改进的低功率振荡器制造技术

公开了一种校准第一振荡器(102)的方法。测量温度来获得测量出的温度值并作出所述测量出的温度值是否与至少一个先前测量出的温度值有超过阈值量的差异的确定。如果所述测量出的温度与至少一个先前测量出的温度有超过所述阈值量的差异，使用参考振荡器(108、110)来校准第一振荡器(102)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】本专利技术一般涉及精确的电子振荡器，特别地涉及电子振荡器的校准。许多电子电路需要时钟源。它通常是在包括微处理器的电路中的高频晶体振荡器。然而，这种高频晶体振荡器耗取显著的电流。对于功率敏感的应用而言，因此会希望对某些定时功能，附加或替代地，使用相对低功率、低频率的时钟源。这种安排在电池供电的设备中尤为可取，其中，可以通过在尽可能多的时间保持主微处理器及其高频晶体掉电来保护电池的寿命。在这种情形中可以使用低频振荡器和相关联的计时器，以最小的功耗(例如，满足低平均功率传输协议，如下文将解释的)在精确的时间为微控制器和高频晶体产生唤醒信号。通常，使用低频晶体振荡器(例如，32.768千赫兹晶体)或弛张振荡器电路(例如，电阻-电容(RC)振荡器)产生低频率的时钟信号。32.768千赫兹晶体振荡器可以相对较低的电流消耗(例如0.5微安)提供高精度(例如，百万分之+/-30(ppm))。但是，它需要外部晶体，该外部晶体是大的、分立元件，从而占用了印刷电路板(PCB)上相当大的空间。在空间受限的设备中(诸如移动电话)，这会是一个显著的缺点。它还需要两个额外的芯片引脚，以便连接到集成电路。此外，外部晶本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种校准第一振荡器的方法，包括：测量温度来获得测量出的温度值；确定所述测量出的温度值是否与至少一个先前测量出的温度值有超过阈值量的差异；以及如果所述测量出的温度与所述至少一个先前测量出的温度有超过所述阈值量的差异，使用参考振荡器来校准第一振荡器。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.12.24 GB 1322978.61.一种校准第一振荡器的方法，包括：测量温度来获得测量出的温度值；确定所述测量出的温度值是否与至少一个先前测量出的温度值有超过阈值量的差异；以及如果所述测量出的温度与所述至少一个先前测量出的温度有超过所述阈值量的差异，使用参考振荡器来校准第一振荡器。2.根据权利要求1所述的方法，包括当请求校准第一振荡器时，发出给参考振荡器上电的请求。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中至少一个先前测量出的温度值包括当第一振荡器最近被校准时测量的温度。4.根据前述任意项权利要求所述的方法，进一步包括周期性地校准第一振荡器。5.根据前述任意项权利要求所述的方法，包括按照定期的间隔测量温度。6.根据前述任意项权利要求所述的方法，其中第一振荡器是RC振荡器。7.根据前述任意项权利要求所述的方法，其中参考振荡器是频率高于第一振荡器的RC振荡器，或者是晶体振荡器。8.根据前述任意项权利要求所述的方法，其中至少一个先前测量出的温度值存储在存储器中。9.根据权利要求8所述的方法，包括在存储器中存储多个先前测量出的温度值并将所述多个先前测量出的温度值与随后的温度测量作比较。10.根据权利要求8或9所述的方法，其中存储器中的每个温度值具有相关联的校准结果。11.根据权利要求8、9或10所述的方法，包括当执行新的校准时，将测量出的温度值和对应的校准结果添加至存储器。12.根据权利要求8-11中任意项所述的方法，其中提供多个参考振荡器，并且存储器包括温度值及相关联的校准结果的多个数据集，并且其中所述多个数据集中的每个数据集对应于不同的参考振荡器。13.根据权利要求1-11中任意项所述的方法，其中提供多个参考振荡器。14.根据权利要求12或13所述的方法，其中根据参考振荡器的类型，阈值量被指定不同的值。15.根据前述任意项权利要求所述的方法，包括温度传感器自动测量所述温度。16.根据权利要求15所述的方法，包括温度传感器确定测量出的温度值是否超过上限阈值或者低于下限阈值。17.根据权利要求15或16所述的方法，包括温度传感器自动提供信号来指示温度已经超过一上限阈值或超过所述上限阈值，或者低于一下限阈值或低于所述下限阈值，并在此后基于测量出的温度值自动更新上限阈值和下限阈值。18.根据前述任意项权利要求所述的方法，其中针对不同的温度或者不同的温度范围，阈值量被指定不同的值。19.装置，包括：第一振荡器；参考振荡器；温度传感设备；用于校准所述第一振荡器的校准设备；用于存储至少一个先前测量出的温度值的存储器；其中装置被设置为确定由所述温度传感设备测量的温度值是否与所述至少一个先前测量出的温度值有超过阈值量的差异以及如果所述测量出的温度与所述至少一个先前测量出的温度有超过阈值量的差异，以及如果所述测量出的温度与所述至少一个先前测量出的温度有超过所述阈值量的差异，使用所述参考振荡器来校准所述第一振荡器。20.根据权利要求19所述的装置，进一步被设置为当请求校准第一振荡器时，发出给参考振荡器上电的请求。21.根据权利要求19或20所述的装置，其中至少一个先前测量出的温度值包括当第一振荡器最近被校准时测量的温度。22.根据权利要求19至21中任意项所述的装置，进一步被设置为周期性地校准第一振荡器。23.根据权利要求19至22中任意项所述的装置，进一步被设置为按照定期的间隔测量温度。24.根据权利要求19至23中任意项所述的装置，其中第一振荡器是RC振荡器。25.根据权利要求19至24中任意项所述的装置，其中参考振荡器是频率高于第一振荡器的RC振荡器，或者是晶体振荡器。26.根据权利要求19至25中任意项所述的装置，其中至少一个先前测量出的温度值存储在存储器中。27.根据权利要求26所述的装置，进一步被设置为在存储器中存储多个先前测量出的温度值并将所述多个先前测量出的温度值与随后的温度测量作比较。28.根据权利要求26或27所述的装置，其中存储器中的每个温度值具有相关联的校准结果。29.根据权利要求26、27或28所述的装置，进一步被设置为当执行新的校准时，将测量出的温度值和对应的校准结果添加至存储器。30....

【专利技术属性】
技术研发人员：乔尔·斯泰普尔顿，马丁·特韦达尔，
申请(专利权)人：北欧半导体公司，
类型：发明
国别省市：挪威;NO