太阳辐射试验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种太阳辐射试验装置，包括支撑架、设于所述支撑架上的辐照光源、位于所述辐照光源正下方的样品放置区域以及用于减少到达所述样品放置区域光强的减光组件，所述减光组件包括设于所述辐照光源与所述样品放置区域之间的至少一个减光片，每个所述减光片上设有至少一个减光区域。本实用新型专利技术仅需要在减光片上设计相应透光率的减光区域，使得光强经过减光片后减弱，进而使得到达样品表面的光强减少，即可实现低强度太阳辐射的控制。在实现低辐照强度的过程中，无须减少光源照射数量，因而避免了因减少光源而导致装置内光照不均的现象。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及太阳光源模拟
，尤其是涉及一种太阳辐射试验装置。
技术介绍
太阳辐射试验装置是一种人工模拟太阳辐射，用来研究和评价产品在暴露于太阳辐射环境中所产生的热效应或光化学作用的能力的装置，在汽车、光伏、纺织、橡胶、塑料等行业具有广泛应用。目前，市场上可购的太阳辐射试验装置太阳辐射可控强度范围最大为600W/m2～1120W/m2，通过光源选择、灯阵优化布置后，理论上可实现0W/m2～1120W/m2的连续可变的太阳辐射强度。但是，辐照灯通过电源控制辐射强度的范围有限，一般在总功率的50％～100％连续可变，因此当需要模拟辐照强度很低的情况下，光源数量会变得非常少，而这又会导致试验装置内不同位置的太阳辐射强度的均匀性难以满足要求，限制了现有技术的推广应用。
技术实现思路
基于此，本技术在于克服现有技术的缺陷，提供一种太阳辐射试验装置，其可使到达样品表面的光强减少，实现低强度太阳辐射，同时又保证了到达样品表面的光照均匀性。其技术方案如下：一种太阳辐射试验装置，包括支撑架、设于所述支撑架上的辐照光源、位于所述辐照光源正下方的样品放置区域以及用于减少到达所述样品放置区域光强的减光组件，所述减光组件包括设于所述辐照光源与所述样品放置区域之间的至少一个减光片，每个所述减光片上设有至少一个减光区域。在其中一个实施例中，每个所述减光片上设有不同透光率的至少两个所述减光区域，所述减光组件还包括驱动所述减光片移动用以使得其中一个所述减光区域进入所述辐照光源的辐射区域内的驱动机构。在其中一个实施例中，每个所述减光片上还设有透光率为100％的空白区域，所述驱动机构还可驱动所述减光片移动使得所述空白区域进入所述辐照光源的辐射区域内。在其中一个实施例中，所述减光片为柔性片状结构，所述减光区域并排布置，所述驱动机构包括沿着所述减光区域的排布方向并排布置的两根转轴，所述减光片一端卷绕于其中一根所述转轴，另一端卷绕于另外一根所述转轴。在其中一个实施例中，所述驱动机构还包括链轮机构和电机，其中一根所述转轴与所述电机连接并通过所述链轮机构与另外一根所述转轴连接。在其中一个实施例中，所述减光片为多片，多片所述减光片上下并排布置。在其中一个实施例中，所述减光区域开设有多个通孔。在其中一个实施例中，还包括滤波组件，所述滤波组件包括位于所述辐照光源与所述样品放置区域之间的至少一个滤波片。在其中一个实施例中，所述支撑架为箱体，所述辐照光源和所述样品放置区域均设于所述箱体内，且所述辐照光源设于所述箱体的顶部，所述样品放置区域设于所述箱体的底部。在其中一个实施例中，还包括用于控制所述箱体内温度和湿度的温湿控制系统。下面对前述技术方案的优点或原理进行说明：本技术所述的太阳辐射试验装置，其在辐照光源和样品放置区域之间设置至少一个减光片，仅需要在减光片上设计相应透光率的减光区域，使得光强经过减光片后减弱，进而使得到达样品表面的光强减少，即可实现低强度太阳辐射的控制。在实现低辐照强度的过程中，无须减少光源照射数量，因而避免了因减少光源而导致装置内光照不均的现象。本技术中所述减光片上设有至少一个减光区域，当减光区域为至少两个，并且不同的减光区域透光率不同时，可通过驱动机构驱动减光片移动，使得不同的减光区域进入辐射区域，从而更改减光组件的透光率，从而改变到达样品表面的光强。本技术大大地简化了操作过程，使得减光组件在不同透光率之间切换简便。所述减光片还包括空白区域，所述空白区域的光透过率为100％，当驱动机构驱动减光片移动至空白区域进入辐照区域时，本技术即可实现光源的直接辐射，进而实现高强度太阳辐射。本技术操作灵活，达到了太阳辐射连续可控、可调的效果。所述减光片为柔性片状结构，便于卷放。通过控制转轴转动，进而卷绕或卷放减光片用以实现减光片的移动，使得减光区域切换方便，同时减光片卷设于转轴上，减少了减光片的空间占用面积，也使得减光片可设计为较长长度，用以设置更多不同的减光区域。本技术通过电机带动转轴转动，实现了减光片移动的自动性。本技术包括位于上下并排布置的多个减光片，多个减光片的透光率可相同或不同，用以组合出不同透光率的减光组件，从而改变到达样品表面的辐照强度。所述减光区域上开设有多个通孔，部分光线从通孔中穿过直射于样品表面，而部分光线则被减光片遮挡，即减光片反射、散射或吸收部分光线，用以减少到达样品表面的光照强度。本技术可以实现在全波段范围透光，在保证光强的前提下，保证了光谱的完整性。此外，本技术所述减光片类似于形成了无数多的点光源，可以有效保障太阳辐射的均匀性。本技术还包括滤波组件，所述滤波组件包括位于所述辐照光源与所述样品放置区域之间的至少一个滤波片，滤波片用于辐照光的选择性过滤，使照射到样品上的光更好的模拟太阳光谱。所述支撑架为箱体结构，所述辐照光源和所述样品放置区域均设于所述箱体内，有利于将试验环境与外界环境隔离，保证试验环境的稳定性。本技术还包括温湿控制系统，温湿控制系统用于控制箱体内的温度和湿度，用于模拟不同的环境，从而研究样品在不同的环境下的耐受性。附图说明图1为本技术实施例所述的太阳辐射试验装置的第一结构示意图；图2为本技术实施例所述的驱动机构的结构示意图；图3为本技术实施例所述的太阳辐射试验装置的第二结构示意图；图4为本技术实施例所述的太阳辐射试验装置的第三结构示意图；图5为本技术实施例所述的滤光区域的第一结构示意图；图6为本技术实施例所述的滤光区域的第二结构示意图；图7为本技术实施例所述的滤光区域的第三结构示意图。附图标记说明：100、支撑架，200、辐照光源，300、样品放置区域，400、样品，510、减光片，511、减光区域，512、空白区域，521、转轴，522、电机，523、链轮机构，610、滤波片。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施方式，对本技术进行进一步的详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用以解释本技术，并不限定本技术的保护范围。如图1所示，一种太阳辐射试验装置，包括支撑架100、设于所述支撑架100上的辐照光源200、位于所述辐照光源200正下方的样品放置区域300以及用于减少到达样品放置区域300光强的减光组件，所述辐照光源200为可以为一盏或多盏辐照灯，并且该辐照灯可进行灯源优化布置。所述减光组件包括设于所述辐照光源200与所述样品放置区域300之间的至少一个减光片510，每个所述减光片510上设有至少一个减光区域511。当电源调节光强无法满足使用要求时，可在辐照光源200和样品放置区域300之前设置减光片510，该减光片上设计有一定透光率的减光区域511，使得光强经过减光片510后减弱，进而使得到达样品400表面的光强减少，即可实现低强度太阳辐射的控制。在实现低辐照强度的过程中，无须减少光源照射数量，因而避免了因减少光源而导致装置内光照不均的现象。本技术也可根据实际需要在辐照光源200的正下方设置上下并列的多个减光片510，多个减光片510的透光率可相同或不同，用以组合出不同透光率的减光组件，从而改变到达样品400表面的辐照强度。如图本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种太阳辐射试验装置，其特征在于，包括支撑架、设于所述支撑架上的辐照光源、位于所述辐照光源正下方的样品放置区域以及用于减少到达所述样品放置区域光强的减光组件，所述减光组件包括设于所述辐照光源与所述样品放置区域之间的至少一个减光片，每个所述减光片上设有至少一个减光区域。

【技术特征摘要】
1.一种太阳辐射试验装置，其特征在于，包括支撑架、设于所述支撑架上的辐照光源、位于所述辐照光源正下方的样品放置区域以及用于减少到达所述样品放置区域光强的减光组件，所述减光组件包括设于所述辐照光源与所述样品放置区域之间的至少一个减光片，每个所述减光片上设有至少一个减光区域。2.根据权利要求1所述的太阳辐射试验装置，其特征在于，每个所述减光片上设有不同透光率的至少两个所述减光区域，所述减光组件还包括驱动所述减光片移动用以使得其中一个所述减光区域进入所述辐照光源的辐射区域内的驱动机构。3.根据权利要求2所述的太阳辐射试验装置，其特征在于，每个所述减光片上还设有透光率为100％的空白区域，所述驱动机构还可驱动所述减光片移动使得所述空白区域进入所述辐照光源的辐射区域内。4.根据权利要求2所述的太阳辐射试验装置，其特征在于，所述减光片为柔性片状结构，所述减光区域并排布置，所述驱动机构包括沿着所述减光区域的排布方向并排布置的两根转轴，所述减光片一端卷绕于其中一根所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：周阳红生，解禾，郭振华，胡湘洪，王春辉，汪凯蔚，黄铎佳，袁敏，
申请(专利权)人：工业和信息化部电子第五研究所，
类型：新型
国别省市：广东;44