LTE FDD自动测试系统及其测试方法技术方案

本发明专利技术LTE FDD自动测试系统包括有频谱仪、综测仪、信号源、射频切换控制箱、工控计算机和被测件，频谱仪、综测仪、信号源和射频切换控制箱集成在机柜上，频谱仪、综测仪和信号源通过GPIB控制线串联，射频切换控制箱通过USB控制线与工控计算机相连，频谱仪、综测仪和信号源与工控计算机通过GPIB转USB控制线相连，频谱仪、综测仪和信号源输入端口通过射频线缆与射频切换控制箱后面板对应端口相连。本发明专利技术可以实现自动对测试进行操作和交互，读取仪表数据，分析对比显示数据，存储结果，生成报告等。对指定的设备环境，实现智能化检测待测件，设计优化检测算法，并行检测，提高效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种LTEFDD自动测试系统及其测试方法。
技术介绍
目前现有的LTEFDD移动终端测试子系统客户进行检测需要手动在仪表按键上对仪表的参数进行逐一设置，需要进行大量的循环操作，读取记录结果，和标准参数比对，逐一记录合格与否。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种LTEFDD自动测试系统及其测试方法。为了解决现有技术存在的问题，本专利技术采用的技术方案是：LTEFDD自动测试系统，包括有：频谱仪、综测仪、信号源、射频切换控制箱、工控计算机和被测件，频谱仪、综测仪、信号源和射频切换控制箱集成在机柜上，频谱仪、综测仪和信号源通过GPIB控制线串联，射频切换控制箱通过USB控制线与工控计算机相连，频谱仪、综测仪和信号源与工控计算机通过GPIB转USB控制线相连，频谱仪、综测仪和信号源输入端口通过射频线缆与射频切换控制箱后面板对应端口相连。所述的频谱分析仪为N9030A信号分析仪。所述的综合测试仪为CTP3110。所述的信号发生器为N5182B。所述的射频切换控制箱包括有射频切换控本文档来自技高网...

【技术保护点】
LTE FDD自动测试系统，其特征在于包括有：频谱仪、综测仪、信号源、射频切换控制箱、工控计算机和被测件，频谱仪、综测仪、信号源和射频切换控制箱集成在机柜上，频谱仪、综测仪和信号源通过GPIB控制线串联，射频切换控制箱通过USB控制线与工控计算机相连，频谱仪、综测仪和信号源与工控计算机通过GPIB转USB控制线相连，频谱仪、综测仪和信号源输入端口通过射频线缆与射频切换控制箱后面板对应端口相连。

【技术特征摘要】
1.LTEFDD自动测试系统，其特征在于包括有：频谱仪、综测仪、信号源、射频切换控制箱、工控计算机和被测件，频谱仪、综测仪、信号源和射频切换控制箱集成在机柜上，频谱仪、综测仪和信号源通过GPIB控制线串联，射频切换控制箱通过USB控制线与工控计算机相连，频谱仪、综测仪和信号源与工控计算机通过GPIB转USB控制线相连，频谱仪、综测仪和信号源输入端口通过射频线缆与射频切换控制箱后面板对应端口相连。
2.根据权利要求1所述的LTEFDD自动测试系统，其特征在于所述的频谱分析仪为N9030A信号分析仪。
3.根据权利要求1所述的LTEFDD自动测试系统，其特征在于所述的综合测试仪为CTP3110。
4.根据权利要求1所述的LTEFDD自动测试系统，其特征在于所述的信号发生器为N5182B。
5.根据权利要求1所述的LTEFDD自动测试系统，其特征在于所述的射频切换控制箱包括有射频切换控制箱TH2900F-1和射频切换控制箱TH2900F-2两部分。
6.根据权利要求5所述的LTEFDD自动测试系统，其特征在于所述的射频切换控制箱TH2900F-1与射频切换控制箱TH2900F-2通过射频线缆相连。
7.根据权利要求1所述的LTEFDD自动测试系统，其特征在于所述的射频切换控制箱包括有3dB衰减器、功分器、耦合器、Band1带阻滤波器、Band3带阻滤波器、Band7带阻滤波器、低通滤波器、高通滤波器、电磁开关、单...

【专利技术属性】
技术研发人员：林兆楠，丁宝军，孔凡江，姜涵什，薛俊婷，刘志爽，刘连颖，
申请(专利权)人：辽宁信鼎检测认证有限公司，
类型：发明
国别省市：辽宁;21