一种用于氙灯老化箱的辐照计及其测量方法技术

技术编号:13339910 阅读:217 留言:0更新日期:2016-07-13 14:26
本发明专利技术公开了一种用于氙灯老化箱的辐照计及其测量方法,辐照计包括探头和主机,所述探头包括有滤光片和传感器模块,所述传感器模块与主机相连接。方法包括:获取选择对应的波段和氙灯滤光罩类型;调用已校准标定的相应基准数据;根据对应的波段、氙灯滤光罩类型和相应基准数据,调用对应的辐照度算法对辐照度进行计算,得到辐照度值。本发明专利技术能根据获取的波段选择对应的算法进行辐照度计算,从而能大大提高测量的准确性,以及能测量多个波段的辐照度,提高适用性。本发明专利技术可广泛应用于氙灯老化箱中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及辐照
,尤其涉及一种用于氙灯老化箱的辐照计及其测量方法
技术介绍
在高分子材料老化人工加速试验中,常用氙灯或其他光源的老化箱模拟太阳光谱中的紫外、可见光以及红外部分对样品进行加速老化。其中,紫外波段对高分子材料的老化作用最显著,因此,通常在紫外波段或近紫外的可见光波段对辐照度进行计量。氙灯老化箱的辐照度计量波段主要有340nm窄带、420窄带、300-400nm宽带三种。目前市场已有可测量紫外波段辐照度的辐照计,但绝大多数都是用于气象、农业、医疗领域,其计量波段不符合老化测试的要求。有少数可用于老化测试的辐照计也只适用于紫外老化箱的UVA、UVB波段。现有的个别氙灯老化箱生产厂家为他们自己的老化箱配备了专用的辐照计,但其采用的传感器有效频率范围通常很窄,仅能测量单一波段的辐照度。而且现在的传感器很容易受到信号干扰,测量的准确性较低。
技术实现思路
为了解决上述技术问题,本专利技术的目的是提供一种能减少干扰,测量多个波段辐照度的一种用于氙灯老化箱的辐照计及其测量方法。本专利技术所采取的技术方案是:一种用本文档来自技高网...
一种用于氙灯老化箱的辐照计及其测量方法

【技术保护点】
一种用于氙灯老化箱的辐照计,其特征在于:包括探头和主机,所述探头包括有滤光片和传感器模块,所述传感器模块与主机相连接。

【技术特征摘要】
1.一种用于氙灯老化箱的辐照计,其特征在于:包括探头和主机,所述探头包括有滤光片和传感器模块,所述传感器模块与主机相连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于氙灯老化箱的辐照计,其特征在于:所述主机包括主机壳体,所述主机壳体内设有电路板和电池,所述主机壳体上安装有按键面板,所述传感器模块与电路板连接,所述电路板的输入端与按键面板的输出端连接,所述电池的输出端与电路板的电源输入端连接。
3.根据权利要求2所述的一种用于氙灯老化箱的辐照计,其特征在于:所述电路板包括中央控制器、低通滤波电路、屏幕驱动电路、屏幕、电源电路和外部电源接口,所述传感器模块的输出端与低通滤波电路的输入端连接,所述低通滤波电路的输出端与中央控制器的第一输入端连接,所述中央控制器的输出端与屏幕驱动电路的输入端连接,所述屏幕驱动电路的输出端与屏幕的输入端连接,所述电源电路的输出端分别与传感器模块的电源输入端、低通滤波电路的电源输入端、中央控制器的电源输入端和屏幕驱动电路的电源输入端相连接,所述电池与电源电路的第一输入端连接,所述电源电路的第二输入...

【专利技术属性】
技术研发人员:周彦宇高祥孙耿鹏
申请(专利权)人:广州合成材料研究院有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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