【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光通信器件领域的中间耦合测试装置领域，尤其一种光器件耦合测试用带衰减光纤跳线，适用于光器件的中间耦合测试工序。
技术介绍
光通信行业市场的持续升温，带来了光器件需求的大幅度增加。在光器件产量大幅增加的同时，使用普通光纤跳线进行光器件的耦合，由于是跳线插芯端面与产品插芯端面直接接触，在生产制程中产生的端面不良就显得越发突出，所以急需找到一种能够降低制程中端面不良的方案。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术存在的上述问题，提供一种光器件耦合测试用带衰减光纤跳线，可以实现光器件插芯端面与光纤跳线端面非接触式对接，从而避免了因插芯端面直接对接造成的端面碰伤不良。本技术的上述目的通过以下技术方案实现：一种光器件耦合测试用带衰减光纤跳线，包括光接头，光接头与光纤一端连接，光纤另一端依次穿过尾套、安装筒并与插芯座一端连接，插芯座另一端与插芯一端连接，插芯座上套设有弹簧，安装筒内设置有凸台，插芯座上设置有限位环，弹簧两端分别与凸台和限位环相抵，安装筒外套设有内壳，内壳外套设有外壳，外壳与尾套连接，插芯另一端为测试端，测试端依次穿出内壳和外壳，测试端的端面上设置有铜套安装柱，铜套安装柱上安装有铜套，铜套的外径与测试端的外径相同，铜套的端面的中心设置有光通孔。如上所述的铜套的端面的边沿设置有倒角。本技术与现有技术相比，具有以下优点：1、结构简单，使用方便，使用寿命长；2、采用铜套进行陶瓷插芯端面非接触的隔离介质，铜的材质比陶瓷软，待测光器件的陶瓷插芯与铜套接触不会导致待测光器件的...
【技术保护点】
一种光器件耦合测试用带衰减光纤跳线，包括光接头（15），其特征在于，光接头（15）与光纤（1）一端连接，光纤（1）另一端依次穿过尾套（2）、安装筒（3）并与插芯座（6）一端连接，插芯座（6）另一端与插芯（7）一端连接，插芯座（6）上套设有弹簧（5），安装筒（3）内设置有凸台（4），插芯座（6）上设置有限位环（13），弹簧（5）两端分别与凸台（4）和限位环（13）相抵，安装筒（3）外套设有内壳（9），内壳（9）外套设有外壳（10），外壳（10）与尾套（2）连接，插芯（7）另一端为测试端，测试端依次穿出内壳（9）和外壳（10），测试端的端面上设置有铜套安装柱（12），铜套安装柱（12）上安装有铜套（8），铜套（8）的外径与测试端的外径相同，铜套（8）的端面的中心设置有光通孔（801）。
【技术特征摘要】
1.一种光器件耦合测试用带衰减光纤跳线，包括光接头（15），其特征在于，光接头（15）与光纤（1）一端连接，光纤（1）另一端依次穿过尾套（2）、安装筒（3）并与插芯座（6）一端连接，插芯座（6）另一端与插芯（7）一端连接，插芯座（6）上套设有弹簧（5），安装筒（3）内设置有凸台（4），插芯座（6）上设置有限位环（13），弹簧（5）两端分别与凸台（4）和限位环（13）相抵，安装筒（3）外套设有内壳（9），内壳（9）外套...
【专利技术属性】
技术研发人员：严付安，杜金能，
申请(专利权)人：四川灿光光电有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51
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