用于壳状元件的检测装置和检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于壳状元件的检测装置，包括：用于放置壳状元件的基板，基板上设置有用于检测壳状元件的一个或多个形状/尺寸特性的合格尺寸的检测特征；以及一个或多个定位器，定位器设置在基板上，且能够从松开位置移动至夹紧位置，在夹紧位置，定位器抵靠壳状元件的外表面，以使得壳状元件处于模拟实际应用状态。本发明专利技术还涉及一种用于壳状元件的检测方法，包括：将壳状元件放置于基板上；将壳状元件夹紧至夹紧位置，使得壳状元件处于模拟实际应用状态；以及对壳状元件的一个或多个形状/尺寸特性进行检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于壳状元件的检测装置和一种用于壳状元件的检测方法。
技术介绍
众所周知，壳状元件特别是壳状钣金件的尺寸很容易因为制造、运输、储存或其他原因而发生变化，甚至超出允许的容许尺寸公差。因此，在实际应用例如组装焊接该壳状元件之前需要检测其形状和/或尺寸，以确保符合实际应用要求，即在合格尺寸以内。然而，通常壳状元件的结构较为复杂，需要检测的形状和/或尺寸参数包括外轮廓线、长度、高度、圆弧度、平整度等诸多参数。在现有的传统检测方法中，利用三坐标检测装置对壳状元件的这些参数进行检测，这个检测过程需要较多的时间，而且特别是在壳状元件的结构较为复杂的情况下，对壳状元件的边缘的取点较困难，容易造成较大误差。此外，整个检测过程都是使壳状元件处于自然状态(未受外力)下进行的，这与壳状元件的实际应用状态不符，从而进一步引入了误差。因此，需要一种能够克服上述缺点的用于壳状元件的检测装置和方法。这里，应当指出的是，本部分中所提供的
技术实现思路
旨在有助于本领域技术人员对本专利技术的理解，而不一定构成现有技术。
技术实现思路
在本部分中提供本专利技术的总概要，而不是本专利技术完全范围或本专利技术所有特征的全面公开。本专利技术的一个或多个实施方式的一个目的是提供一种能够快速检测壳状元件的形状和/或尺寸特性或参数的检测装置及检测方法。本专利技术的一个或多个实施方式的另一目的是提供一种能够精确地
判断壳状元件的形状和/或尺寸是否符合实际应用要求的检测装置及检测方法。本专利技术的一个或多个实施方式的又一目的是提供一种能够模拟实际应用状态的用于壳状元件的检测装置及检测方法。为了实现上述目的中的一个或多个，本专利技术提供了一种用于壳状元件的检测装置，其包括：用于放置所述壳状元件的基板，所述基板上设置有用于检测所述壳状元件的一个或多个形状/尺寸特性的合格尺寸的检测特征；以及一个或多个定位器，所述定位器设置在所述基板上，且能够从松开位置移动至夹紧位置，在所述夹紧位置，所述定位器抵靠所述壳状元件的外表面，以使得所述壳状元件处于模拟实际应用状态。因此，本检测装置可以在壳状元件处于模拟实际应用状态下时对壳状元件进行检测，从而能够准确地判断出壳状元件在实际应用状态下是否符合标准。优选地，所述检测装置还包括：设置在所述基板上的一个或多个内模，当所述定位器处于所述夹紧位置时，所述壳状元件被夹紧在所述定位器和所述内模之间。优选地，所述内模包括与所述壳状元件的标准尺寸相对应的曲面。优选地，所述曲面包括柱面、球面和/或椭球体面。内模一方面可以与定位器配合，使壳状元件处于模拟实际应用状态，另一方面可以作为检测特征，特别是当检测特征呈圆弧形时，可以检测壳状元件的圆弧度。优选地，所述基板包括用于放置所述壳状元件的大致平坦的表面。所述大致平坦的表面一方面可以与定位器和/或内模配合以使壳状元件处于模拟实际应用状态，另一方面可以作为检测特征，特别是平整度检测特征。优选地，所述定位器将所述壳状元件竖向和/或侧向压靠在所述基板上，以对壳状元件起到校准作用。优选地，所述基板上设有用于穿过高度检测装置的窗口部，以进行壳状元件的高度检测，特别是其内部的高度检测。优选地，所述检测特征包括轮廓检测特征、尺寸检测特征、平面度检测特征、弧度检测特征中的至少一种。优选地，所述轮廓检测特征和/或所述尺寸检测特征包括尺寸线，所述尺寸线的中心线对应于所述壳状元件的标准尺寸，所述尺寸线的宽度对应于所述壳状元件的容许尺寸公差，从而仅通过观察或者其他方式快速地检测壳状元件的形状/尺寸特性。优选地，所述轮廓检测特征和/或所述尺寸检测特征包括下述形式中的至少一种形式：绘制或喷涂在所述基板上的图形、未穿透所述基板的凹槽以及穿透所述基板的凹槽。其他形式的轮廓检测特征和/或尺寸检测特征也是可用的。为了实现上述目的中的一个或多个，本专利技术还提供了一种用于壳状元件的检测装置，包括：基板，所述基板上设置有轮廓检测特征，所述轮廓检测特征与所述壳状元件的合格尺寸相对应，并且所述轮廓检测特征的宽度对应于所述壳状元件的容许尺寸公差。本装置的优势在于提供了一种利用具有关于容许尺寸公差的特征的轮廓检测特征对壳状元件进行检测的检测装置。优选地，所述检测装置还包括：一个或多个定位器，所述定位器设置在所述基板上，且能够从松开位置移动至夹紧位置，在所述夹紧位置，所述定位器抵靠所述壳状元件的外表面，以使得所述壳状元件处于模拟实际应用状态。优选地，所述检测装置还包括：设置在所述基板上的一个或多个内模，所述内模包括与所述壳状元件的标准尺寸相对应的曲面，当所述定位器处于所述夹紧位置时，所述壳状元件被夹紧在所述定位器和所述内模之间。为了实现上述目的中的一个或多个，本专利技术还提供了一种用于壳状元件的检测方法，包括：将壳状元件放置于基板上；将所述壳状元件夹紧至夹紧位置，使得所述壳状元件处于模拟实际应用状态；以及对所述壳状元件的一个或多个形状/尺寸特性进行检测。本方法的优势在于，提供一种在壳状元件处于模拟实际应用状态时对壳状元件进行检测的检测方法。优选地，利用一个或多个定位器将所述壳状元件夹紧至所述夹紧位置。优选地，所述检测方法还包括：在所述基板上设置一个或多个内模，当所述壳状元件处于所述夹紧位置时，所述壳状元件被夹紧在所述定位器和所述内模之间。优选地，所述内模包括与所述壳状元件的标准尺寸相对应的曲面，所述检测方法还包括：检测所述壳状元件与所述内模的所述曲面之间的间隙，以例如检测壳状元件的轮廓度。优选地，所述检测方法还包括：利用设置在所述基板上的轮廓检测特征来检测所述壳状元件的轮廓是否满足要求，其中所述轮廓检测特征与所述壳状元件的合格尺寸相对应，并且所述轮廓检测特征的宽度对应于所述壳状元件的容许尺寸公差。优选地，所述基板包括大致平坦的表面，所述检测方法还包括：检测所述壳状元件与所述基板的所述表面之间的间隙，以例如检测壳状元件的平整度。优选地，所述检测方法还包括：通过设置在所述基板上的窗口部检测所述壳状元件的内表面距所述基板的距离，以例如检测壳状元件的内部的高度。附图说明通过以下参照附图的描述，本专利技术的一个或多个实施方式的特征和优点将变得更加容易理解，在附图中：图1示出了根据本专利技术的实施方式的用于壳状元件的检测装置的立体图；图2示出了根据本专利技术的实施方式的用于壳状元件的检测装置的基板的平面俯视图；图3a和图3b分别示出了根据本专利技术的实施方式的用于壳状元件的检测装置的基板和放置于该基板上的壳状元件的平面俯视图和侧视图；图4示出了在图3a中示出的方框IV的放大图，其中示出了壳状元件的相应部分的形状和/或尺寸符合实际应用要求的情况；图5示出了在图3a中示出的方框V的放大图，其中示出了壳状元件的相应部分的形状和/或尺寸不符合实际应用要求的情况；图6是根据本专利技术的实施方式的用于壳状元件的检测装置与待检测的壳状元件组装在一起的侧视图，其中至少一个定位器处于夹紧位置；图7示出了在图6中示出的方框VII的放大图，其中示出了内模与壳状元件的弧状部之间的间隙；图8示出了在图6中示出的方框VIII的放大图，其中示出了基板与壳状元件的底部之间的间隙，且图中未示出定位器和紧固件；图9为示出了倒置的根据本专利技术的实施方式的用于壳状元件的检测装置的侧视图；以及图10为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于壳状元件(2)的检测装置(1)，包括：用于放置所述壳状元件(2)的基板(10)，所述基板(10)上设置有用于检测所述壳状元件(2)的一个或多个形状/尺寸特性的合格尺寸的检测特征；以及一个或多个定位器(301、302、303、304、305、306)，所述定位器(301、302、303、304、305、306)设置在所述基板(10)上，且能够从松开位置移动至夹紧位置，在所述夹紧位置，所述定位器(301、302、303、304、305、306)抵靠所述壳状元件(2)的外表面，以使得所述壳状元件(2)处于模拟实际应用状态。

【技术特征摘要】
1.一种用于壳状元件(2)的检测装置(1)，包括：用于放置所述壳状元件(2)的基板(10)，所述基板(10)上设置有用于检测所述壳状元件(2)的一个或多个形状/尺寸特性的合格尺寸的检测特征；以及一个或多个定位器(301、302、303、304、305、306)，所述定位器(301、302、303、304、305、306)设置在所述基板(10)上，且能够从松开位置移动至夹紧位置，在所述夹紧位置，所述定位器(301、302、303、304、305、306)抵靠所述壳状元件(2)的外表面，以使得所述壳状元件(2)处于模拟实际应用状态。2.根据权利要求1所述的检测装置(1)，还包括：设置在所述基板(10)上的一个或多个内模(201、202、203、204、205)，当所述定位器(301、302、303、304、305、306)处于所述夹紧位置时，所述壳状元件(2)被夹紧在所述定位器(301、302、303、304、305、306)和所述内模(201、202、203、204、205)之间。3.根据权利要求2所述的检测装置(1)，其中，所述内模(201、202、203、204、205)包括与所述壳状元件(2)的标准尺寸相对应的曲面。4.根据权利要求3所述的检测装置(1)，其中，所述曲面包括柱面、球面和/或椭球体面。5.根据权利要求1至4中的任一项所述的检测装置(1)，其中，所述基板(10)包括用于放置所述壳状元件(2)的大致平坦的表面。6.根据权利要求1至4中的任一项所述的检测装置(1)，其中，所述定位器(301、302、303、304、305、306)将所述壳状元件(2)竖向和/或侧向压靠在所述基板(10)上。7.根据权利要求1至4中的任一项所述的检测装置(1)，其中，所述基板(1)上设有用于穿过高度检测装置的窗口部(15)。8.根据权利要求1至4中的任一项所述的检测装置(1)，其中，所述检测特征包括轮廓检测特征、尺寸检测特征、平面度检测特征、弧度检测特征中的至少一种。9.根据权利要求8所述的检测装置(1)，其中，所述轮廓检测特征和/或所述尺寸检测特征包括尺寸线(171、172、173、174)，所述尺寸线(171、172、173、174)的中心线对应于所述壳状元件(2)的标准尺寸，所述尺寸线(171、172、173、174)的宽度对应于所述壳状元件(2)的容许尺寸公差。10.根据权利要求8所述的检测装置(1)，其中，所述轮廓检测特征和/或所述尺寸检测特征包括下述形式中的至少一种形式：绘制或喷涂在所述基板(10)上的图形、未穿透所述基板(10)的凹槽以及穿透所述基板(10)的凹槽。11.一种用于壳状元件(2)的检测装置(1)，包括：基板(10)，所述基板(10)上设置有轮廓检测特征，所述轮廓检测特征与所述壳状元件(2)的合格尺寸相对应，并且所述轮廓检测特征的宽度对应...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘照鸿，徐扬，高芝芹，
申请(专利权)人：高准有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US