LTE终端射频一致性测试系统技术方案

技术编号:14160627 阅读:102 留言:0更新日期:2016-12-12 03:41
本实用新型专利技术公开一种LTE终端射频一致性测试系统,包括:系统模拟器、信号源、频谱分析仪、功率计、射频接口箱以及工业控制计算机;系统模拟器连接至射频接口箱,用于输出下行信号;信号源连接至射频接口箱,用于输出干扰信号;频谱分析仪用于对射频接口箱内传输的信号进行频域测试;功率计用于对射频接口箱内射频路径进行校准;射频接口箱连接至LTE终端,用于对上下行信号进行分离并提供传输信号的射频路径;工控计算机连接至系统模拟器、信号源、频谱分析仪、功率计及射频接口箱,用于输出指令给各个仪器。该系统使用射频接口箱和工控计算机进行链路控制及连接,结构简单,成本低,无需测试人员手动操作仪表,链路验证及校准方便可靠。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及射频测试
,尤其涉及一种LTE终端射频一致性测试系统
技术介绍
近几年,随着长期演进(Long Term Evolution,简称为LTE)技术的不断发展,LTE智能终端大规模引入市场,各式各样的手机终端越来越吸引用户的关注,全球LTE用户数飞速增长。全球的移动通信产业都在积极推动LTE的变革与创新,各大运营商、芯片厂商、手机厂商纷纷选择LTE,并进行大量研究以及后续的部署。在LTE技术迅速发展的今天,各式终端、新型芯片层出不穷,终端的测试技术是能够保障LTE产业发展的关键,能够快速并且高效地检测终端是否可以满足运营商网络以及用户需求,是LTE产业化的重点问题。LTE终端的性能质量,标志着LTE技术的成熟与否,并且代表了整个移动通信行业产业化的发展高度。终端的射频指标,直接反映了终端的接入网络性能以及信号质量的好坏,是终端性能测试中的重点,也是移动通信技术发展的核心。对终端射频性能的测试,可以检验产品是否满足现有的技术标准,也是能够保证产品质量的重要环节。依据国家针对接入公用电信网的各种设备实行的进网许可制度,需要对各类终端进行进网测试。LTE终端作为目前国内外发展最迅速的一类终端,其各项指标的进网测试也是现在各大手机厂商关注的重点。目前,市场上用于测试LTE终端射频性能的测试系统,大都是各大测试仪表厂家用多块单一仪表搭建起来的,或者是根据不同的测试要求来搭建不同的测试环境,并且需要测试人员对测试仪表进行手动操作及配置。前者增加了测试的成本,后者增加了测试时间以及测试的不稳定性。多块仪表搭配使用,仪表间接线过多,链路验证及校准十分繁琐,射频接口箱设计复杂,增加了仪表的设计和使用成本,仪表的增多也会导致后期系统维护成本的增加。针对上述问题,目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本技术提供了一种LTE终端射频一致性测试系统,以至少解决现有技术中LTE终端射频测试系统设计复杂,成本高以及测试不稳定的问题。根据本技术的一个方面,提供了一种LTE终端射频一致性测试系统,包括:系统模拟器、信号源、频谱分析仪、功率计、射频接口箱以及工业控制计算机;所述系统模拟器,连接至所述射频接口箱,用于输出下行信号,通过所述射频接口箱与被测LTE终端建立通信连接;所述信号源,连接至所述射频接口箱,用于在测试过程中输出干扰信号;所述频谱分析仪,连接至所述射频接口箱,用于对所述射频接口箱内传输的信号进行频域测试;所述功率计,连接至所述射频接口箱,用于对所述射频接口箱内的射频路径进行校准;所述射频接口箱,连接至所述被测LTE终端,用于对上行信号和下行信号进行分离,并提供传输上行信号的射频路径和传输下行信号的射频路径;所述工业控制计算机,连接至所述系统模拟器、所述信号源、所述频谱分析仪、所述功率计及所述射频接口箱,用于在测试过程中输出指令给所述系统模拟器、所述信号源、所述频谱分析仪、所述功率计及所述射频接口箱。在一个实施例中,所述射频接口箱包括:定向耦合器、射频开关以及连接端口;所述定向耦合器,用于对上行信号和下行信号进行分离;所述射频开关,用于切换射频路径;所述连接端口,用于实现与所述系统模拟器、所述信号源、所述频谱分析仪以及所述被测LTE终端的端口的连接;所述定向耦合器、所述射频开关及所述连接端口通过射频连接电缆相连。在一个实施例中,所述连接端口包括:第一端口用于连接至所述系统模拟器的串行COM端口;第二端口用于连接至所述系统模拟器的异步AUX端口;第三端口和第四端口用于连接至所述信号源的输出端口;第五端口用于连接至所述频谱分析仪的输入端;Rx端口用于连接至所述被测LTE终端的RX射频口;TRx端口用于连接至所述被测LTE终端的TRX射频口。在一个实施例中,所述射频开关是单刀双掷开关。在一个实施例中,所述射频接口箱还包括:可控USB接口,用于对所述被测LTE终端进行上下电处理。在一个实施例中,所述系统还包括:直流源,连接至所述工业控制计算机和所述被测LTE终端,用于在所述工业控制计算机的控制下输出预设电压给所述被测LTE终端。在一个实施例中,所述信号源包括:矢量信号源和微波信号源;所述干扰信号包括:矢量干扰信号和单频干扰信号。在一个实施例中,所述工业控制计算机通过通用接口总线GPIB连接至所述系统模拟器、所述信号源、所述频谱分析仪及所述功率计;所述工业控制计算机通过网线端口连接至所述射频接口箱。在一个实施例中,所述系统模拟器是基带衰落模拟器。在一个实施例中,所述频谱分析仪用于对所述射频接口箱内传输的信号进行频域杂散测试。通过本技术的LTE终端射频一致性测试系统,集成了系统模拟器、信号源、频谱分析仪和功率计,使用射频接口箱和工业控制计算机来进行链路控制及连接,结构简单,成本低,无需测试人员手动操作仪表,链路验证及校准方便可靠,从而使测试稳定,实现LTE终端射频一致性测试。附图说明此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解,构成本申请的一部分,本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术,并不构成对本技术的限定。在附图中:图1是本技术实施例的LTE终端射频一致性测试系统的结构示意图;图2是本技术实施例的射频接口箱的结构示意图;图3是本技术实施例的接收机杂散测试时的射频接口箱的连接示意图;图4是本技术实施例的接收机带内阻塞测试时的射频接口箱的连接示意图;图5是本技术实施例的性能测试时的射频接口箱的连接示意图。具体实施方式下面结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术的保护范围。本技术实施例提供了一种LTE终端射频一致性测试系统,射频一致性测试包括:发射机测试、接收机测试、性能测试和信道质量指示(Channel Quality Indicator,简称为CQI)测试。图1是本技术实施例的LTE终端射频一致性测试系统的结构示意图,如图1所示,该系统包括如下仪器(或仪表):系统模拟器10、信号源20、频谱分析仪30、功率计40、射频接口箱50以及工业控制计算机60。系统模拟器10,连接至射频接口箱50,用于输出下行信号,通过射频接口箱50与被测LTE终端70建立通信连接,以进行射频性能测试。该系统模拟器10模拟基站,输出基站信号(即下行信号),例如,TD-LTE(Time Division Long Term Evolution,分时长期演进)基站信号和FDD-LTE(Frequency Division Duplex Long Term Evolution,频分双工长期演进)基站信号。基站向终端传输的信号为下行信号,终端向基站传输的信号为上行信号。上述系统模拟器10可以是基带衰落模拟器。信号源20,连接至射频接口箱50,用于在测试过程中输出干扰信号。信号源20可以包括:矢量信号源和微波信号源。相应的,信号源20输出的干扰信号可以包括:矢量干扰信号和单频干扰信号。频谱分析仪30,连接至射频接口箱50,用于对射频接口箱50内传输的信号本文档来自技高网
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LTE终端射频一致性测试系统

【技术保护点】
一种LTE终端射频一致性测试系统,其特征在于,包括:系统模拟器、信号源、频谱分析仪、功率计、射频接口箱以及工业控制计算机;所述系统模拟器,连接至所述射频接口箱,用于输出下行信号,通过所述射频接口箱与被测LTE终端建立通信连接;所述信号源,连接至所述射频接口箱,用于在测试过程中输出干扰信号;所述频谱分析仪,连接至所述射频接口箱,用于对所述射频接口箱内传输的信号进行频域测试;所述功率计,连接至所述射频接口箱,用于对所述射频接口箱内的射频路径进行校准;所述射频接口箱,连接至所述被测LTE终端,用于对上行信号和下行信号进行分离,并提供传输上行信号的射频路径和传输下行信号的射频路径;所述工业控制计算机,连接至所述系统模拟器、所述信号源、所述频谱分析仪、所述功率计及所述射频接口箱,用于在测试过程中输出指令给所述系统模拟器、所述信号源、所述频谱分析仪、所述功率计及所述射频接口箱。

【技术特征摘要】
1.一种LTE终端射频一致性测试系统,其特征在于,包括:系统模拟器、信号源、频谱分析仪、功率计、射频接口箱以及工业控制计算机;所述系统模拟器,连接至所述射频接口箱,用于输出下行信号,通过所述射频接口箱与被测LTE终端建立通信连接;所述信号源,连接至所述射频接口箱,用于在测试过程中输出干扰信号;所述频谱分析仪,连接至所述射频接口箱,用于对所述射频接口箱内传输的信号进行频域测试;所述功率计,连接至所述射频接口箱,用于对所述射频接口箱内的射频路径进行校准;所述射频接口箱,连接至所述被测LTE终端,用于对上行信号和下行信号进行分离,并提供传输上行信号的射频路径和传输下行信号的射频路径;所述工业控制计算机,连接至所述系统模拟器、所述信号源、所述频谱分析仪、所述功率计及所述射频接口箱,用于在测试过程中输出指令给所述系统模拟器、所述信号源、所述频谱分析仪、所述功率计及所述射频接口箱。2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述射频接口箱包括:定向耦合器、射频开关以及连接端口;所述定向耦合器,用于对上行信号和下行信号进行分离;所述射频开关,用于切换射频路径;所述连接端口,用于实现与所述系统模拟器、所述信号源、所述频谱分析仪以及所述被测LTE终端的端口的连接;所述定向耦合器、所述射频开关及所述连接端口通过射频连接电缆相连。3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述连接端口...

【专利技术属性】
技术研发人员:魏然马治国魏阳岳靖轩
申请(专利权)人:工业和信息化部电信研究院
类型:新型
国别省市:北京;11

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