一种光学波片测试台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光学波片测试台，包括一个测试机架，测试机架上从下到上依次设有入射光源组件、起偏器放置台、待测波片自动旋转台、标准波片放置台、检偏器自动旋转台和连接波片测试仪的测试探头，待测波片自动旋转台中设有一个中空的第一精密旋转台，第一精密旋转台连接有第一数控驱动机构，检偏器自动旋转台中设有一个中空的第二精密旋转台，第二精密旋转台连接有第二数控驱动机构，第一数控驱动机构和第二数控驱动机构连接一个数控调节控制器；本实用新型专利技术能够通过数控驱动机构控制精密旋转台自动转动，波片连续旋转时经过波片的线偏振光的偏振连续偏转，波片测量操作方便，能够快速调整测试，测试效率高、测试准确可靠。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光学器件
，尤其涉及一种光学波片测试台。
技术介绍
光波具有不同偏振态，光学系统中经常需要改变光波的偏振态或检测光波的偏振态，由于光波的偏振态是由其正交振动的振幅比与相位差所决定，因此改变这两个参量就可以改变光波的偏振态，利用光通过晶体改变入射光的相位差的特点而制作的一类光学器件就称为波片。在光学波片零件加工制造过程中，需要反复的研磨、抛光，波片零件需要根据其性能参数进行检测，确保加工的波片零件符合要求。检测波片零件时，需要不断调整起偏器、待检测波片零件和检偏器之间的平面夹角位置，通过检偏器的光的强度周期性的变化进行检测，现有技术在检测需要采用人工手动不断去调整，采用人工手动调整测试比较慢，比较难以快速调整测试，因此需要进一步改进。
技术实现思路
为克服现有技术的不足，本技术提供了一种操作方便、测试效率高、测试准确可靠的光学波片测试台。本技术为达到上述技术目的所采用的技术方案是：一种光学波片测试台，包括一个测试机架，所述测试机架上从下到上依次设有入射光源组件、起偏器放置台、待测波片自动旋转台、标准波片放置台、检偏器自动旋转台和连接波片测试仪的测试探头，所述入射光源组件设有一个水平设置的发射光源和一个入射光转向棱镜，所述待测波片自动旋转台中设有一个中空的第一精密旋转台，所述第一精密旋转台上设有放置待测波片的载台，所述第一精密旋转台连接有第一数控驱动机构，所述检偏器自动旋转台中设有一个中空的第二精密旋转台，所述第二精密旋转台上设有放置检偏器的载台，所述第二精密旋转台连接有第二数控驱动机构。所述标准波片放置台中设有1/4标准波片。所述发射光源为532nm的单点激光光源。所述第一数控驱动机构和第二数控驱动机构中都设有步进驱动电机，所述步进驱动电机都与一个数控调节控制器相连。本技术的有益效果是：采用上述结构，通过设置设有待测波片自动旋转台和检偏器自动旋转台的自动波片测试台，待测波片自动旋转台和检偏器自动旋转台中都设置能够由数控调节控制器精密调节控制的数控驱动机构，能够通过数控驱动机构控制精密旋转台自动转动，波片连续旋转时经过波片的线偏振光的偏振连续偏转，波片测量操作方便，能够快速调整测试，测试效率高、测试准确可靠。附图说明下面结合附图和实施例对本技术作进一步说明。其中：图1是本技术光学波片测试台的结构示意图。具体实施方式为详细说明本技术的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详细说明。请参阅图1所示，本技术光学波片测试台包括一个测试机架1，所述测试机架1上从下到上依次设有入射光源组件2、起偏器放置台3、待测波片自动旋转台4、标准波片放置台5、检偏器自动旋转台6和连接波片测试仪的测试探头7，所述入射光源组件2设有一个水平设置的发射光源21和一个入射光转向棱镜22，所述待测波片自动旋转台4中设有一个中空的第一精密旋转台41，所述第一精密旋转台41上设有放置待测波片的载台42，所述第一精密旋转台41连接有第一数控驱动机构43，所述检偏器自动旋转台6中设有一个中空的第二精密旋转台61，所述第二精密旋转台61上设有放置检偏器的载台62，所述第二精密旋转台61连接有第二数控驱动机构63。所述标准波片放置台5中设有1/4标准波片51。所述发射光源21为532nm的单点激光光源。所述第一数控驱动机构43和第二数控驱动机构63中都设有步进驱动电机431、631，所述步进驱动电机431、631都与一个数控调节控制器8相连。以上所述仅为本技术的实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的
，均同理包括在本技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学波片测试台，其特征在于：包括一个测试机架，所述测试机架上从下到上依次设有入射光源组件、起偏器放置台、待测波片自动旋转台、标准波片放置台、检偏器自动旋转台和连接波片测试仪的测试探头，所述入射光源组件设有一个水平设置的发射光源和一个入射光转向棱镜，所述待测波片自动旋转台中设有一个中空的第一精密旋转台，所述第一精密旋转台上设有放置待测波片的载台，所述第一精密旋转台连接有第一数控驱动机构，所述检偏器自动旋转台中设有一个中空的第二精密旋转台，所述第二精密旋转台上设有放置检偏器的载台，所述第二精密旋转台连接有第二数控驱动机构。

【技术特征摘要】
1.一种光学波片测试台，其特征在于：包括一个测试机架，所述测试机架上从下到上依次设有入射光源组件、起偏器放置台、待测波片自动旋转台、标准波片放置台、检偏器自动旋转台和连接波片测试仪的测试探头，所述入射光源组件设有一个水平设置的发射光源和一个入射光转向棱镜，所述待测波片自动旋转台中设有一个中空的第一精密旋转台，所述第一精密旋转台上设有放置待测波片的载台，所述第一精密旋转台连接有第一数控驱动机构，所述检偏器自动旋转台中设有一个中空的第二精密旋...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈旭，
申请(专利权)人：福州荣德光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35