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一种硅太阳能电池阵列的故障检测方法技术

技术编号:13774807 阅读:82 留言:0更新日期:2016-09-30 18:46
本发明专利技术公开了一种硅太阳能电池阵列的故障检测方法,具体包括以下步骤:S1采集太阳能电池阵列的温度以及辐照度,得到太阳能电池阵列在该条件下的I‑V输出特性关系;S2根据得到的I‑V输出特性关系式,利用基于I‑V输出特性的实际串联等效电阻计算式,计算出太阳能电池组件的实际串联等效电阻RS1,通过基于环境参数的参考串联等效电阻计算式,计算出太阳能电池组件的参考串联等效电阻RS;S3根据实际串联等效电阻RS1与参考串联等效电阻RS之间的比值得到K;S4根据K值大小判别太阳能电池阵列故障、电池组件老化或被遮挡的严重程度。本发明专利技术综合考虑了温度,辐照度,输出电压、电流参数,提高了判别的精确度,并且能定位故障点的位置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于硅太阳能电池
,涉及一种基于硅太阳能电池I-V输出特性表达式的故障检测方法,具体涉及一种硅太阳能电池阵列的故障检测方法
技术介绍
光伏系统作为洁净能源有着良好的应用和发展前景,太阳能电池作为光伏系统的核心越来越受到人们的关注。而太阳能电池阵列的故障往往制约着光伏发电,因此太阳能电池阵列的故障在线检测显得十分重要。目前检测技术主要有以下几类:1.基于红外图像分析法,是一种不需要测量太阳能电池组件参数的方法,只需要利用红外摄像机将电池组件拍摄下来,然后利用计算机进行图像分析就可以进行故障诊断,主要是通过故障点与正常工作组件的温差从而判别,这种检测方法成本太高,不易推广,该方法也只适用于研究或一些特殊的场合;2.基于电路结构的方法,其实质是通过改变光伏系统太阳能电池阵列结构来达到减少传感器的目的。但是故障原因和表现形式是多种多样的,通过改变电路结构,用传感器来测量一些电参数进行故障诊断是十分复杂的,并且会增加系统成本,所以基于电路结构的方法更多的是用于一些特殊场合或小规模的光伏系统中;3.还有基于测量接地电容的方法,但是在实际中很难满足该方法的检测条件;4.基于电气本文档来自技高网...
一种硅太阳能电池阵列的故障检测方法

【技术保护点】
一种硅太阳能电池阵列的故障检测方法,其特征在于:包括以下步骤:S1采集太阳能电池阵列的温度以及辐照度,得到太阳能电池阵列在该条件下的I‑V输出特性关系式;S2根据得到的I‑V输出特性关系式,利用基于I‑V输出特性的实际串联等效电阻计算式,计算出太阳能电池组件的实际串联等效电阻RS1,通过基于环境参数的参考串联等效电阻计算式,计算出太阳能电池组件的参考串联等效电阻RS;S3根据实际串联等效电阻RS1与参考串联等效电阻RS之间的比值得到K;S4根据K值大小判别太阳能电池阵列故障、电池组件老化或被遮挡的严重程度。

【技术特征摘要】
1.一种硅太阳能电池阵列的故障检测方法,其特征在于:包括以下步骤:S1采集太阳能电池阵列的温度以及辐照度,得到太阳能电池阵列在该条件下的I-V输出特性关系式;S2根据得到的I-V输出特性关系式,利用基于I-V输出特性的实际串联等效电阻计算式,计算出太阳能电池组件的实际串联等效电阻RS1,通过基于环境参数的参考串联等效电阻计算式,计算出太阳能电池组件的参考串联等效电阻RS;S3根据实际串联等效电阻RS1与参考串联等效电阻RS之间的比值得到K;S4根据K值大小判别太阳能电池阵列故障、电池组件老化或被遮挡的严重程度。2.根据权利要求1所述的硅太阳能电池阵列的故障检测方法,其特征在于:所述I-V输出特性关系式为:其中I表示输出电流,V表示输出电压,G表示辐照度,Gref表示参考辐照度,T表示电池温度,Tref表示参考电池温度,α是温度系数,为正数;β是辐照度系数,为一负数,α与β的值通过实验数据拟合得到,ISC为太阳能电池短路电流,α1为温度补偿系数,β1为简化合并后的系数,K1为拟合系数,VT=N·(Tk/q),其中N为输出电压V值所对应的串联电池组件个数,k表示波尔兹曼常数,q表示电子电荷。3.根据权利要求2所述的硅太阳能电池阵列的故障检测方法,其特征在于:基于I-V输出特性的实际串联等效电阻计算式为:RS1=[ln((IL-(I+K1I))Io+1)·VT-V]/IN (4) I L = G G r e f · ( 1 + ...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭珂伍敏戴博伟黄恩芳
申请(专利权)人:重庆大学
类型:发明
国别省市:重庆;50

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