高分辨力数字时基系统技术方案

技术编号:13156690 阅读:85 留言:0更新日期:2016-05-09 19:11
本发明专利技术涉及一种高分辨力数字时基系统设计方法,属于时基电路设计技术领域。本发明专利技术的高分辨力数字时基系统,包括选通开关、无间隔计数模块、内插扩展ADC,选通开关通过无间隔计数模块连接内插扩展ADC,其中选通开关和无间隔计数模块通过编程直接实现对输入信号的选通、计数和误差检测,在100MHz钟频的基础上作等精度计数,同时进行数字内插,生成同步闸门和100MHz钟频之间的相位差脉冲,通过恒流源充放电及内插扩展ADC变换,进行数字量化。本发明专利技术选用时间-电压转换测量技术方案实现100ps时间分辨力内插指标,形成高分辨力数字时基系统。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种高分辨力数字时基系统设计方法,属于时基电路设计

技术介绍
随着电子技术的发展,要实现频率的高精度测量,除了采用等精度测量外,还需对产生的土 I个钟的误差进行测量,要想将仪器的系统测量精度提高到I X ΙΟ-9/s,时间间隔测量精度达1ns,时间间隔测量分辨力达0.1ns0高分辨力数字时基系统是频率高精度测量的关键和技术瓶颈。
技术实现思路
本专利技术的技术效果能够克服上述缺陷,提供一种高分辨力数字时基系统,其。为实现上述目的,本专利技术采用如下技术方案:其包括选通开关、无间隔计数模块、内插扩展ADC,选通开关通过无间隔计数模块连接内插扩展ADC,其中选通开关和无间隔计数模块通过编程直接实现对输入信号的选通、计数和误差检测,在10MHz钟频的基础上作等精度计数,同时进行数字内插,生成同步闸门和10MHz钟频之间的相位差脉冲,通过恒流源充放电及内插扩展ADC变换,进行数字量化。其中选通开关和无间隔计数模块皆采用ALTERA公司的高速FPGA。无间隔计数模块、内插扩展ADC皆包括两路。本专利技术选用时间-电压转换测量技术方案实现10ps时间分辨力内插指本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高分辨力数字时基系统,其特征在于,包括选通开关、无间隔计数模块、内插扩展ADC,选通开关通过无间隔计数模块连接内插扩展ADC,其中选通开关和无间隔计数模块通过编程直接实现对输入信号的选通、计数和误差检测,在100MHz钟频的基础上作等精度计数,同时进行数字内插,生成同步闸门和100MHz钟频之间的相位差脉冲,通过恒流源充放电及内插扩展ADC变换,进行数字量化。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:宋云衢冯太明
申请(专利权)人:江苏绿扬电子仪器集团有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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