本发明专利技术公开了一种数显三轴测斜仪校验台，由下向上依次包括有底座、固定底板、下固定盘、下齿轮盘、支架、第一井斜支架、第二井斜支架、双轴校验装置、第一光栅数显测量机构和第二光栅数显测量机构。本发明专利技术通过光栅编码器输入轴带动码盘旋转时，获得编码器输入轴旋转的角度，从而实现以光栅编码器做为角度传感器，结合光电解码器构成高精度检测台，同时通过设置三轴标定转台，使本发明专利技术能够对测斜仪进行行数字化的读数系，而且极大的减小了人工读数错误的可能性，从而有效的提高标定参数计算的准确性。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测斜仪
，尤其涉及一种数显三轴测斜仪校验台。
技术介绍
目前，测斜仪校验台是用于磁测量设备、磁导航设备及其它姿态测量产品的标定、检验的设备。主要应用于石油钻井测斜仪和煤矿用钻孔测斜仪的标定、检验。在钻井、钻孔技术快速发展的今天，测斜仪是水平井、定向井、钻孔等钻井、钻孔工程中测量井/孔的轨迹必要的仪器。测斜仪是基于磁场传感器和加速度传感器设计的，磁场传感器和加速度传感器在测斜仪上安装是有一定规则的，但由于安装工具的误差，这就会导致磁场传感器和加速度传感器的安装与实际的安装规则有一定的误差，这就需要用校验台给测斜仪做标定，把误差纠正过来。测斜仪经过运输振动后，传感器的输出会产生漂移，需要校验台对测斜仪做检验、标定。测斜仪在井下高温、高振动等复杂工况环境下工作一段时间后，传感器输出也会产生漂移，也需要校验台对测斜仪做检验、标定。现有的标定设备要求机械加工精度高，度盘刻度准确，采集数据时需要较高的定位精度和读数准确性，对操作人员的专业技术水平提出了较高的要求，往往需要操作人员进行岗前培训，然后由技术人员操作校验台对测斜仪进行校验以及数据的读取。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种数显三轴测斜仪校验台，能够进行数字化的读数系，提高了读数精度，极大的减小了人工读数错误的可能性，从而有效的提高标定参数计算的准确性。本专利技术采用的技术方案为：一种数显三轴测斜仪校验台，由下向上依次包括有底座1、固定底板2、下固定盘3、下齿轮盘4、支架14、第一井斜支架21、第二井斜支架22、双轴校验装置、第一光栅数显测量机构和第二光栅数显测量机构；所述的底座1设置有三个，固定底板2上设置有三个120°均布的螺纹孔，三个底座1通过螺纹孔与固定底板2固定连接，所述的下固定盘3通过固定螺钉反向固定在固定地板2上，下齿轮盘4设置在下固定盘3上，且下齿轮盘4、下固定盘3和固定底板2的中间均设置有过孔，且为同心设置；所述的过孔中固定设置有第一光栅数显测量机构6和光栅轴5，所述的光栅轴5与光栅数显机构6滑动配合；所述固定底板2上还设置有下与齿轮盘4通过齿轮之间的咬合连接的传动齿轮8，所述的传动齿轮8上设置有涡轮7，二者通过涡轮固定轴9相连接，涡轮固定轴9通过涡轮总成10固定在固定底板2上；涡轮7的一侧还设置有与其齿合的蜗杆11，所述的蜗杆11通过蜗杆总成12固定在下固定板2上，且蜗杆11的端部还设置有把手；所述的第二光栅数显测量机构26通过挠性联轴器27固定设置在连接块16的第一半轴端部；所述的双轴校验装置通过第一、第二井斜支架固定在两个支架14上，所述的校验装置包括有连接块16、工具筒15、工具游标尺20和工具面盘19；所述的连接块16为筒式部件，筒式部件中间部分通过两个半轴均匀对称的固定在第一、第二井斜支架之间；所述的工具筒15穿过连接块16设置，所述的连接块16上靠近工具筒15的两端分别设置有一个轴承17，所述的两个轴承17分别通过一个压板与连接块16相固定；所述工具筒15外环固定设置有工具面盘19，工具面盘19上固定设置工具游标尺20，工具游标尺20的刻线工具面盘19刻线对齐。井斜支架上还设置有微调装置，所述的微调装置包括连接杆28，所述连接杆28一端套设在连接块第一半轴的端部，另一端与滑块31通过销钉轴30相连接；所述的滑块31设置在水平放置的调整丝杆32上，所述的滑块31上设置有丝孔通孔，丝孔通孔的内螺纹与调整丝杆32上的外螺纹相配合。还包括有锁紧结构29，所述的锁紧结构29设置在连接杆28上，用于限定连接杆28与连接块第一半轴的传动。所述的光栅数显测量机构包括光栅编码器和光栅解码器；所述的光栅编码器由码盘、光源、光敏电阻、计数器、数据处理电路组成，所述的光敏电阻输出端连接输出处理电路的输入端，数据处理电路的输出端连接计数器、显示器的输入端。第一井斜支架上还设置有用于固定井斜游标尺25的内孔，井斜盘固定设置在在连接块16上第二半轴的端部，且井斜盘零刻线朝上，并用锁紧压帽24锁紧；所述的井斜盘与井斜游标尺25紧贴滑动设置。所述的下齿轮盘4圆周360°均分360个刻线。还设置有方位游标尺13，所述的方位游标尺13固定在固定底板2上，且方位标尺13和下齿轮盘4刻线相对齐；所述方位游标尺13在斜面上向心19°均分20个刻线。所述井斜游标尺25是零线两侧59°向心均布60条刻线，保证井斜精度为1′。所述的支架14有两个，两个支架14通过八个螺钉固定在下齿轮盘4上。所述的轴承17为高精度陶瓷轴承。本专利技术通过码盘、光源、光敏电阻、计数器、数据处理电路等组成光栅编码器，光栅编码器输入轴带动码盘旋转时，光敏电阻就会感受到明暗交替的条纹，处理电路相应的输出高电平或低电平信号，码盘的旋转角度与明暗条纹的个数和高低电平的个数成正比；计数器通过对高低电平的个数进行计数，从而获得编码器输入轴旋转的角度，之后在显示器上显示出角度值，从而实现以光栅编码器做为角度传感器，结合光电解码器构成高精度检测台，同时通过设置三轴标定转台，使本专利技术能够对测斜仪进行行数字化的读数系，而且极大的减小了人工读数错误的可能性，从而有效的提高标定参数计算的准确性。附图说明图1为本专利技术的结构示意图；图2为本专利技术D的局部放大；图3为本专利技术所述蜗轮总成的局部放大图；图4为本专利技术所述方位游标尺的安装位置示意图；图5为本专利技术所述锁紧结构的结构示意图；图6为本专利技术所述工具面轴的侧面剖视图；图7为本专利技术所述工具游标尺和工具面盘之间的刻线的示意图；图8为本专利技术所述工具游标尺和工具面盘之间的刻线的示意图。具体实施方式如图1和2所示，本专利技术包括一种数显三轴测斜仪校验台，由下向上依次包括有底座1、固定底板2、下固定盘3、下齿轮盘4、支架14、第一井斜支架21、第二井斜支架22、双轴校验装置、第一光栅数显测量机构和第二光栅数显测量机构；所述的底座1设置有三个，固定底板2上设置有三个120°均布的螺纹孔，三个底座1通过螺纹孔与固定底板2固定连接，所述的下固定盘3通过固定螺钉反向固定在固定地板2上，下齿轮盘4设置在下固定盘3上，且下齿轮盘4、下固定盘3和固定底板2的中间均设置有过孔，且为同心设置；所述的过孔中固定设置有第一光栅数显测量机构6和光栅轴5，所述的光栅轴5与光栅数显机构6滑动配合；如图3所示，所述固定底板2上还设置有下与齿轮盘4通过齿轮之间的咬合连接的传动齿轮8，所述的传动齿轮8上设置有涡轮7，二者通过涡轮固定轴9相连接，涡轮固定轴9通过涡轮总成10固定在固定底板2上；涡轮7的一侧还设置有与其齿合的蜗杆11，所述的蜗杆11通过蜗杆总成12固定在下固定板2上，且蜗杆11的端部还设置有把手；所述的第二光栅数显测量机构26通过挠性联轴器27固定设置在连接块16的第一半轴端部；此处设置形成了第一轴即方位轴的设计。所述的双轴校验装置通过第一、第二井斜支架固定在两个支架14上，所述的校验装置包括有连接块16、工具筒15、工具游标尺20和工具面盘19；所述的连接块16为筒式部件，筒式部件中间部分通过两个半轴均匀对称的固定在第一、第二井斜支架之间；所述的工具筒15穿过连接块16设置，所述的连接块16上靠近工具筒15的两端分别设置有一个轴承17，所述的两个轴承17分别通过一个压板与连接块16相固定本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种数显三轴测斜仪校验台，其特征在于：由下向上依次包括有底座（1）、固定底板（2）、下固定盘（3）、下齿轮盘（4）、支架（14）、第一井斜支架（21）、第二井斜支架（22）、双轴校验装置、第一光栅数显测量机构和第二光栅数显测量机构；所述的底座（1）设置有三个，固定底板（2）上设置有三个120°均布的螺纹孔，三个底座（1）通过螺纹孔与固定底板（2固定连接，所述的下固定盘（3）通过固定螺钉反向固定在固定地板（2）上，下齿轮盘（4）设置在下固定盘（3）上，且下齿轮盘（4）、下固定盘（3）和固定底板(2)的中间均设置有过孔，且为同心设置；所述的过孔中固定设置有第一光栅数显测量机构(6)和光栅轴(5)，所述的光栅轴(5)与光栅数显机构(6)滑动配合；所述固定底板(2)上还设置有下与齿轮盘(4)通过齿轮之间的咬合连接的传动齿轮(8)，所述的传动齿轮(8)上设置有涡轮(7)，二者通过涡轮固定轴(9)相连接，涡轮固定轴(9)通过涡轮总成(10)固定在固定底板(2)上；涡轮(7)的一侧还设置有与其齿合的蜗杆(11)，所述的蜗杆(11)通过蜗杆总成(12)固定在下固定板(2)上，且蜗杆(11)的端部还设置有把手；所述的第二光栅数显测量机构(26)通过挠性联轴器(27)固定设置在连接块(16)的第一半轴端部；所述的双轴校验装置通过第一、第二井斜支架固定在两个支架(14)上，所述的校验装置包括有连接块(16)、工具筒(15)、工具游标尺(20)和工具面盘(19)；所述的连接块(16)为筒式部件，筒式部件中间部分通过两个半轴均匀对称的固定在第一、第二井斜支架之间；所述的工具筒(15)穿过连接块(16)设置，所述的连接块(16)上靠近工具筒15)的两端分别设置有一个轴承(17，所述的两个轴承(17)分别通过一个压板与连接块(16相固定；所述工具筒(15)外环固定设置有工具面盘(19，工具面盘(19)上固定设置工具游标尺(20)，工具游标尺(20)的刻线工具面盘(19)刻线对齐。...
【技术特征摘要】
1.一种数显三轴测斜仪校验台，其特征在于：由下向上依次包括有底座（1）、固定底板（2）、下固定盘（3）、下齿轮盘（4）、支架（14）、第一井斜支架（21）、第二井斜支架（22）、双轴校验装置、第一光栅数显测量机构和第二光栅数显测量机构；所述的底座（1）设置有三个，固定底板（2）上设置有三个120°均布的螺纹孔，三个底座（1）通过螺纹孔与固定底板（2固定连接，所述的下固定盘（3）通过固定螺钉反向固定在固定地板（2）上，下齿轮盘（4）设置在下固定盘（3）上，且下齿轮盘（4）、下固定盘（3）和固定底板(2)的中间均设置有过孔，且为同心设置；所述的过孔中固定设置有第一光栅数显测量机构(6)和光栅轴(5)，所述的光栅轴(5)与光栅数显机构(6)滑动配合；所述固定底板(2)上还设置有下与齿轮盘(4)通过齿轮之间的咬合连接的传动齿轮(8)，所述的传动齿轮(8)上设置有涡轮(7)，二者通过涡轮固定轴(9)相连接，涡轮固定轴(9)通过涡轮总成(10)固定在固定底板(2)上；涡轮(7)的一侧还设置有与其齿合的蜗杆(11)，所述的蜗杆(11)通过蜗杆总成(12)固定在下固定板(2)上，且蜗杆(11)的端部还设置有把手；所述的第二光栅数显测量机构(26)通过挠性联轴器(27)固定设置在连接块(16)的第一半轴端部；所述的双轴校验装置通过第一、第二井斜支架固定在两个支架(14)上，所述的校验装置包括有连接块(16)、工具筒(15)、工具游标尺(20)和工具面盘(19)；所述的连接块(16)为筒式部件，筒式部件中间部分通过两个半轴均匀对称的固定在第一、第二井斜支架之间；所述的工具筒(15)穿过连接块(16)设置，所述的连接块(16)上靠近工具筒15)的两端分别设置有一个轴承(17，所述的两个轴承(17)分别通过一个压板与连接块(16相固定；所述工具筒(15)外环固定设置有工具面盘(19，工具面盘(19)上固定设置工具游标尺(20)，工具游标尺(20)的刻线工具面盘(19)刻线对齐。2.根据权利要求1所述的数显三轴测斜仪校验台...
【专利技术属性】
技术研发人员：汪琦，刘文涛，刘志辉，刘光林，何波，张倩，
申请(专利权)人：郑州士奇测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南;41
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