【技术实现步骤摘要】
相关申请的引用本申请是2013年3月14日提交的美国专利申请No.13/803,718的部分继续申请,并且其要求2012年3月14日提交的美国临时申请No.61/610,636和2013年2月25日提交的美国临时申请No.61/768,799的利益,所有这些申请通过引用合并于此。另外,美国专利申请No.13/803,718是2011年6月17日提交、为2011年1月8日提交的美国专利申请No.12/987,102的部分继续申请的美国专利申请No.13/162,895的部分继续申请,并且其要求2010年1月8日提交的美国临时申请No.61/293,614的权益,所有这些申请通过引用合并于此。政府许可权美国政府具有本专利技术的已付费许可以及如由国家科学基金会授予的授权No.IIP-0839492的条款所规定的在限定情形中要求专利所有人以合理条款许可其他人的权利。
本公开通常涉及半导体器件,以及更具体地涉及配置为减小形成器件的半导体材料的极化效应的超晶格结构。
技术介绍
在基于氮化物的半导体材料以及包括可见发光二极管(LED)和紫外(UV)发光二极管(LED)的器件中,极化效应在导致电子和空穴的强内建场和空间分离方面发挥主导作用。这些极化效应能够负面地影响基于氮化物的可见发光二极管和紫外发光二极管的性能。例如,图1A-1C示出了根据现有技术的正-本征-负(p-i-n)量子阱结
构的例示性能带图。具体地,图1A示出了没有外部偏置和照明的结构的能带图;图1B示出了具有由外部偏置补偿的p-i-n场的结构的能带图;以及图1C示出了具有由外部偏置和强光激发 ...
【技术保护点】
一种制造结构的方法,所述方法包括:基于超晶格层的多个周期的至少一个子层的目标总极化,为所述至少一个子层选择目标III族氮化物组成,其中所述总极化由相应的至少一个子层内存在的压电极化和自发极化引起,其中目标III族氮化物组成包括铝和铟,并且其中所述选择包括基于所述目标总极化选择铝和铟的摩尔分数;直接在第一III族氮化物层上生长所述超晶格层,其中生长所述多个周期中的每一个包括:生长具有第一III族氮化物组成和第一总极化的第一子层;生长与所述第一子层紧密相邻的第二子层,所述第二子层具有不同于所述第一III族氮化物组成的第二III族氮化物组成和第二总极化,其中所述第一III族氮化物组成或者所述第二III族氮化物组成中的一个是所述目标III族氮化物组成。
【技术特征摘要】
2015.03.31 US 14/675,5961.一种制造结构的方法,所述方法包括:基于超晶格层的多个周期的至少一个子层的目标总极化,为所述至少一个子层选择目标III族氮化物组成,其中所述总极化由相应的至少一个子层内存在的压电极化和自发极化引起,其中目标III族氮化物组成包括铝和铟,并且其中所述选择包括基于所述目标总极化选择铝和铟的摩尔分数;直接在第一III族氮化物层上生长所述超晶格层,其中生长所述多个周期中的每一个包括:生长具有第一III族氮化物组成和第一总极化的第一子层;生长与所述第一子层紧密相邻的第二子层,所述第二子层具有不同于所述第一III族氮化物组成的第二III族氮化物组成和第二总极化,其中所述第一III族氮化物组成或者所述第二III族氮化物组成中的一个是所述目标III族氮化物组成。2.根据权利要求1所述的方法,其中所述目标总极化为零。3.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一III族氮化物组成和所述第二III族氮化物组成是AlInGaN合金。4.根据权利要求1所述的方法,其中所述生长所述超晶格层还包括生长将所述多个周期中的每一个分开的多个第三子层。5.根据权利要求4所述的方法,其中所述多个周期中的每一个包括量子阱并且所述第三子层中的每一个包括势垒。6.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一III族氮化物层包括电子阻挡层,所述方法还包括生长与所述超晶格层的第二侧相邻的
\t多量子阱结构,其中所述第二侧与第一侧相对。7.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一III族氮化物层和所述超晶格层形成下列中的至少一种:包覆层或p型接触。8.根据权利要求1所述的方法,还包括生长与所述超晶格层的和第一侧相对的第二侧紧密相邻的第二层,其中所述多个周期中的每一个的所述组成从具有与位于和所述第一侧相邻的周期的所述第一III族氮化物层相似的晶格结构的组成变化为具有与位于和所述第二侧相邻的周期的所述第二层相似的晶格结构的组成。9.一种异质结构器件,包括:III族氮化物紫外辐射生成结构;以及超晶格层,所述超晶格层包括多个周期,所述多个周期中的每一个包括:第一子层,所述第一子层具有第一III族氮化物组成和第一总极化;以及第二子层,所述第二子层与所述第一子层相邻,所述第二子层具有不同于所述第一III族氮化物组成的第二III族氮化物组成和第二总极化,其中所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:M·舒尔,R·格斯卡,杨锦伟,A·道博林斯基,
申请(专利权)人:传感器电子技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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