基于矩阵选通TR组件幅相的测试方法技术

技术编号:14682445 阅读:118 留言:0更新日期:2017-02-22 15:47
本发明专利技术公开了一种基于矩阵选通TR组件幅相的测试法,利用本发明专利技术可以显著减少测试人员工作量。本发明专利技术通过下述技术方式予以实现:在相控阵雷达天线中加装接收测试信号的多路矩阵开关,雷达内部的频率源产生两路测试信号,通过矩阵开关输入被测TR组件和馈电支路;波控器按雷达终端计算机TR组件接收幅相测试指令程序,将幅相调整和变频信息叠加在该测试信号上,叠加幅相信息后的测试信号被传输给与之相连的接收机,接收机将输入信号下变频和放大后送给与之相连的信号处理机,信号处理机解算出测试信号幅相值,雷达终端计算机对实测幅相值与理论幅相值进行比较,判断TR组件及馈电支路是否正常,从而获取该TR组件的移相和调幅误差,以此循环,完所有TR组件及对应馈电网络的测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种有源相控阵雷达TR组件幅相的测试方法,具体涉及对相控阵中关键设备—TR组件及其相关馈电网络进行测试的方法。
技术介绍
TR组件是相控阵雷达有源分布阵列天线的核心部件,其性能直接决定了整个雷达系统的性能。一部相控阵雷达通常具有成百上千个TR组件,如采用人工测试或校准TR组件需要花费很长的时间。在相控阵雷达研制与生产过程中,TR组件和有源相控阵的自动测试技术是影响产品研制和生产进度及产品质量的关键技术之一。由于相控阵天线性能与单元幅相一致性密切相关,而单元幅相又由与之相连的TR组件和馈电支路决定,因此TR组件和馈电支路幅相一致性、准确性至关重要。随着雷达环境温度、湿度等的变化,以及雷达使用年限的增加,可能出现馈线插损增加、连接器松动、结构件变形,尤其相控阵天线核心源器件—TR组件,由于其为有源设备,更易发生增益下降、移相超差、幅度不受控、功放管损坏等故障,这些变化均会使天线辐射单元幅相受到影响,造成天线方向图畸变,波束指向精度、天线增益、波宽、副瓣电平等指标超差,天线性能下降,严重时可能导致天线功能丧失,雷达不能探测目标。综上所述,相控阵天线的TR组件和馈电支路必须定本文档来自技高网...
<a href="http://www.xjishu.com/zhuanli/52/201610728764.html" title="基于矩阵选通TR组件幅相的测试方法原文来自X技术">基于矩阵选通TR组件幅相的测试方法</a>

【技术保护点】
一种基于矩阵选通TR组件幅相的测试法,其特征在于包括如下步骤:在相控阵雷达天线中加装接收测试信号的多路矩阵开关,再由雷达内部的频率源产生两路测试信号,一路通过放大功分器输入与TR组件相连的馈电网络,另一路通过矩阵开关注入被测TR组件和馈电支路;TR组件受控于与之相连的波控器,波控器按雷达终端计算机TR组件接收幅相测试指令程序,对被测TR组件和馈电支路进行逐位移相、调幅和变频,将幅相调整和变频信息叠加在测试信号上,叠加幅相信息的测试信号被送至与之相连的接收机中,接收机将输入信号下变频和放大后送给与之相连的信号处理机,信号处理机通过数字信号处理,将解算出测试信号上搭载的被测幅相信息送至雷达终端计算...

【技术特征摘要】
1.一种基于矩阵选通TR组件幅相的测试法,其特征在于包括如下步骤:在相控阵雷达天线中加装接收测试信号的多路矩阵开关,再由雷达内部的频率源产生两路测试信号,一路通过放大功分器输入与TR组件相连的馈电网络,另一路通过矩阵开关注入被测TR组件和馈电支路;TR组件受控于与之相连的波控器,波控器按雷达终端计算机TR组件接收幅相测试指令程序,对被测TR组件和馈电支路进行逐位移相、调幅和变频,将幅相调整和变频信息叠加在测试信号上,叠加幅相信息的测试信号被送至与之相连的接收机中,接收机将输入信号下变频和放大后送给与之相连的信号处理机,信号处理机通过数字信号处理,将解算出测试信号上搭载的被测幅相信息送至雷达终端计算机,对实测幅相值与理论幅相值进行比较,判断TR组件及馈电支路是否正常,并获取具体的移相和调幅误差,以此循环,完成所有TR组件及对应馈电网络的测试,给出TR组件及相应馈电支路状态信息及天线各辐射单元幅相一致性的信息。2.如权利要求1所述的基于矩阵选通TR组件幅相的测试法,其特征在于:雷达终端计算机在判断TR组件及馈电支路是否正常中,其中一个TR组件或馈电支路移相或调幅不受控或严重超差,则判定该TR组件或馈电支路故障,并给出相应声光提示信息,以数据和日志文件方式进行记录。3.如权利要求2所述的基于矩阵选通TR组件幅相的测试法,其特征在于:雷达终端计算机在判断TR组件及馈电支路是否正常中,若移相或调幅有一定误差,但未超出允许范围,则雷达终端计算机自动生成校正参数,通过修改波控器零相数据,实现幅相补偿,若误差微小,不影响天线性能,则不作任何调整,并给出性能良好报告。4.如权利要求3所述的基于矩阵选通TR组件幅相的测试法,其特征在于:频率源产生测试信号,TR组件和馈电支路对测试信号作为被测对象,测试过程中对输入的测试信号进行幅相调制,接收机对调制后的信号进行变频放大,信号处理机解调信...

【专利技术属性】
技术研发人员:谭博张杰张静张文宝伍怀琪张绍华延伟勤
申请(专利权)人:零八一电子集团有限公司
类型:发明
国别省市:四川;51

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