二进制编码的十进制电阻性负载和网络制造技术

一种用于提供可变电阻的装置在其一实施方式中可设置为根据二进制编码的十进制方案提供电阻值。所述装置在此处可称为BCD可变电阻装置。该BCD可变电阻装置可包括多个电阻性元件以及多个开关。在一种实施方式中，所述电阻性元件可按照二进制编码的十进制方案与所述开关相连接。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】相关申请的交叉引用本申请要求申请日为2013年1月10日，申请号为13/738,676的美国专利申请的优先权，并通过引用将其内容整体并入本文。
本专利技术涉及电源，包括用于提供可变电阻以对此类电源进行测试的装置和方法。
技术介绍
在电子领域中，电源用于各种应用场合。如果电源不按所期望的方式工作，那么就会对其所连接的电气元件造成损害。因此，在特定应用中使用电源时，需要在使用前和使用后对电源性能进行验证。此验证过程包括为电源提供可变负载以及对电源的响应进行评价。十进电阻箱为一种已知的电源测试设备。在对提供给电源的负载进行调节时，十进电阻箱通常需要人工开关操作。此外，由于十进电阻箱通常不设计为用于高功率应用场合，因此其使用方面受到限制。再次，即使假设十进电阻箱具有更大的应用范围，由于其设计为需人工开关操作，在每个电源都需要在多个电压水平上测试的情况下，其将造成巨大的用户输入工作量。此外，此领域中还存在着一些其他人工开关式可变负载设备。例如，可使用电位计对电源进行测试。然而，与十进电阻箱的情况类似，电位计也通常不设计为用于高功率应用场合，因此其在使用方面受到限制。再次，同样与十进电阻箱的情况类似，在大的负载范围内对电源测试时，电位计也将造成巨大的用户输入工作量，而且负载控制精度较低。
技术实现思路
一种用于提供可变电阻的装置在其一实施方式中可包括：多个电阻性元件，每个电阻性元件均具有相应的阻值；以及多个开关。每个开关均与所述多个电阻性元件当中的一个对应电阻性元件相连接，而且每个开关均用于选择性地将所述对应电阻性元件纳入所述可变电阻中。所述电阻性元件和开关可按照二进制编码的十进制方案进行设置。一种用于提供可变电阻的装置在其另一实施方式中可包括多个开关式电阻性元件。每个电阻性元件均具有相应的阻值。所述电阻性元件按照一个二进制编码的十进制值分组，以提供可变电阻。所述电阻性元件可设置为自动开关，以选择性地贡献于所述可变电阻中。一种方法在其一实施方式中可包括提供一装置，该装置包括：多个电阻性元件，每个电阻性元件均具有相应的阻值；以及多个开关，每个开关均与所述多个电阻性元件当中的一个对应电阻性元件相连接，每个开关均用于选择性地将所述对应电阻性元件纳入所述可变电阻中。所述电阻性元件和开关可按照二进制编码的十进制方案进行设置。所述方法可进一步包括自动驱动所述开关，以提供一系列预定阻值。在其各实施方式中，所述BCD可变电阻装置可在多种功率条件下实现宽的可提供电阻范围，而且可用于为原型电路提供选定的阻值，从而为最终版电路确定合适的阻值。在上述或其他实施方式中，所述装置可用于调节控制环路或控制电路。在上述或其他实施方式中，所述装置可用于在一种或多种电阻水平下测试及验证电源性能。附图说明以下，通过参考附图，以例示方式对本专利技术的实施方式进行描述。附图中：图1为用于提供二进制编码的十进制电阻值的可变电阻装置在其一实施方式中的示意图。图2为二进制编码的十进制电阻器组在其一实施方式中的例示状态示意图。图3为自动操作式可变电阻装置在其一实施方式中的示意图。图4为通过用于提供二进制编码的十进制电阻值的可变电阻装置验证电源性能的方法的流程图。具体实施方式此处将对本专利技术的实施方式进行详述，各实施例见于以下描述及附图图示。虽然此处通过实施方式对本专利技术进行了描述，可以理解的是其并不用于将本专利技术限制于这些实施方式。相反地，本专利技术意在涵盖所附权利要求所定义的本专利技术精神和范围可囊括的所有替代、改进和等同方案。图1为用于提供二进制编码的十进制电阻值的可变电阻装置10在其一实施方式中的示意图。所述装置10设置为根据二进制编码的十进制(BCD)方案提供电阻值，本文中可称之为BCD可变电阻装置10。BCD可变电阻装置10包括分成多个组40的多个电阻性元件20以及多个开关30。每个电阻性元件20均可以为能够提供已知电阻的单个或多个电阻器、晶体管或其他元器件，或电阻器、晶体管或其他元器件的组合。在一种实施方式中，所述电阻性元件可串联设置，以提供选定电阻值。在其他实施方式中，所述电阻性元件可并联设置，或部分并联部分串联设置。每个电阻性元件20可具有由所述BCD方案确定的相应电阻。所述开关可用于改变所述装置提供的电阻值。每个开关30均可与一个或多个电阻性元件20相连接，以选择性地将这一个或多个电阻性元件20连接至电阻性通道50内。所述电阻性通道可决定所述装置所提供的可变电阻的大小。开关30可采取各种形式，包括但不限于：晶体管，例如金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)，以及其他半导体器件。电阻性元件20和开关30可分为N个组40。在一种实施方式中，例如在图1所示的实施方式中分为三个组401，402，40N，每个组40均含有四个电阻性元件20，分别与四个开关30相连接。每个组40内的每一电阻性元件20所具有的电阻可与该组40内的每个其他电阻性元件20的电阻处于同一数量级。例如，组40内的每一电阻性元件20均可具有0～1欧姆范围内的电阻。在一种实施方式中，每个组40可包括四个电阻性元件20，分别具有约为1×10X、2×10X、4×10X以及8×10X欧姆的电阻，其中，X可以为正整数、负整数或零。图2为二进制编码的十进制电阻性元件组40在一种实施方式中的例示状态示意图。虽然该电阻性元件组在图1中示为第一组401，但是并不限于此。电阻性元件组401包括四个与相应开关301-304以及电源100相连接的电阻性元件201-204。在一种实施方式中，开关30可分别独立驱动(即打开或关闭)，以将电阻性元件20当中的被选定的电阻性元件连接至电阻性通道50内。例如，可打开开关302和303，以将电阻性元件202和203纳入电阻性通道50中，从而使电阻性元件202和203贡献于所述可变电阻。此外，可关闭开关301和304，以将电阻性元件201和204从电阻性通道50中移除，从而将电阻性元件201和204从所述可变电阻中排除(即相应电阻性元件未贡献于所述可变电阻)。更一般而言，开路开关30可使与该开路开关30相连的电阻性元件20连接于决定所述可变电阻的电阻性通道50中，而闭路开关30可使与其相连的电阻性元件20不连接于决定所述可变电阻的电阻性通道50中。当然，在一种实施方式中，也可反其道而行之，即闭路开关可对应纳入电阻性通道50中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于提供可变电阻的装置，其特征在于，包括：多个电阻性元件，每个电阻性元件均具有相应的阻值；以及多个开关，每个开关均与所述多个电阻性元件当中的一对应电阻性元件相连接，每个开关均用于选择性地将所述对应电阻性元件纳入所述可变电阻中；其中，所述电阻性元件和开关按照二进制编码的十进制方案进行设置。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.01.10 US 13/738,6761.一种用于提供可变电阻的装置，其特征在于，包括：
多个电阻性元件，每个电阻性元件均具有相应的阻值；以及
多个开关，每个开关均与所述多个电阻性元件当中的一对应电阻性元
件相连接，每个开关均用于选择性地将所述对应电阻性元件纳入所述可变
电阻中；
其中，所述电阻性元件和开关按照二进制编码的十进制方案进行设置。
2.如权利要求1所述装置，其特征在于，所述多个电阻器设置为多个
电阻器组。
3.如权利要求2所述装置，其特征在于，单个电阻器组内的每个电阻
器所具有的阻值与该电阻器组内的所有其他电阻器的阻值处于同一数量
级。
4.如权利要求2所述装置，其特征在于，每个电阻器组包括四个电阻，
其阻值分别约为1×10X，2×10X，4×10X，8×10X，其中，X为整数。
5.如权利要求4所述装置，其特征在于，每个电阻器组具有一相应的
X值，组内的每个电阻器的阻值均取决于该组的所述X值。
6.如权利要求2所述装置，其特征在于，所述多个电阻器组当中的某
个电阻器组的组合后的可变阻值为约1×10N至约15×10N欧姆，其中，N为
整数。
7.如权利要求6所述装置，其特征在于，每个电阻器组均具有不同的
N值，所述N值决定了该电阻器组的所述组合后的可变阻值。
8.如权利要求2所述装置，其特征在于，该装置设置为自动或手动方
式使用。
9.如权利要求1所述装置，其特征在于，开路开关将对应电阻性元件
纳入所述可变电阻内。
10.如权利要求1所述装置，其特征在于，所述可变电阻为双向电阻。
11.一种方法，其特征在于，包括：
提供一装置，该装置包括：
多个电阻性元件，每个电...

【专利技术属性】
技术研发人员：布万·高文达萨米，哈比卜·贝杜恩，布赖恩·范，
申请(专利权)人：萨基姆电子有限责任公司，
类型：发明
国别省市：美国;US