一种无源互调检测装置及方法制造方法及图纸

技术编号:12897498 阅读:52 留言:0更新日期:2016-02-24 08:55
本发明专利技术实施例公开了一种无源互调PIM检测装置,用于判断PIM指标是否达标,并快速确定PIM的类型及PIM源的位置。本发明专利技术实施例PIM检测装置包括:显示模块、处理模块、射频连接器及近场探头;所述射频连接器用于获取所述待测设备在射频接口输出的第一PIM信号;所述近场探头用于获取所述待测设备内部的第二PIM信号;所述处理模块用于对所述射频连接器获取的所述第一PIM信号及所述近场探头获取的所述第二PIM信号进行处理;所述显示模块用于显示所述处理模块处理后的第一PIM信号及处理后第二PIM信号,本发明专利技术实施例还公开了一种无源互调检测方法,用于判断PIM指标是否达标,并快速确定PIM的类型及PIM源的位置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信领域,尤其涉及。
技术介绍
无源互调(Passive Inter-Modulat1n),简称PIM,又叫互调失真,是由射频系统中各种无源器件的非线性特性引起的。在大功率、多信道系统中,这些无源器件的非线性会产生相对于工作频率的一些频率分量,而这些频率分量和工作频率混合在一起进入工作系统,如果这些无用的频率分量足够大,就会影响通信系统的正常工作。正因为PM是无源器件本身的非线性引起的,因此,只要有无源器件存在的射频系统,就必然有P頂的产生,PIM互调失真是影响射频系统正常工作的干扰之一。由于无源互调值非常小,因此无源互调的测量非常困难。到目前为止,无源互调的测量项目和测量方法尚无相应的国际标准,通常都是采用IEC推荐的正向和反射互调产物的测量方法。但是现有测试方法,只能获取射频接口处的P頂信号,通过该PIM信号只能判断PM指标是否达标,不能进一步判断那哪种类型的PM问题,对后续的定位不能提供更多的?目息O
技术实现思路
本专利技术实施例提供了,用于判断P頂指标是否达标,并快速确定PM的类型及PIM源的位置,为用户解决P頂问题提供有效信息。有鉴于此,本专利技术实施例第一方面提供一种无源互调P頂检测装置,包括:显示模块、处理模块、射频连接器及近场探头;所述射频连接器用于获取所述待测设备在射频接口输出的第一 P頂信号;所述近场探头用于获取所述待测设备内部的第二 P頂信号;所述处理模块用于对所述射频连接器获取的所述第一 P頂信号及所述近场探头获取的所述第二 PIM信号进行处理;所述显示模块用于显示所述处理模块处理后的第一 P頂信号及处理后第二 P頂信号。结合本专利技术第一方面,在本专利技术第一方面的第一实施方式中,所述P頂检测装置包括多个所述近场探头。结合本专利技术第一方面的第一实施方式,在本专利技术第一方面的第二实施方式中,每个所述近场探头相隔预置距离。结合本专利技术第一方面、第一方面的第一实施方式或第二实施方式,,在本专利技术第一方面的第三实施方式中,所述近场探头通过耦合方式与所述待测设备连接。结合本专利技术第一方面、第一方面的第一实施方式或第二实施方式,,在本专利技术第一方面的第四实施方式中,所述显示模块用于在同一坐标平面上同时显示所述处理模块处理后的第一 P頂信号及处理后的第二 PM信号。结合本专利技术第一方面、第一方面的第一实施方式或第二实施方式,,在本专利技术第一方面的第五实施方式中,所述处理模块包括:功率放大器及滤波器;所述滤波器用于对所述第一 P頂信号进行滤波处理;所述功率放大器用于对所述第二 P頂信号及所述滤波器处理后的第一 P頂信号进行功率放大处理。本专利技术第二方面提供一种P頂检测方法,包括:PIM检测装置获取待测设备在射频接口输出的第一 P頂信号及所述待检测设备内部的第二 PIM信号;所述P頂检测装置对所述第一 P頂信号及所述第二 P頂信号进行处理;所述P頂检测装置显示所述处理后的第一 P頂信号及所述处理后的第二 P頂信号。结合本专利技术第二方面,在本专利技术第二方面的第一实施方式中,所述第二 P頂信号包含多组PM信号。结合本专利技术第二方面的第一实施方式,在本专利技术第二方面的第二实施方式中,所述PIM检测装置获取所述待检测设备内部的第二 P頂信号包括:所述P頂检测装置获取所述待检测设备内部的多个位置的P頂信号,每个位置对应一组P頂信号,且所述每个位置相隔预置距离。结合本专利技术第二方面或本专利技术第二方面的第一实施方式,在本专利技术第二方面的第三实施方式中,所述PM检测装置获取所述待检测设备内部的第二 PM信号包括:所述P頂检测装置通过耦合方式获取所述待检测设备内部的第二 P頂信号。结合本专利技术第二方面、本专利技术第二方面的第一实施方式或第二实施方式,在本专利技术第二方面的第四实施方式中,所述PIM检测装置显示所述处理后的第一 P頂信号及所述处理后的第二 PM信号包括:所述P頂检测装置在同一坐标平面上同时显示所述处理后的第一 P頂信号及所述处理后的第二 PM信号。从以上技术方案可以看出,本专利技术实施例具有以下优点:本专利技术实施例中P頂检测装置包括显示模块、处理模块、射频连接器及近场探头,其中,射频连接器用于获取待测设备在射频接口输出的第一 PIM信号,近场探头用于获取待测设备内部的第二 PM信号,显示模块用于显示处理模块处理后的第一 PM信号及第二P頂信号。利用近场探头远离辐射源后幅度快速衰减特性,用户通过对比第一 P頂信号幅度及第二 P頂信号幅度,可以快速区分出是传导类PM还是辐射类PM,并且通过对比分析各近场探头之间幅度和相位关系,可快速定位出辐射类PIM源的位置。也就是说,本方案不仅可以判断P頂指标是否达标,还能快速确定PM的类型及PIM源的位置,为用户解决P頂问题提供有效?目息。【附图说明】图1为本专利技术实施例中无源互调检测装置的一个实施例示意图;图2为本专利技术实施例中无源互调检测装置的另一实施例示意图;图3为本专利技术实施例中显不模块显不第一 PIM信号及第二 PIM信号的不意图;图4为本专利技术实施例中无源互调检测方法的一个实施例示意图。【具体实施方式】本专利技术实施例提供了,用于判断P頂指标是否达标,并快速确定PM的类型及PIM源的位置,为用户解决P頂问题提供有效信息。请参阅图1,本专利技术实施例中无源互调检测装置100的一个实施例包括:射频连接器101,用于获取待测设备在射频接口输出的第一 P頂信号;近场探头102,用于获取待测设备内部的第二 P頂信号;处理模块103,用于对射频连接器获取的第一 P頂信号及近场探头获取的第二 P頂信号进行处理;显示模块104,用于显示出来模块103处理后的第一 P頂信号及处理后的第二 P頂信号。需要说明的是,本专利技术实施例中待测设备可以是基站,可以是路由设备,还可以是其他包含有无源器件的设备,具体此处不作限定。用户在使用无源互调检测装置的检测P頂信号的过程中,需要先向待测设备输入测试信号,该测试信号至少包含两个不同频率的信号,测试信号可以是信号源通过无源互调检测装置的射频连接器输入的,也可以是通过其他方式输入的,具体此处不作限定。用户通过显示模块103显示的第一 P頂信号可以判断P頂指标是否达标,具体判断过程与现有技术相似,此处不再赘述。用户对比显示模块104显示的第一 P頂信号与第二 P頂信号,如果第一 P頂信号的幅度不是显示模块104显示的多组P頂信号中幅度最高的P頂信号,则用户可以确定该PM源属于辐射类PM,并且,辐射源在近场探头102所放置的位置附近;如果第一P頂信号的幅度是显示模块104显示的多组P頂信号中幅度最高的P頂信号,则用户可以调整近场探头102的位置,如果调整后第一 P頂信号的幅度仍然是显示模块104显示的多组当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种无源互调PIM检测装置,其特征在于,包括:显示模块、处理模块、射频连接器及近场探头;所述射频连接器用于获取所述待测设备在射频接口输出的第一PIM信号;所述近场探头用于获取所述待测设备内部的第二PIM信号;所述处理模块用于对所述射频连接器获取的所述第一PIM信号及所述近场探头获取的所述第二PIM信号进行处理;所述显示模块用于显示所述处理模块处理后的第一PIM信号及处理后第二PIM信号。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:冯云冷舜
申请(专利权)人:上海华为技术有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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