，用于将每个电子元件样本的图像与模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值；以及，识别标注模块，用于根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行排序，并从排序后的所述N个电子元件样本中识别并标注出所需的电子元件样本。进一步地，所述匹配模块具体包括：第一匹配单元，用于将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的第一匹配值；计算单元，用于计算最小的M个第一匹配值的平均值；其中，M≥1；判断单元，用于判断所述平均值是否小于预设的阈值；匹配度值获取单元，用于在所述判断单元判定为是时，将所述每个电子元件样本的第一匹配值作为其匹配度值；以及，第二匹配单元，用于在所述判断单元判定为否时，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值。进一步地，所述第一匹配单元具体用于采用模板匹配算法，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，计算获得所述每个电子元件样本的第一匹配值。进一步地，所述第二匹配度单元具体包括：匹配值计算子单元，用于采用纹理信息匹配算法，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，计算获得所述每个电子元件样本的第二匹配值；以及，匹配度值获取子单元，用于计算所述每个电子元件样本的所述第一匹配值和所述第二匹配值的平均值，并将计算获得的平均值作为所述电子元件样本的匹配度值。进一步地，所述识别标注模块具体包括：排序单元，用于根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行升序排列，并按照排列顺序将N个电子元件样本划分为P组；以及，识别标注单元，用于分别对每组电子元件样本进行识别，并对识别出的所需的电子元件样本进行标注。实施本专利技术实施例，具有如下有益效果：本专利技术实施例提供的电子元件样本标注方法及装置，能够将每个电子元件样本的图像与模板图像进行匹配，并根据匹配后每个电子元件样本的匹配度信息对所有电子元件样本进行排序，从而从排序后的电子元件样本中快速标注出所需的电子元件样本，提高电子元件样本的标注效率。而且，在对每个电子元件样本的图像进行匹配时，先进行模板匹配，在模板匹配的结果未达到预期效果时，再进行纹理信息匹配，以提高匹配度的准确性，进而提高排序的准确性，从而提高电子元件样本的标注效率。附图说明图1是本专利技术提供的电子元件样本标注方法的一个实施例的流程示意图；图2是本专利技术提供的电子元件样本标注方法中步骤S2的一个实施例的流程示意图；图3是本专利技术提供的电子元件样本标注装置的一个实施例的结构示意图；图4是本专利技术提供的电子元件样本标注装置中匹配模块的一个实施例的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。参见图1，本专利技术提供的电子元件样本标注方法本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元件样本标注方法，其特征在于，包括：获取待标注的N个电子元件样本的图像；其中，N≥1；将每个电子元件样本的图像与模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配度值；根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行排序，并从排序后的所述N个电子元件样本中识别并标注出所需的电子元件样本。

【技术特征摘要】
1.一种电子元件样本标注方法，其特征在于，包括：
获取待标注的N个电子元件样本的图像；其中，N≥1；
将每个电子元件样本的图像与模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件
样本的匹配度值；
根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行排序，并从排序后的所述
N个电子元件样本中识别并标注出所需的电子元件样本。
2.如权利要求1所述的电子元件样本标注方法，其特征在于，所述将每个
电子元件样本的图像与模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样本的匹配
度值，具体包括：
将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，获得所述每个
电子元件样本的第一匹配值；
计算最小的M个第一匹配值的平均值；其中，M≥1；
判断所述平均值是否小于预设的阈值；
若是，则将所述每个电子元件样本的第一匹配值作为其匹配度值；
若否，则将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，
获得所述每个电子元件样本的匹配度值。
3.如权利要求2所述的电子元件样本标注方法，其特征在于，所述将所述
每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行匹配，获得所述每个电子元件样
本的第一匹配值，具体包括：
采用模板匹配算法，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行
匹配，计算获得所述每个电子元件样本的第一匹配值。
4.如权利要求2所述的电子元件样本标注方法，其特征在于，所述将所述
每个电子元件样本的图像与所述模板图像进行二次匹配，获得所述每个电子元

\t件样本的匹配度值，具体包括：
采用纹理信息匹配算法，将所述每个电子元件样本的图像与所述模板图像
进行二次匹配，计算获得所述每个电子元件样本的第二匹配值；
计算所述每个电子元件样本的所述第一匹配值和所述第二匹配值的平均值，
并将计算获得的平均值作为所述电子元件样本的匹配度值。
5.如权利要求1至4任一项所述的电子元件样本标注方法，其特征在于，
所述根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行排序，并从排序后的所述
N个电子元件样本中识别并标注出所需的电子元件样本，具体包括：
根据所述匹配度值对所述N个电子元件样本进行升序排列，并按照排列顺
序将N个电子元件样本划分为P组；P≥1；
分别对每组电子元件样本进行识别，并对识别出的所需的电...

【专利技术属性】
技术研发人员：林建民，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44