一种不良子像素的定位方法、装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种不良子像素的定位方法、装置，属于显示技术领域，其可解决现有的不良子像素的定位方法无法对在显示信号下能显示其正常颜色但显示灰度不同的不良子像素进行定位的问题。本发明专利技术的不良子像素的定位方法，包括：向显示面板输入测试信号，以使显示面板显示测试画面，以通过不良图形确定出不良子像素的颜色；向显示面板输入检测信号，以使显示面板的多个检测画面依次显示，直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合；根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。

【技术实现步骤摘要】
一种不良子像素的定位方法、装置
本专利技术属于显示
，具体涉及一种不良子像素的定位方法、装置。
技术介绍
目前，对于不良子像素的定位方法通常为：由于通常情况下，一根数据线控制两个相邻的子像素，向显示面板输入显示信号，对于没有出现断路等问题的数据线来说，其控制的两个子像素可以显示其正常颜色，但对于有断路的数据线来说，在常黑模式下，其控制的两个子像素只能显示黑色(如图1所示)而无法显示其它颜色(以下称有断路的数据线控制的子像素为不良子像素)，通过人眼只能看到两个相邻的蓝色，以此可判断出不良子像素的颜色为红色子像素和绿色子像素，此时，操作人员需要对该不良子像素进行定位，得到其位置坐标，从而获取有断路的数据线的位置。具体地，以不良子像素为红色子像素和绿色子像素为例，如图2所示，向显示面板输入检测信号，使显示面板依次显示多个检测画面，每个所述检测画面包括不良图形1和检测图形2，此时，不良图形1中包括实际显示为黑色的红色子像素和绿色子像素、正常显示的蓝色子像素，检测图形2包括高亮显示的红色子像素和显示为黑色的蓝色子像素和绿色子像素，检测图形2在相邻两个检测画面中挪动一个位置，也就是说，在图2的基础上，经过两个检测画面后，检测图形2覆盖了图2中不良图形1的位置(如图3所示)，即检测图形2中的高亮显示的红色子像素覆盖住不良图形1中的实际显示为黑色的红色子像素，检测图形2中的显示为黑色的绿色子像素覆盖住不良图形1中的实际显示为黑色的绿色子像素，检测图形2中的显示为黑色的蓝色子像素覆盖住不良图形1中的正常显示的蓝色子像素，此时，由于检测图形2的位置是已知的(可以通过检测装置显示出位置)，因此，基于检测图形2与不良图形1的位置重合，操作人员根据检测图形2的位置就可以定位到不良图形1的位置，从而可以获取到有断路的数据线的位置。但现有技术中至少存在如下问题：上述方法只能针对在显示信号下完全不显示其正常颜色(即显示黑色)的子像素，而对在显示信号下能显示其正常颜色但显示灰度不同的子像素，采用上述方法不能对不良子像素准确定位，其原因是：当检测图形2移动到正常显示的子像素时，检测图形2中只有两个显示黑色的子像素，当检测图形2移动灰度不良的子像素时，检测图形2中也只有两个黑色的子像素，人眼不能辨别检测图形2有无颜色差异，因此，就无法进行定位了。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种能够对在显示信号下能显示其正常颜色但显示灰度不同的不良子像素进行定位的不良子像素的定位方法、装置。解决本专利技术技术问题所采用的技术方案是一种不良子像素的定位方法，包括：向显示面板输入测试信号，以使显示面板显示测试画面，所述显示面板包括依次排列的像素，每个所述像素包括多个子像素，所述测试画面包括不良图形，以通过所述不良图形确定出不良子像素的颜色，所述不良图形对应于不良子像素；向显示面板输入检测信号，以使显示面板的多个检测画面依次显示，每个所述检测画面包括不良图形和检测图形，所述检测图形对应于与所述不良子像素的颜色相同的检测子像素，所述检测信号包括检测子像素的灰度值所对应的电压，所述检测子像素的灰度值与其余子像素的灰度值不同，直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合；根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。其中，所述检测画面包括检测区域，所述检测区域包括检测图形，所述检测区域对应于检测像素，所述检测像素包括检测子像素。其中，相邻的检测画面中检测图形的位置不同。其中，所述测试信号包括每个子像素的灰度值，所述每个子像素的灰度相同。其中，所述每个子像素的灰度值为63或127。作为另一技术方案，本专利技术还提供一种不良子像素的定位装置，包括：第一输入模块，用于向显示面板输入测试信号，以使显示面板显示测试画面，所述显示面板包括依次排列的像素，每个所述像素包括多个子像素，所述测试画面包括不良图形，以通过所述不良图形确定出不良子像素的颜色，所述不良图形对应于不良子像素；第二输入模块，用于向显示面板输入检测信号，以使显示面板的多个检测画面依次显示，每个所述检测画面包括不良图形和检测图形，所述检测图形对应于与所述不良子像素的颜色相同的检测子像素，所述检测信号包括检测子像素的灰度值所对应的电压，所述检测子像素的灰度值与其余子像素的灰度值不同，直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合；定位模块，用于根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。其中，所述检测画面包括检测区域，所述检测区域包括检测图形，所述检测区域对应于检测像素，所述检测像素包括检测子像素。其中，相邻的检测画面中检测图形的位置不同。其中，所述测试信号包括每个子像素的灰度值，所述每个子像素的灰度相同。其中，所述每个子像素的灰度值为63或127。本专利技术的不良子像素的定位方法、装置中，该不良子像素的定位方法，通过将检测子像素的灰度值设置为与其余子像素的灰度值不同，直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合，根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置，从而获取导致该不良子像素出现灰度值不同的数据线的位置，进而使操作人员对该数据线的对应位置进行修复，以提高产品良率。附图说明图1为现有的不良子像素的示意图；图2为现有的不良子像素的定位方法的一个检测画面；图3为现有的不良子像素的定位方法的另一个检测画面；图4为本专利技术的实施例1的不良子像素的定位方法的流程示意图；图5为本专利技术的实施例1的不良子像素的示意图；图6为本专利技术的实施例1的不良子像素的定位方法的一个检测画面；图7为本专利技术的实施例1的不良子像素的定位方法的另一个检测画面；图8为本专利技术的实施例2的不良子像素的定位装置的结构示意图；其中，附图标记为：1、不良图形；2、检测图形；10、第一输入模块；20、第二输入模块；30、定位模块。具体实施方式为使本领域技术人员更好地理解本专利技术的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细描述。实施例1：请参照图4至图7，本实施例提供一种不良子像素的定位方法，包括：步骤101，向显示面板输入测试信号，以使显示面板显示测试画面，显示面板包括依次排列的像素，每个像素包括多个子像素，测试画面包括不良图形1，以通过不良图形1确定出不良子像素的颜色，不良图形对应于不良子像素。其中，测试信号包括每个子像素的灰度值，每个子像素的灰度相同。如图5所示，本实施例中以R为不良子像素为例进行说明。如图5所示，当向显示面板输入测试信号后，显示面板上显示出多个像素，每个像素包括三个子像素，分别为红色子像素(R)、绿色子像素(G)和蓝色子像素(B)，但该显示面板上存在有短路(即不是完全断路)或连接不良的数据线时，该数据线控制的子像素就会出现能够显示其颜色但颜色的灰度值不同的现象，因此，测试画面中包括不良图形1，不良图形1中包括显示其颜色但颜色的灰度值不同的不良子像素。需要说明的是，当向显示面板输入测试信号后，操作人员通过肉眼就可以发现不良图形1的位置以及不良子像素的颜色。当然，每个像素中的多个子像素的颜色并不局限于R、G和B，还可以根据实际情况进行调整，在此不再赘述。步骤102，向显示面板输入检测信号，以使显示面板的多个检测画面依次显示，每个检测画面包括不良图形1和检测图形2，检测图形2对应于与不良子像素的颜色相同的检测子像素本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种不良子像素的定位方法，其特征在于，包括：向显示面板输入测试信号，以使显示面板显示测试画面，所述显示面板包括依次排列的像素，每个所述像素包括多个子像素，所述测试画面包括不良图形，以通过所述不良图形确定出不良子像素的颜色，所述不良图形对应于不良子像素；向显示面板输入检测信号，以使显示面板的多个检测画面依次显示，每个所述检测画面包括不良图形和检测图形，所述检测图形对应于与所述不良子像素的颜色相同的检测子像素，所述检测信号包括检测子像素的灰度值所对应的电压，所述检测子像素的灰度值与其余子像素的灰度值不同，直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合；根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。

【技术特征摘要】
1.一种不良子像素的定位方法，其特征在于，包括：向显示面板输入测试信号，以使显示面板显示测试画面，所述显示面板包括依次排列的像素，每个所述像素包括多个子像素，所述测试画面包括不良图形，以通过所述不良图形确定出不良子像素的颜色，所述不良图形对应于不良子像素；向显示面板输入检测信号，以使显示面板的多个检测画面依次显示，每个所述检测画面包括不良图形和检测图形，所述检测图形对应于与所述不良子像素的颜色相同的检测子像素，所述检测信号包括检测子像素的灰度值所对应的电压，所述检测子像素的灰度值与其余子像素的灰度值不同，直至某一检测画面中不良图形与检测图形重合；其中，所述检测画面包括检测区域，所述检测区域包括检测图形，所述检测区域对应于检测像素，所述检测像素包括检测子像素；根据检测子像素的位置确定出不良子像素的位置。2.根据权利要求1所述的不良子像素的定位方法，其特征在于，相邻的检测画面中检测图形的位置不同。3.根据权利要求1所述的不良子像素的定位方法，其特征在于，所述测试信号包括每个子像素的灰度值，所述每个子像素的灰度相同。4.根据权利要求3所述的不良子像素的定位方法，其特征在于，所述每个子像素的灰度值为63或127。5.一种不良子像素的定位...

【专利技术属性】
技术研发人员：谈世栋，黄正阳，刘正才，胥大千，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，重庆京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11