【技术实现步骤摘要】
本技术涉及真空镀膜
,尤其是一种薄膜在线监测装置。
技术介绍
目前,大面积玻璃镀膜膜层质量的监测方式,都是采用离线监测的方法,即玻璃完成镀膜后,再通过专门的测试仪器对膜层质量进行监测;此类方法虽然能测试大面积玻璃镀膜的膜层厚度,但是由于是离线测量,会造成反馈延时,工程人员不能及时得到相关镀膜数据进行相关的分析,镀膜过程中无法掌控镀膜的质量,不能在镀膜过程中及时的进行工艺质量调整,往往致使产品不良、材料浪费,增加企业的运营成本。
技术实现思路
为解决上述技术问题,本技术目的是提供一种薄膜在线监测装置。本技术采用的技术方案是:一种薄膜在线监测装置,包括一膜层分析装置以及分别与膜层分析装置电性连接的至少一膜层测量仪探头、至少一红外测温探头,该膜层测量仪探头用于检测镀膜时玻璃芯片的镀膜参数模拟值,该红外测温探头用于检测镀膜时玻璃芯片的表面温度模拟值,膜层分析装置用于根据所述镀膜参数模拟值、表面温度模拟值计算并且显示镀膜参数。所述膜层分析装置设置有显示屏。所述镀膜参数模拟值包括膜层的厚度、透过率、折射率、反射率、消光系数中的一种或多种。本技术的有益效果:本技术在线监测装置相对于传统离线监测装置监测速度更快,且在线监测是对每一片镀膜玻璃的膜层厚度进行监测,技术人员可以根据每片玻璃的镀膜装置对工艺和设备进行调整,避免了由于监测遗漏造成的损失,大大降低了企业运营成本。附图说明下面结合附图对本技术的具体实施方式做进一步的说明。图1为本技术薄膜在线监测装置的结构示意图。具体实施方式如图1所示,为本技术的一种薄膜在线监测装置,包括一膜层分析装置5以及分别与膜层分析装置电性连接的 ...
【技术保护点】
一种薄膜在线监测装置,其特征在于:包括一膜层分析装置以及分别与膜层分析装置电性连接的至少一膜层测量仪探头、至少一红外测温探头,该膜层测量仪探头用于检测镀膜时玻璃芯片的镀膜参数模拟值,该红外测温探头用于检测镀膜时玻璃芯片的表面温度模拟值,膜层分析装置用于根据所述镀膜参数模拟值、表面温度模拟值计算并且显示镀膜参数。
【技术特征摘要】
1.一种薄膜在线监测装置,其特征在于:包括一膜层分析装置以及分别与膜层分析装置电性连接的至少一膜层测量仪探头、至少一红外测温探头,该膜层测量仪探头用于检测镀膜时玻璃芯片的镀膜参数模拟值,该红外测温探头用于检测镀膜时玻璃芯片的表面温度模拟值,膜层分析装置用于根据所述镀膜参数...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈金良,焦伟,何光俊,齐鹏飞,
申请(专利权)人:中山瑞科新能源有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
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