一种带有折弯针体的测试针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种带有折弯针体的测试针，包括针体及弹性设置于所述针体一端的测试头，所述测试头的测试杆与所述针体的套管滑动配合，所述针体的套管呈折弯设置，所述测试头的测试端圆周均布有偶数个测试部，相邻测试部之间形成V字形开槽，所述V字形开槽相互贯通。此结构设计的测试针，利于助焊剂的排出，使助焊剂或其他异物不易残留于测试体上，能够确保测试针稳定地接触于电路板上的测试点与零件脚，不易滑开，此外折弯设置的套管，使得测试头与测试针固定位呈一定夹角设置，进而满足倾斜焊点的测试。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路板测试
，尤其涉及一种带有折弯针体的测试针。
技术介绍
现有技术下，在对一些倾斜设置的焊点位置进行测试时，采用一般的直形测试针很难测试，且由于焊点较为光秃，因此必须对测试针套管及测试头形状进行改进，使得能够充分与焊点接触。
技术实现思路
本技术提供了一种便于安装，定位稳定可靠，且不会造成异物残留的测试针。为达此目的，本技术采用以下技术方案：一种带有折弯针体的测试针，包括针体及弹性设置于所述针体一端的测试头，所述测试头的测试杆与所述针体的套管滑动配合，所述针体的套管呈折弯设置，所述测试头的测试端圆周均布有偶数个测试部，相邻测试部之间形成V字形开槽，所述V字形开槽相互贯通。其中，相邻所述V字形开槽的一相邻面之间设置有交线，所述交线形成所述测试部的内侧棱。其中，所述测试部设置为4个且两两相对设置。其中，相对设置的测试部的内侧棱之间相互垂直。本技术的有益效果：本技术包括针体及弹性设置于所述针体一端的测试头，所述测试头的测试杆与所述针体的套管滑动配合，所述针体的套管呈折弯设置，所述测试头的测试端圆周均布有偶数个测试部，相邻测试部之间形成V字形开槽，所述V字形开槽相互贯通。此结构设计的测试针，利于助焊剂的排出，使助焊剂或其他异物不易残留于测试体上，能够确保测试针稳定地接触于电路板上的测试点与零件脚，不易滑开，此外折弯设置的套管，使得测试头与测试针固定位呈一定夹角设置，进而满足倾斜焊点的测试。附图说明图1是本技术一种带有折弯针体的测试针的轴测图。图2是图1中测试针头部的轴测图。具体实施方式下面结合附图1至图2所示并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。一种带有折弯针体的测试针，包括针体及弹性设置于所述针体一端的测试头，所述测试头的测试杆2与所述针体的套管1滑动配合，所述针体的套管1呈折弯设置，所述测试头的测试端圆周均布有偶数个测试部21，相邻测试部21之间形成V字形开槽22，所述V字形开槽22相互贯通。进一步优选的，相邻所述V字形开槽22的一相邻面之间设置有交线，所述交线形成所述测试部21的内侧棱23。进一步优选的，所述测试部21设置为4个且两两相对设置。进一步优选的，相对设置的测试部21的内侧棱23之间相互垂直。采用上述结构设计的测试针，利于助焊剂的排出，使助焊剂或其他异物不易残留于测试体上，能够确保测试针稳定地接触于电路板上的测试点与零件脚，不易滑开，此外折弯设置的套管，使得测试头与测试针固定位呈一定夹角设置，进而满足倾斜焊点的测试。以上结合具体实施例描述了本技术的技术原理。这些描述只是为了解释本技术的原理，而不能以任何方式解释为对本技术保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本实用新型的其它具体实施方式，这些方式都将落入本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种带有折弯针体的测试针，其特征在于，包括针体及弹性设置于所述针体一端的测试头，所述测试头的测试杆与所述针体的套管滑动配合，所述针体的套管呈折弯设置，所述测试头的测试端圆周均布有偶数个测试部，相邻测试部之间形成V字形开槽，所述V字形开槽相互贯通。

【技术特征摘要】
1.一种带有折弯针体的测试针，其特征在于，包括针体及弹性设置于所述
针体一端的测试头，所述测试头的测试杆与所述针体的套管滑动配合，所述针
体的套管呈折弯设置，所述测试头的测试端圆周均布有偶数个测试部，相邻测
试部之间形成V字形开槽，所述V字形开槽相互贯通。
2.根据权利要求1所述的一种带有折弯针体的测试针，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟兴彬，
申请(专利权)人：深圳市新富城电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44