本发明专利技术提供了一种适用于近场通讯的检测方法，其包括以下步骤：提供一待测物，其具有一NFC天线；提供一检测天线，并将检测天线置于待测物上方，其具有至少三组检测线圈，三组检测线圈的尺寸分别为70×50mm,50×30mm,30×15mm，所述检测线圈均为非闭合式的，每一所述检测线圈的自谐振频率大于NFC天线的自谐振频率，且检测天线连接至一测试仪器；观测待测物的NFC天线的尺寸；将检测天线切换到对应的检测线圈，所述检测线圈的尺寸与NFC天线的尺寸相当；移动检测天线相对于待测物的位置，并观察测试仪器的显示，抓取数据，简易快速、经济适用，普遍性强，容易为广大消费者所接受。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及。
技术介绍
近场通讯技术在近年来的物联网及移动支付口号下，得到了迅猛发展。电子标签在多年的技术更迭下，也实现了更小、更轻、更廉价，方便了超市、物流、公交卡、银行卡等的快速覆盖。移动支付领域在运营商、终端厂商等的推动下实现了快速增长。每一移动支付终端势必需要一个天线来完成信息的传输，因此，及需要一种一种快速实现抓取分析信号的工具，还有在移动支付终端研发过程中，工程师在设计自己的产品时，也希望能够有，了解产品性能，为设计更具兼容性的产品做前期工作。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术之缺陷，提供了，其具有的操作简单，实用性强的特性。本专利技术是这样实现的:，其包括以下步骤:(1)提供一待测物，其具有一 NFC天线；(2)提供一检测天线，并将检测天线置于待测物上方，其具有至少三组检测线圈，三组检测线圈的尺寸分别为70 X 50mm, 50 X 30mm, 30 X 15mm，所述检测线圈均为非闭合式的，每一所述检测线圈的自谐振频率大于NFC天线的自谐振频率，且检测天线连接至一测试仪器；(3)观测待测物的NFC天线的尺寸；(4)将检测天线切换到对应的检测线圈，所述检测线圈的尺寸与NFC天线的尺寸相当；(5)移动检测天线相对于待测物的位置，并观察测试仪器的显示，抓取数据。进一步地，在步骤⑵中，三组检测线圈分别通过三个独立的开关控制。本专利技术并将检测天线置于待测物上方，观测待测物的NFC天线的尺寸，将检测天线切换到对应的检测线圈，所述检测线圈的尺寸与NFC天线的尺寸相当；移动检测天线相对于待测物的位置，并观察测试仪器的显示，抓取数据，简易快速、经济适用，普遍性强，容易为广大消费者所接受。【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的流程图；图2为本专利技术实施例提供的示意图。【具体实施方式】下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1-图2，本专利技术实施例提供，具体请参见以下详细说明。，其包括以下步骤:第一步，提供一待测物，其具有一 NFC天线。第二步，提供一检测天线，并将检测天线置于待测物上方，其具有至少三组检测线圈，三组检测线圈分别通过三个独立的开关控制，三组检测线圈的尺寸分别为70 X 50mm, 50 X 30mm, 30 X 15mm,所述检测线圈均为非闭合式的，每一所述检测线圈的自谐振频率大于NFC天线的自谐振频率，且检测天线连接至一测试仪器，检测线圈自谐振频率可以通过天线面积、匝数、线宽、间距、材料等控制，其中测试仪器为网络分析仪、频谱分析仪、示波器等仪器，测试仪器满足13.56MHz或其他待测物需求的频率。第三步，观测待测物的NFC天线的尺寸。第四步，将检测天线切换到对应的检测线圈，所述检测线圈的尺寸与NFC天线的尺寸相当，以避免检测线圈过大时，测试仪器无法读取到数据；检测线圈过小时，移动不同位置，测试仪器读取数据差异大。第五步，移动检测天线相对于待测物的位置，并观察测试仪器的显示，抓取数据。测试仪器为网络分析仪时，可读取待测物天线的自谐振频率；测试仪器为频谱仪时，可读取待测物的功率分布图；测试仪器为示波器时，可读取待测物调制波形。通过测试仪器数据，工程师可清晰的知晓待测物天线性能，并据此发现问题，并解决，简易快速、经济适用，普遍性强，容易为广大消费者所接受。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已，并不用以限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。【主权项】1.，其特征在于，包括以下步骤: (1)提供一待测物，其具有一NFC天线； (2)提供一检测天线，并将检测天线置于待测物上方，其具有至少三组检测线圈，三组检测线圈的尺寸分别为70X50mm, 50X30mm, 30X 15mm，所述检测线圈均为非闭合式的，每一所述检测线圈的自谐振频率大于NFC天线的自谐振频率，且检测天线连接至一测试仪器； (3)观测待测物的NFC天线的尺寸； (4)将检测天线切换到对应的检测线圈，所述检测线圈的尺寸与NFC天线的尺寸相当； (5)移动检测天线相对于待测物的位置，并观察测试仪器的显示，抓取数据。2.如权利要求1所述的基于版带图像投影的刺绣机对位方法，其特征在于:在步骤(2)中，三组检测线圈分别通过三个独立的开关控制。【专利摘要】本专利技术提供了，其包括以下步骤：提供一待测物，其具有一NFC天线；提供一检测天线，并将检测天线置于待测物上方，其具有至少三组检测线圈，三组检测线圈的尺寸分别为70×50mm,50×30mm,30×15mm，所述检测线圈均为非闭合式的，每一所述检测线圈的自谐振频率大于NFC天线的自谐振频率，且检测天线连接至一测试仪器；观测待测物的NFC天线的尺寸；将检测天线切换到对应的检测线圈，所述检测线圈的尺寸与NFC天线的尺寸相当；移动检测天线相对于待测物的位置，并观察测试仪器的显示，抓取数据，简易快速、经济适用，普遍性强，容易为广大消费者所接受。【IPC分类】H04B17/15, H04B5/00【公开号】CN105391503【申请号】CN201510689447【专利技术人】杨若敏, 尹强, 蒋林杰, 刘汉林 【申请人】深圳市三极天线技术有限公司【公开日】2016年3月9日【申请日】2015年10月21日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种适用于近场通讯的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)提供一待测物，其具有一NFC天线；(2)提供一检测天线，并将检测天线置于待测物上方，其具有至少三组检测线圈，三组检测线圈的尺寸分别为70×50mm,50×30mm,30×15mm，所述检测线圈均为非闭合式的，每一所述检测线圈的自谐振频率大于NFC天线的自谐振频率，且检测天线连接至一测试仪器；(3)观测待测物的NFC天线的尺寸；(4)将检测天线切换到对应的检测线圈，所述检测线圈的尺寸与NFC天线的尺寸相当；(5)移动检测天线相对于待测物的位置，并观察测试仪器的显示，抓取数据。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨若敏，尹强，蒋林杰，刘汉林，
申请(专利权)人：深圳市三极天线技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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