接近传感器及接近传感器的检测方法技术

本发明专利技术提供一种接近传感器及接近传感器的检测方法。此接近传感器包括接近感测单元以及控制单元。接近感测单元用以反应于物体而产生感测值。控制单元耦接接近感测单元。控制单元从接近感测单元获得感测值，比较感测值与预设值得到比较结果，根据该比较结果计算状态累计时间，且判断状态累计时间是否超过预设时间，以判断物体的接近状态。本发明专利技术可以多次读取感测值，并逐次累计所述状态累计时间，从而判断物体为靠近状态或远离状态。基于此，便能有效提升判断的准确性。

Proximity sensor and proximity sensor detection method

The invention provides a method for detecting proximity sensor and proximity sensor. The proximity sensor comprises a proximity sensing unit and a control unit. The proximity sensing unit is used to react to an object to generate a sensing value. Control unit coupled proximity sensing unit. The control unit from the sensing unit close to get a sense of the sensing value, comparing sensed value and preset value according to the comparison results, comparing the calculation results and determine whether the state of total time, state total time exceeds the preset time, close to the state to determine the object. The invention can read the sensing value multiple times, and accumulate the accumulated time of the state gradually, so as to judge whether the object is close to or away from the state. Based on this, it can effectively improve the accuracy of judgment.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种接近感测(proximity sensing)技术，且特别是有关于一种接近传感器及接近传感器的检测方法。
技术介绍
随着科技的进步与其带来的方便性，人们在生活或工作上渐渐无法脱离电子装置(例如，手机、平板、个人电脑等)。现有的电子装置大多会具备多种传感器(例如，接近传感器、加速度传感器、压力传感器等)，以辅助电子装置上的多种功能(例如，屏幕开关、导航等)或提供人们多种感测信息(例如，温度、压力等)。接近传感器是无须实体接触而可检测物体是否靠近的一种传感器，其可通过感测芯片对微处理器发送反馈信号来告知物体处于靠近状态或远离状态。然而，在现实生活应用上，现有接近传感器经常会受到其他外在因素影响而导致误判情况发生。举例而言，光学接近传感器通常会另配置发射特定波长(例如，850纳米(nm)、940nm等)光线的发光二极管(Light Emitting Diode，简称LED)或红外线(Infrared Ray，简称IR)发射器，而光学接近传感器便是通过检测此光线反射于物体后的反射光线，以判断物体是否靠近。然而，当接近传感器面对强光，或是快速突波射入光学接近传感器时，经常会导致感测芯片误判为物体远离。图1所示为太阳的光谱分析图。图1的纵轴为光强度，而横轴是波长(单位为纳米)。请参照图1，在波长为850nm以及940nm处，太阳光谱分布并非为零。因此，在强烈的太阳光照射下，接近传感器仍可能会感应到波长为850nm或940nm的光，从而导致误判为物体远离。而电子装置在环境光影变化下所造成的光学突波，也可能会造成配置于电子装置上的感测芯片或微处理器误判。此外，现有抗强光演
算法均须实作于感测芯片或微处理器中，恐造成芯片面积增加。而且，针对固定波长光线(如850nm或940nm)的光学接近传感器品质要求较高，制作成本也较为高昂。
技术实现思路
本专利技术提供一种接近传感器及接近传感器的检测方法，以改善误判情形。本专利技术提供一种接近传感器的检测方法，此检测方法包括下列步骤：(a)从接近感测单元获得感测值；(b)比较感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间；以及(c)判断状态累计时间是否超过预设时间，以判断物体的接近状态。在本专利技术的一实施例中，上述状态累计时间包括物体靠近累计时间及物体远离累计时间，其中比较感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间的步骤包括：(b1)判断感测值是否大于预设值；(b2)若感测值大于预设值，则累计物体靠近累计时间，并初始化物体远离累计时间；以及(b3)若感测值小于预设值，则累计物体远离累计时间，并初始化物体靠近累计时间。在本专利技术的一实施例中，上述比较感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间的步骤包括：(b4)计算本次读取感测值的时点与前次读取感测值的时点相距的时间间隔；(b5)将时间间隔累计于物体靠近累计时间或物体远离累计时间。在本专利技术的一实施例中，上述检测方法还包括下列步骤：(b6)若从接近感测单元获得感测值的读取动作为首次执行，则初始化时间间隔、状态累计时间。在本专利技术的一实施例中，上述检测方法还包括下列步骤：(a1)若接收到接近感测单元反应于物体的靠近所产生的中断信号或相关于接近感测单元的应用程序所触发的触发事件，则首次执行从接近感测单元获得感测值的读取动作。在本专利技术的一实施例中，上述判断状态累计时间是否超过预设时间的步骤包括：(c1)若物体靠近累计时间大于预设时间，则判断
接近状态为靠近；以及(c2)若物体远离累计时间大于预设时间，则判断接近状态为远离。在本专利技术的一实施例中，上述判断状态累计时间是否超过预设时间的步骤包括：(c3)若状态累计时间小于预设时间，则不更新接近状态，并再一次从接近感测单元取得更新后的感测值。本专利技术提出一种接近传感器，此接近传感器包括接近感测单元以及控制单元。接近感测单元用以反应于物体而产生感测值；控制单元耦接接近感测单元；控制单元从接近感测单元获得感测值，比较感测值与预设值得到比较结果，根据该比较结果计算状态累计时间，且判断状态累计时间是否超过一预设时间，以判断物体的接近状态。在本专利技术的一实施例中，上述的控制单元判断感测值是否大于预设值，若感测值大于预设值，则控制单元累计所述状态累计时间中的物体靠近累计时间，并初始化所述状态累计时间中的物体远离累计时间；且若感测值小于预设值，则控制单元累计所述物体远离累计时间，并初始化该物体靠近累计时间。在本专利技术的一实施例中，上述的控制单元计算本次读取感测值的时点与前次读取感测值的时点相距的时间间隔，且将时间间隔累计于状态累计时间。在本专利技术的一实施例中，若控制单元判断从接近感测单元获得感测值的读取动作为首次执行，则初始化时间间隔、状态累计时间。在本专利技术的一实施例中，若控制单元接收到接近感测单元反应于物体的靠近所产生的中断信号或相关于接近感测单元的应用程序所触发的触发事件，则首次执行从接近感测单元获得该感测值的读取动作。在本专利技术的一实施例中，若物体靠近累计时间大于预设时间，则控制单元判断接近状态为靠近，而若物体远离累计时间大于预设时间，则控制单元判断接近状态为远离。在本专利技术的一实施例中，若状态累计时间小于预设时间，则控制单元不更新接近状态，并再一次从接近感测单元取得更新后的感
测值。在本专利技术的一实施例中，上述的接近感测单元包括接近感测元件以及模-数转换器；接近感测元件用以反应于物体而产生感测信号。模-数转换器耦接至接近感测元件，且用以将感测信号转换为感测值。基于上述，本专利技术实施例所述接近传感器及接近传感器的检测方法可以多次读取感测值，并逐次累计所述状态累计时间，从而判断物体为靠近状态或远离状态。基于此，便能有效提升判断的准确性。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。附图说明图1所示为太阳的光谱分析图；图2所示为依照本专利技术实施例说明接近传感器的电路方块示意图；图3所示为中断引脚的信号图范例；图4所示为依照本专利技术实施例说明接近传感器的检测方法的流程图；图5所示为中断模式的流程图；图6所示为依照本专利技术一实施例说明在图5所示步骤S530或图7所示步骤S730中，物体靠近或远离的判定的流程示意图；图7所示为应用程序触发模式的流程图。附图标记说明：200：接近传感器；210：接近感测单元；213：接近感测元件；215：模-数转换器；230：控制单元；301：手；S410～S450、S510～S590、S610～S680、S710～S790：步骤。具体实施方式图2所示为依照本专利技术实施例说明接近传感器的电路方块示意图。在不同的应用情境中，接近传感器200可以内建于智能电话、平板电脑、智能电视、物联网的装置或是其他电子装置。请参照图2，接近传感器200包括接近感测单元210及控制单元230。依照不同的设计需求，接近感测单元210可能包括接近感测元件213以及模-数转换器(analog-to-digital converter，简称为：ADC)215。接近感测元件213例如是电容式、光学式、磁感式等任何类型感测技术的感测元件，且用以反应于物体(例如，手部、头部等)而产生感测信号。例如但不限于，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种接近传感器的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括下列步骤：(a)从接近感测单元获得感测值；(b)比较所述感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间；以及(c)判断所述状态累计时间是否超过预设时间，以判断物体的接近状态。

【技术特征摘要】
2015.06.12 TW 1041191051.一种接近传感器的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括下列步骤：(a)从接近感测单元获得感测值；(b)比较所述感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间；以及(c)判断所述状态累计时间是否超过预设时间，以判断物体的接近状态。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述状态累计时间包括物体靠近累计时间及物体远离累计时间。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述比较所述感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间的步骤包括：(b1)判断所述感测值是否大于所述预设值；(b2)若所述感测值大于所述预设值，则累计所述物体靠近累计时间，并初始化所述物体远离累计时间；以及(b3)若所述感测值小于所述预设值，则累计所述物体远离累计时间，并初始化所述物体靠近累计时间。4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述比较所述感测值与预设值得到比较结果，根据所述比较结果计算状态累计时间的步骤包括：(b4)计算本次读取所述感测值的时点与前次读取所述感测值的时点相距的时间间隔；以及(b5)将所述时间间隔累计于所述物体靠近累计时间或所述物体远离累计时间。5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：(b6)若从所述接近感测单元获得所述感测值的读取动作为首次执行，则初始化该时间间隔、该状态累计时间。6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述检测方
\t法还包括：(a1)若控制单元接收到所述接近感测单元反应于所述物体的靠近所产生的中断信号或相关于所述接近感测单元的应用程序所触发的触发事件，则首次执行从所述接近感测单元获得所述感测值的读取动作。7.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述判断所述状态累计时间是否超过预设时间，以判断物体的接近状态的步骤包括：(c1)若所述物体靠近累计时间大于所述预设时间，则判断所述接近状态为靠近；以及(c2)若所述物体远离累计时间大于所述预设时间，则判断所述接近状态为远离。8.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述判断所述状态累计时间是否超过预设时间的步骤包括：(...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓国良，庄智良，
申请(专利权)人：力智电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71