【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检测技术，尤其涉及一种熔丝调整电路的检测电路。
技术介绍
1、在芯片从制造、封装到测试的过程中，通常需要经由例如激光或高电压的方式来烧断芯片中熔丝调整电路的熔丝(fuse)，以调整芯片中的电路元件参数。在正常情况下，熔丝被完整地熔断而断路，或者未被烧熔而导通。然而，若熔丝发生未完整熔断或过度烧熔的情况，则可能会形成高阻值通路，造成产品发生漏电或功能错误的问题，而导致产品失效。现有技术均只能判断熔丝通路与否，而无法确认上述问题。若需判断熔丝的熔断状态，需要破坏芯片才能粗略判断，如此会大幅增加芯片分析的时间及成本。因此，如何有效判断芯片内的熔丝是否发生未完整熔断或过度烧熔的情况，以提升芯片制造良率是本领域目前重要的课题之一。
技术实现思路
1、本专利技术是针对一种熔丝调整电路的检测电路，可有效地检测熔丝是否发生未完整熔断或过度烧熔的情况。
2、根据本专利技术的实施例，熔丝调整电路的检测电路耦接于熔丝电路的节点。节点具有检测电压。检测电路包括信号转换电路以及判断电路。信号转换电路耦接节点，并接收检测电压，以根据第一阈值电压将检测电压转换为检查信号。判断电路耦接节点及信号转换电路，以依据检测电压、第二阈值电压及检查信号产生判断结果。第一阈值电压不等于第二阈值电压。
3、在根据本专利技术的实施例的熔丝调整电路中，熔丝电路包括串联连接于第一电压与第二电压之间的第一电阻、熔丝、节点及第二电阻。第一电压高于第二电压。
4、在根据本专利技术的实施
5、在根据本专利技术的实施例的熔丝调整电路中，判断电路包括比较电路以及逻辑电路。比较电路比较检测电压与第二阈值电压，以产生比较结果。逻辑电路耦接信号转换电路及比较电路，并且根据比较结果与检查信号提供判断结果。
6、在根据本专利技术的实施例的熔丝调整电路中，当检测电压及第二阈值电压的比较结果与检查信号为不同逻辑状态时，判断电路产生对应于第一逻辑值的判断结果。当检测电压及第二阈值电压的比较结果与检查信号为相同逻辑状态时，判断电路产生对应于第二逻辑值的判断结果。
7、在根据本专利技术的实施例的熔丝调整电路中，检测电路包括多个信号转换电路以及切换电路。熔丝电路包括多个熔丝。多个熔丝分别耦接多个信号转换电路，并且多个信号转换电路耦接切换电路。切换电路依序切换多个信号转换电路分别提供的多个检查信号及多个熔丝分别提供的多个检测电压至判断电路。
8、在根据本专利技术的实施例的熔丝调整电路中，切换电路包括多个第一切换开关以及多个第二切换开关。多个第一切换开关分别耦接在多个熔丝以及判断电路之间，接收多个计数信号以依序导通。多个第二切换开关分别耦接在多个信号转换电路以及判断电路之间，接收多个计数信号以依序导通。多个第一切换开关与多个第二切换开关以一对一的方式同步导通。
9、基于上述，本专利技术的熔丝调整电路的检测电路，可通过检测熔丝电路的节点，以取得检测电压，并且可根据预设的第一阈值电压、预设的第二阈值电压以及检测电压来产生判断结果，以有效地检测熔丝是否发生未完整熔断或过度烧熔的情况。
10、为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种熔丝调整电路的检测电路，耦接于熔丝电路的节点，所述节点具有检测电压，其特征在于，所述检测电路包括：
2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述熔丝电路包括串联连接于第一电压与第二电压之间的第一电阻、熔丝、所述节点及第二电阻，其中所述第一电压高于所述第二电压。
3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述节点位于所述第二电阻与所述熔丝之间。
4.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述判断电路包括：
5.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，当所述检测电压及所述第二阈值电压的比较结果与所述检查信号为不同逻辑状态时，所述判断电路产生对应于第一逻辑值的所述判断结果，
6.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路包括多个信号转换电路以及切换电路，并且所述熔丝电路包括多个熔丝，
7.根据权利要求6所述的检测电路，其特征在于，所述切换电路包括:
【技术特征摘要】
1.一种熔丝调整电路的检测电路，耦接于熔丝电路的节点，所述节点具有检测电压，其特征在于，所述检测电路包括：
2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述熔丝电路包括串联连接于第一电压与第二电压之间的第一电阻、熔丝、所述节点及第二电阻，其中所述第一电压高于所述第二电压。
3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述节点位于所述第二电阻与所述熔丝之间。
4.根据权利要求1所述的检测电...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋乔安，赖敏瑞，张志廉，
申请(专利权)人：力智电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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