【技术实现步骤摘要】
【专利说明】
本专利技术涉及导波雷达物位计
，具体是一种波雷达物位计的动态算法。
技术介绍
工业自动化领域用于连续料位测量的导波雷达物位计是现代工业现场一种常见的仪表，测量原理是电磁波通过导波杆发射出去，遇到被测物质后部分能量被反射回来，经过电路处理，送由处理器采集，最后通过智能软件识别出有效回波，从而计算出仪表距离料位的距离，再依据安装罐体的高度，计算出实际的料高。现有的物位测量采用的是静态算法，其没有动态跟踪，且判定计算准确度不高。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是导波雷达物位计的动态算法，首先通过对多重回波和底部回波进行判定，得出物位回波，通过对物位回波的分析计算，得出物位值，计算方法准确快速。本专利技术的技术方案为: ，具体包括有以下步骤:首先导波雷达物位计发射电磁波至被测物体，电磁波遇到被测物体部分能量被发射回来，形成反射回波，反射回波中包括有多个回波信号，制成回波轨迹表，回波轨迹表中包括有每个回波信号的回波位置、回波速度和回波强度信号;根据回波轨迹判定物位回波、多重回波和底部回波，当回波信号的回波轨迹的物位区域中包括有多个波段，且回波信号的回波速度大于设定物位的回波速度即判定回波信号为多重回波；当回波信号的回波轨迹中出现与发射信号同相的回波信号，则判定为底部回波;将回波轨迹表中的多重回波和底部回波剔除，剩余回波信号即为物位回波，对物位回波进行分析计算得到被测物体的液位值。所述的回波轨迹表中每个回波信号的信息与数据库存储的被测物体历史测量值进行对比分析，从而对回波信号进行判定。所述的回波信号的回波速度与设定物位的回波速度的比...
【技术保护点】
一种导波雷达物位计的动态算法，其特征在于：具体包括有以下步骤：首先导波雷达物位计发射电磁波至被测物体，电磁波遇到被测物体部分能量被发射回来，形成反射回波，反射回波中包括有多个回波信号，制成回波轨迹表，回波轨迹表中包括有每个回波信号的回波位置、回波速度和回波强度信号；根据回波轨迹判定物位回波、多重回波和底部回波，当回波信号的回波轨迹的物位区域中包括有多个波段，且回波信号的回波速度大于设定物位的回波速度即判定回波信号为多重回波；当回波信号的回波轨迹中出现与发射信号同相的回波信号，则判定为底部回波；将回波轨迹表中的多重回波和底部回波剔除，剩余回波信号即为物位回波，对物位回波进行分析计算得到被测物体的液位值。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：鲍德宪，余辉，
申请(专利权)人：合肥市恒昌自动化控制有限责任公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34
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