图像坏点矫正方法及相关装置制造方法及图纸

本申请提供一种图像坏点矫正方法及相关装置，其根据图像传感器的坏点坐标确定各个像素点的属性值，并将该各个像素点的属性值作为坏点信息存储至外部存储器中；在图像传感器输出成像图像时，从上述外部存储器中读取各个像素点的属性值，并根据该属性值及预设矫正算法，完成对所述成像图像中坏点的矫正。本申请通过外部存储器来存储坏点信息，可以满足高分辨率、多坏点的图像传感器的坏点信息存储需求；由于该外部存储器的读取速度不小于预设速度，可以保证图像处理芯片对坏点信息的加载速度；本申请以预先根据坏点坐标所确定的属性值为坏点信息，可以减少预设矫正算法执行过程中的数据处理量，从而提高坏点矫正效率，保证坏点矫正的实时性。

Method and apparatus for image defect correction

The present invention provides a method and apparatus for correcting image pixels, the pixel coordinates of the image sensor is determined according to the attribute of each pixel value, and the attributes of each pixel value as the pixel information stored in the external memory; the image sensor output imaging image, each pixel read attribute values from the the external memory, and according to the attribute value and a preset correction algorithm, complete correction of the imaging points in the image. The application to store the pixel information through the external memory, can meet the demand for information storage point of image sensor with high resolution and multi points; due to the external memory read speed of not less than the preset speed, can guarantee that the image processing chip of pixel information loading speed; attribute this application in advance according to the pixel coordinate value to determine the dead to reduce the amount of information, can handle the preset correction algorithm in the implementation of the data, so as to improve the defect correction efficiency, ensure real-time correction of the dead.

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及图像处理
，尤其涉及一种图像坏点矫正方法及相关装置。
技术介绍
随着技术的发展，图像传感器的分辨率越来越高，从而可以使得相机等图像采集设备获取到更为清晰的图像。但是，图像传感器分辨率越高，其靶面上的像素点越多，由于制造工艺的限制，这些像素点中的坏像素点(简称坏点)也越多，影响成像质量。因此，有必要对带有坏点的图像传感器获取到的每个图像进行坏点矫正，最终输出完整的没有坏点的图像。相关技术中，典型的坏点矫正过程包括三个环节：坏点标定、坏点信息加载和坏点矫正。其中，坏点标定环节，即利用PC(PersonalComputer，个人电脑)等相关测试设备对图像传感器的靶面进行测试，确定该靶面上的坏点坐标；坏点信息加载，即将坏点标定环节得到的坏点坐标存储在图像采集设备的存储单元中，当图像采集设备的图像传感器输出成像图像后，相应的图像处理芯片从上述存储单元中读取坏点坐标，以准备对该成像图像进行矫正；坏点矫正，即上述图像处理芯片通过执行预先设定的坏点矫正算法，来对上述成像图像中坏点坐标对应的像素点进行矫正，得到无坏点的目标图像。其中，上述用于执行坏点矫正的图像处理芯片包括FPGA(Field－ProgrammableGateArray，现场可编程门阵列)、ASIC(ApplicationSpecificIntegratedCircuits，专用集成电路)等芯片；常用的坏点矫正算法包括直接替换法、权重替换法、插值法等，通常将坏点矫正算法的代码固化写入上述图像处理芯片中。专利技术人在本申请的研究过程中发现，相关技术一般直接将FPGA、ASIC等图像处理芯片的内部存储空间作为坏点坐标的存储单元，以利用其内部存储空间读取速度高的特点来实现对坏点坐标的快速加载，保证对图像坏点矫正的实时性。但是，对于高分辨率的图像传感器，其坏点个数较多，相应的存储坏点坐标所需的存储单元容量也较大，而图像处理芯片的内部存储空间往往很小，难以满足多坏点存储需求；如果借助图像处理芯片的外部存储空间来存储坏点坐标，则会因外部存储空间的读取带宽限制处理芯片对坏点坐标的加载速度，从而降低坏点矫正的效率及实时性。可见，如何在多坏点情况下，既满足大存储空间的要求，又满足对坏点坐标的快速加载要求，是目前像素坏点矫正技术亟需解决的问题。
技术实现思路
本申请提供了一种图像坏点矫正方法及相关装置，以解决相关技术中对坏点坐标的存储空间与加载速度之间的矛盾。为了解决上述技术问题，本申请实施例公开了如下技术方案：本申请实施例的第一方面，提供一种图像坏点矫正方法，应用于具有图像传感器的图像采集设备；该方法包括：获取图像传感器的坏点坐标；根据所述坏点坐标确定图像传感器的各个像素点对应的属性值；将所述各个像素点的属性值存储于读取速度不小于预设速度的外部存储器；当接收到图像传感器输出的成像图像时，从所述外部存储器中读取所述各个像素点的属性值；执行预设矫正算法，并根据所述各个像素点的属性值对所述成像图像进行坏点矫正。可选的，根据所述坏点坐标确定图像传感器的各个像素点对应的属性值，包括：分别以图像传感器的每个像素点为当前像素点，根据所述当前像素点的坐标和所述坏点坐标确定所述当前像素点的位置属性；获取所述预设矫正算法对应的位置属性与属性值之间的预设映射关系；根据所述预设映射关系以及所述当前像素点的位置属性，查找得到所述当前像素点的属性值。可选的，当所述预设矫正算法为直接替换法时，所述当前像素点的位置属性包括以下五种中的一种：当前像素点为正常点；当前像素点为坏点，且左侧相邻点为正常点；当前像素点为坏点，且右侧相邻点为正常点；当前像素点为坏点，且上侧相邻点为正常点；当前像素点为坏点，且下侧相邻点为正常点；所述五种位置属性对应的属性值分别为位宽为3bit的二进制常数。可选的，所述图像坏点矫正方法还包括：计算图像传感器的像素时钟与所述属性值的位宽之间的乘积，并根据所述乘积确定所述预设速度。可选的，所述外部存储器至少包括：任一型号的双倍速率同步动态随机存储器DDR。本申请实施例的第二方面，提供一种图像坏点矫正装置，应用于具有图像传感器的图像采集设备；该装置包括：坏点坐标获取单元，用于获取图像传感器的坏点坐标；坏点信息转换单元，用于根据所述坏点坐标确定图像传感器的各个像素点对应的属性值，并将所述各个像素点的属性值存储于读取速度不小于预设速度的外部存储器；坏点信息加载单元，用于当接收到图像传感器输出的成像图像时，从所述外部存储器中读取所述各个像素点的属性值；坏点矫正执行单元，用于执行预设矫正算法，并根据所述各个像素点的属性值对所述成像图像进行坏点矫正。可选的，为实现根据所述坏点坐标确定图像传感器的各个像素点对应的属性值，所述坏点信息转换单元具体被配置为：分别以图像传感器的每个像素点为当前像素点，根据所述当前像素点的坐标和所述坏点坐标确定所述当前像素点的位置属性；获取所述预设矫正算法对应的位置属性与属性值之间的预设映射关系；根据所述预设映射关系以及所述当前像素点的位置属性，查找得到所述当前像素点的属性值。可选的，当所述预设矫正算法为直接替换法时，所述坏点信息转换单元所确定的当前像素点的位置属性包括以下五种中的一种：当前像素点为正常点；当前像素点为坏点，且左侧相邻点为正常点；当前像素点为坏点，且右侧相邻点为正常点；当前像素点为坏点，且上侧相邻点为正常点；当前像素点为坏点，且下侧相邻点为正常点；所述五种位置属性对应的属性值分别为位宽为3bit的二进制常数。本申请实施例的第三方面，提供一种图像采集设备，包括：图像传感器、外部存储器以及上文任一项所述的图像坏点矫正装置。可选的，所述外部存储器至少包括：任一型号的双倍速率同步动态随机存储器DDR。由以上技术方案可知，本申请实施例根据图像传感器的坏点坐标确定各个像素点的属性值，并将该各个像素点的属性值作为坏点信息存储至外部存储器中，且该外部传感器的读取速度不小于预设速度；在接收到图像传感器输出的成像图像时，图像处理芯片从上述外部存储器中读取坏点信息，即各个像素点的属性值，并将该属性值应用于预设矫正算法中，完成对所述成像图像中坏点的矫正。可见，本申请实施例通过外部存储器代替现有技术常用的图像处理芯片的内部存储空间来存储坏点信息，可以满足图像传感器分辨率高、坏点多的情况下大量坏点信息的存储需求；同时，由于该对外部存储器的读取速度不小于预设速度，可以保证图像处理芯片对坏点信息的加载速度；而且，相对于现有技术以坏点坐标为坏点信息的处理方式，本申请实施例以预先根据坏点坐标所确定的属性值为坏点信息，应用于预设矫正算法中，可以减少预设矫正算法执行过程中的数据处理量，从而提高坏点矫正效率，保证坏点矫正的实时性。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1为本申请实施例提供的一种图像采集设备的硬件结构图；图2为本申请实施例提供的一种图像坏点矫正方法的流程图本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种图像坏点矫正方法，其特征在于，应用于具有图像传感器的图像采集设备，包括：获取图像传感器的坏点坐标；根据所述坏点坐标确定图像传感器的各个像素点对应的属性值；将所述各个像素点的属性值存储于读取速度不小于预设速度的外部存储器；当接收到图像传感器输出的成像图像时，从所述外部存储器中读取所述各个像素点的属性值；执行预设矫正算法，并根据所述各个像素点的属性值对所述成像图像进行坏点矫正。

【技术特征摘要】
1.一种图像坏点矫正方法，其特征在于，应用于具有图像传感器的图像采集设备，包括：获取图像传感器的坏点坐标；根据所述坏点坐标确定图像传感器的各个像素点对应的属性值；将所述各个像素点的属性值存储于读取速度不小于预设速度的外部存储器；当接收到图像传感器输出的成像图像时，从所述外部存储器中读取所述各个像素点的属性值；执行预设矫正算法，并根据所述各个像素点的属性值对所述成像图像进行坏点矫正。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述坏点坐标确定图像传感器的各个像素点对应的属性值，包括：分别以图像传感器的每个像素点为当前像素点，根据所述当前像素点的坐标和所述坏点坐标确定所述当前像素点的位置属性；获取所述预设矫正算法对应的位置属性与属性值之间的预设映射关系；根据所述预设映射关系以及所述当前像素点的位置属性，查找得到所述当前像素点的属性值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述预设矫正算法为直接替换法时，所述当前像素点的位置属性包括以下五种中的一种：当前像素点为正常点；当前像素点为坏点，且左侧相邻点为正常点；当前像素点为坏点，且右侧相邻点为正常点；当前像素点为坏点，且上侧相邻点为正常点；当前像素点为坏点，且下侧相邻点为正常点；所述五种位置属性对应的属性值分别为位宽为3bit的二进制常数。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，还包括：计算图像传感器的像素时钟与所述属性值的位宽之间的乘积，并根据所述乘积确定所述预设速度。5.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述外部存储器至少包括：任一型号的双倍速率同步动态随机存储器DDR。6.一种图像坏点矫正装置，其特征在于，应用于具有图像传感器...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨艺，刘海军，谢森，
申请(专利权)人：凌云光技术集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11