一种测试通讯接口规范的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试通讯接口规范的方法及装置，包括：利用Bert测试对测试板卡进行实际验证，得到测试板卡的误码率，并根据测试板卡的误码率将测试板卡分为成功样本和失败样本；利用仿真软件对成功样本和失败样本的通道分别建模并仿真，得到成功样本和失败样本的S参数；分析成功样本和失败样本的S参数，得到成功样本和失败样本的插动损耗的概率密度分布状况和回波损耗的概率密度分布状况；利用时域模型对成功样本和失败样本的S参数进行时域仿真并分析，得到成功样本和失败样本的眼高概率密度分布状况和眼宽概率密度分布状况。可见，在本实施例中通过利用仿真和量测相结合的方式来定义通讯接口规范。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子
，更具体地说，涉及一种测试通讯接口规范的方法及装置。
技术介绍
在通信系统设计中，通常会遇到许多不同类型的信号通信接口，有些信号是有既定的设计规范的，有些信号没有既定的协会规范，或者这种规范还没有被普遍定义下来。要对此种接口定义规范，如果采用常规方法，采用测试板多次测试验证的方法，需要非常大的工作量和耗费大量的人力物力。因此，如何测试通讯接口规范是本领域技术人员需要解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测试通讯接口规范的方法及装置，以测试通讯接口规范。为实现上述目的，本专利技术实施例提供了如下技术方案：一种测试通讯接口规范的方法，包括：利用Bert测试对测试板卡进行实际验证，得到测试板卡的误码率，并根据所述测试板卡的误码率将所述测试板卡分为成功样本和失败样本；利用仿真软件对所述成功样本和所述失败样本的通道分别建模并仿真，得到所述成功样本的第一S参数和所述失败样本的第二S参数；分析所述第一S参数，得到所述成功样本的第一插动损耗的概率密度分布状况和第一回波损耗的概率密度分布状况；分析所述第二S参数，得到所述失败样本的第二插动损耗的概率密度分布状况和第二回波损耗的概率密度分布状况；利用时域模型对所述第一S参数进行时域仿真并分析，得到所述成功样本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状况；利用时域模型对所述第二S参数进行时域仿真并分析，得到所述失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状况。其中，所述利用仿真软件对所述成功样本和所述失败样本的通道分别建模并仿真，得到所述成功样本的第一S参数和所述失败样本的第二S参数，包括：利用仿真软件对所述成功样本的通道的制程参数变量进行扫描，评估所述成功样本制程因素的影响，得到所述第一S参数；利用仿真软件对所述失败样本的通道的制程参数变量进行扫描，评估所述失败样本制程因素的影响，得到所述第二S参数。其中，所述测试板卡为实际板卡或者实际可参考链路。其中，所述利用时域模型对所述第一S参数进行时域仿真并分析，得到所述成功样本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状况；利用时域模型对所述第二S参数进行时域仿真并分析，得到所述失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状况，包括：利用构建的时域模型对所述第一S参数进行时域仿真，得到与所述第一S参数相对应的第一时域眼图，并对所述第一时域眼图的眼高和眼宽进行分析，得到所述成功样本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状况；利用构建的时域模型对所述第二S参数进行时域仿真，得到与所述第二S参数相对应的第二时域眼图，并对所述第二时域眼图的眼高和眼宽进行分析，得到所述失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状况。其中，所述时域模型为AMI模型。一种测试通讯接口规范的装置，包括：误码率计算模块，用于利用Bert测试对测试板卡进行实际验证，得到测试板卡的误码率；测试板卡分类模块，用于根据所述测试板卡的误码率将所述测试板卡分为成功样本和失败样本；参数计算模块，用于利用仿真软件对所述成功样本和所述失败样本的通道分别建模并仿真，得到所述成功样本的第一S参数和所述失败样本的第二S参数；第一分析模块，用于分析所述第一S参数，得到所述成功样本的第一插动损耗的概率密度分布状况和第一回波损耗的概率密度分布状况；第二分析模块，用于分析所述第二S参数，得到所述失败样本的第二插动损耗的概率密度分布状况和第二回波损耗的概率密度分布状况；第三分析模块，用于利用时域模型对所述第一S参数进行时域仿真并分析，得到所述成功样本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状况；第四分析模块，用于利用时域模型对所述第二S参数进行时域仿真并分析，得到所述失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状况。其中，包括：第一参数计算单元，用于利用仿真软件对所述成功样本的通道的制程参数变量进行扫描，评估所述成功样本制程因素的影响，得到所述第一S参数；第二参数计算单元，用于利用仿真软件对所述失败样本的通道的制程参数变量进行扫描，评估所述失败样本制程因素的影响，得到所述第二S参数。其中，所述测试板卡为实际板卡或者实际可参考链路。其中，所述第三分析模块包括：第一仿真单元，用于利用构建的时域模型对所述第一S参数进行时域仿真，得到与所述第一S参数相对应的第一时域眼图；第一分析单元，用于对所述第一时域眼图的眼高和眼宽进行分析，得到所述成功样本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状况；所述第四分析模块包括：第二仿真单元，用于利用构建的时域模型对所述第二S参数进行时域仿真，得到与所述第二S参数相对应的第二时域眼图；第二分析单元，用于对所述第二时域眼图的眼高和眼宽进行分析，得到所述失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状况。其中，所述时域模型为AMI模型。通过以上方案可知，本专利技术实施例提供的一种测试通讯接口规范的方法及装置，包括：利用Bert测试对测试板卡进行实际验证，得到测试板卡的误码率，并根据所述测试板卡的误码率将所述测试板卡分为成功样本和失败样本；利用仿真软件对所述成功样本和所述失败样本的通道分别建模并仿真，得到所述成功样本的第一S参数和所述失败样本的第二S参数；分析所述第一S参数，得到所述成功样本的第一插动损耗的概率密度分布状况和第一回波损耗的概率密度分布状况；分析所述第二S参数，得到所述失败样本的第二插动损耗的概率密度分布状况和第二回波损耗的概率密度分布状况；利用时域模型对所述第一S参数进行时域仿真并分析，得到所述成功样本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状况；利用时域模型对所述第二S参数进行时域仿真并分析，得到所述失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状况。可见，在本实施例中通过利用仿真和量测相结合的方式来定义信号的设计规范，在一定程度上解决了新型信号接口或者非常用接口无规范可参考判断的问题，对信号完整型设计和版图设计提出了新的解决方案和思路。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试通讯接口规范的方法，其特征在于，包括：利用Bert测试对测试板卡进行实际验证，得到测试板卡的误码率，并根据所述测试板卡的误码率将所述测试板卡分为成功样本和失败样本；利用仿真软件对所述成功样本和所述失败样本的通道分别建模并仿真，得到所述成功样本的第一S参数和所述失败样本的第二S参数；分析所述第一S参数，得到所述成功样本的第一插动损耗的概率密度分布状况和第一回波损耗的概率密度分布状况；分析所述第二S参数，得到所述失败样本的第二插动损耗的概率密度分布状况和第二回波损耗的概率密度分布状况；利用时域模型对所述第一S参数进行时域仿真并分析，得到所述成功样本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状况；利用时域模型对所述第二S参数进行时域仿真并分析，得到所述失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状况。

【技术特征摘要】
1.一种测试通讯接口规范的方法，其特征在于，包括：
利用Bert测试对测试板卡进行实际验证，得到测试板卡的误码率，并根
据所述测试板卡的误码率将所述测试板卡分为成功样本和失败样本；
利用仿真软件对所述成功样本和所述失败样本的通道分别建模并仿真，
得到所述成功样本的第一S参数和所述失败样本的第二S参数；
分析所述第一S参数，得到所述成功样本的第一插动损耗的概率密度分
布状况和第一回波损耗的概率密度分布状况；分析所述第二S参数，得到所
述失败样本的第二插动损耗的概率密度分布状况和第二回波损耗的概率密度
分布状况；
利用时域模型对所述第一S参数进行时域仿真并分析，得到所述成功样
本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状况；利用时域模
型对所述第二S参数进行时域仿真并分析，得到所述失败样本的第二眼高概
率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状况。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用仿真软件对所述
成功样本和所述失败样本的通道分别建模并仿真，得到所述成功样本的第一S
参数和所述失败样本的第二S参数，包括：
利用仿真软件对所述成功样本的通道的制程参数变量进行扫描，评估所
述成功样本制程因素的影响，得到所述第一S参数；
利用仿真软件对所述失败样本的通道的制程参数变量进行扫描，评估所
述失败样本制程因素的影响，得到所述第二S参数。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试板卡为实际板卡
或者实际可参考链路。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用时域模型对所述
第一S参数进行时域仿真并分析，得到所述成功样本的第一眼高概率密度分
布状况和第一眼宽概率密度分布状况；利用时域模型对所述第二S参数进行
时域仿真并分析，得到所述失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼
宽概率密度分布状况，包括：
利用构建的时域模型对所述第一S参数进行时域仿真，得到与所述第一S
参数相对应的第一时域眼图，并对所述第一时域眼图的眼高和眼宽进行分析，
得到所述成功样本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状
况；
利用构建的时域模型对所述第二S参数进行时域仿真，得到与所述第二S
参数相对应的第二时域眼图，并对所述第二时域眼图的眼高和眼宽进行分析，
得到所述失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状
况。
5.根据权利要求1-4中任意一项所述的方法，其特征在于，所述时域模

【专利技术属性】
技术研发人员：龚艳鸿，胡倩倩，
申请(专利权)人：浪潮北京电子信息产业有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11