键盘按键电性能测试用的电测测试头制造技术

本发明专利技术公开了一种键盘按键电性能测试用的电测测试头，包括垂直方向分布的固定架，垂直贯穿并锁紧于固定架的第一横杆和第二横杆，分别安装在第一横杆和第二横杆的同一侧端的固定环和限位环，以及安装在固定环上的测试头组件；测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁和砝码；电磁铁固定于固定环，顶端为自由端、用于与测试导线相连，底端套穿入砝码的顶端并锁紧有垫片；砝码套装入限位环，顶端套接于电磁铁底端、并悬挂搭接于垫片，底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键；砝码在作用于按键而向上受力后可沿电磁铁的底端上移。自动化程度高，测试准确高效，并提供灵活平稳的精确调节，通用性强，适应于不同产品的键盘按键布局。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试机构，特别是涉及一种键盘按键电性能测试用的电测测试头，属于键盘自动化检测设备用零部件

技术介绍
作为主要的输入结构，按键被广泛地应用于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品中；对于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品而言，工作时必须敲打按键以使得按键触点导通断开，从而将字母、数字、标点符号等输入到相应的计算机、手机或者计算器中。因此，键盘的质量及其功能是否正常操作，将直接影响到电子设备操作的稳定性。同时，在键盘中直接的操作单元是按键，所以按键的品质测试对于键盘而言，是至关重要的环节。在键盘生产过程中，出产前必须对键盘成品进行质量检测，需要对每一个按键进行击打，以测试其回弹和触点的通断等测试项目。然而，目前业界对于键盘按键的测试，一般采用人工或机器来测试。人工测试方式是以雇用大量劳工逐一按压键盘中每一个按键，采用人工测试方式存在诸多缺点:需要操作人员与测试软体交互配合，在测试软体发出命令之后，等待操作人员按压按键；测试时间较长且效率低；操作人员按压按键时可能出错，需要多次反复测试；以及操作人员容易操作疲劳而出现怠工现象等。现有技术中采用机器测试键盘的方式已经得到越来越广泛的应用，但是现有键盘自动化测试设备仍存在机械结构复杂、不易维修、通用性差、定位精度低等缺陷。电性能是电子元器件的质量核心，随着自动化设备的大力推广，高速、准确和简便的元器件电性能测试方式尤显重要。目前，对键盘按键进行电性能或过灵敏等测试所使用的测试头结构较为复杂，在生产线实际的使用过程中由于测试头易磨损，而导致测试头必须定期更换，使得维修和维护频次非常高；以及测试头机构在安装之后基本固定不动，仅仅适用于固定的测试设备，不仅调节范围小，而且通用性差。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于，克服现有技术中的不足，提供一种新型结构的键盘按键电性能测试用的电测测试头，特别适用于计算机键盘的电性能测试机使用。本专利技术所要解决的技术问题是提供结构紧凑、拆装方便、制作容易、安全可靠、实用性强的键盘按键电性能测试用的电测测试头，用于在减少人工参与的前提下，实现键盘的自动测试电性功能，不仅自动化程度高，测试准确高效；而且可克服传统的元器件测试结构复杂不便于维护的缺点，简便耐损，大幅节省测试设备的更换成本；同时，具有灵活可调性，通用性更强，对不同产品的键盘按键布局适应性更佳，极具有产业上的利用价值。为了达到上述目的，本专利技术所采用的技术方案是:一种键盘按键电性能测试用的电测测试头，包括垂直方向分布的固定架，垂直贯穿并锁紧于固定架的第一横杆和第二横杆，分别安装在第一横杆和第二横杆的同一侧端的固定环和限位环，以及安装在固定环上的测试头组件。其中，所述第一横杆和第二横杆自上而下呈直线分布，所述测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁和砝码；所述电磁铁固定于固定环，电磁铁的顶端为自由端、用于与测试导线相连，电磁铁的底端套穿入砝码的顶端并锁紧有垫片；所述砝码套装入限位环，砝码的顶端套接于电磁铁底端、并悬挂搭接于垫片，砝码的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键；所述砝码在作用于按键而向上受力后可沿电磁铁的底端上移。本专利技术进一步设置为:所述第一横杆和第二横杆的另一侧端均设置有配重块。本专利技术进一步设置为:所述第一横杆和第二横杆的杆体表面均绘制有刻度。本专利技术进一步设置为:所述第一横杆和第二横杆均为螺纹杆，均通过螺母锁紧于固定架。本专利技术进一步设置为:所述限位环采用透明材质制成。本专利技术进一步设置为:所述固定架的顶端设置有悬挂连接用的固定孔。与现有技术相比，本专利技术具有的有益效果是: 1、通过固定兼可调式安装结构和测试头组件的设置，其中测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁和砝码，采用砝码自由落体敲击按键的方式可实现过灵敏性能的测试，采用电磁导通击打按键的方式可实现电性功能的测试，测试头组件集成度高、自动化程度高，模组共用，大幅节省成本，并且测试准确高效；可克服传统的元器件测试结构复杂不便于维护的缺点，简便耐损，从而大幅节省测试设备的更换成本。2、通过固定架、第一横杆和第二横杆、以及固定环和限位环的设置，为测试头组件相距固定架的距离提供灵活、精确、平稳的调节，减少拆卸或调节固定架的操作，实现快速整机调节，从而增加电测测试头的通用性，使其更适应于不同产品的键盘按键布局。上述内容仅是本专利技术技术方案的概述，为了更清楚的了解本专利技术的技术手段，下面结合附图对本专利技术作进一步的描述。【附图说明】图1为本专利技术键盘按键电性能测试用的电测测试头的结构示意图。【具体实施方式】下面结合说明书附图，对本专利技术作进一步的说明。如图1所示的一种键盘按键电性能测试用的电测测试头，包括垂直方向分布的固定架1，垂直贯穿并锁紧于固定架1的第一横杆11和第二横杆12，分别安装在第一横杆11和第二横杆12的同一侧端的固定环2和限位环3，以及安装在固定环1上的测试头组件；所述第一横杆11和第二横杆12自上而下呈直线分布，所述测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁4和砝码5。所述电磁铁4固定于固定环2，电磁铁4的顶端为自由端、用于与测试导线相连，电磁铁4的底端套穿入砝码5的顶端并锁紧有垫片6 ;所述砝码5套装入限位环3，砝码5的顶端套接于电磁铁4底端、并悬挂搭接于垫片6，砝码5的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键；所述砝码5在作用于按键而向上受力后可沿电磁铁4的底端上移。优选为，所述第一横杆11和第二横杆12的另一侧端均设置有配重块7，有助于左右平衡；所述第一横杆11和第二横杆12的杆体表面均绘制有刻度(图中未示出)，便于人工读数，掌握第一横杆11和第二横杆12横移的距离。优选为，所述第一横杆11和第二横杆12均为螺纹杆，均通过螺母8锁紧于固定架1 ;所述限位环3采用透明材质制成，便于掌握砝码5在其中的上下移动情况；所述固定架1的顶端设置有悬挂连接用的固定孔10。本专利技术的创新点在于，测试头组件集成度高、自动化程度高，并提供灵活、精确、平稳的调节测试头组件相距固定架的距离，实现快速整机调节，增强电测测试头的通用性。以上所述，仅是本专利技术的较佳实施例而已，并非对本专利技术作任何形式上的限制，虽然本专利技术已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本专利技术，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本专利技术技术方案范围内，当可利用上述揭示的
技术实现思路
做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本专利技术技术方案的内容，依据本专利技术的技术实质对以上实施例所作的任何的简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本专利技术技术方案的范围内。【主权项】1.一种键盘按键电性能测试用的电测测试头，其特征在于:包括垂直方向分布的固定架，垂直贯穿并锁紧于固定架的第一横杆和第二横杆，分别安装在第一横杆和第二横杆的同一侧端的固定环和限位环，以及安装在固定环上的测试头组件； 所述第一横杆和第二横杆自上而下呈直线分布，所述测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁和砝码； 所述电磁铁固定于固定环，电磁铁的顶端为自由端、用于与测试导线相连，电磁铁的底端套穿入砝码的顶端并锁紧有垫片； 所述砝码套装入限位环，砝码的顶端套接于电磁铁底端、并悬挂搭接于垫片，砝码的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键；所述砝码在作用于按键而向上受力后可沿电磁铁本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种键盘按键电性能测试用的电测测试头，其特征在于：包括垂直方向分布的固定架，垂直贯穿并锁紧于固定架的第一横杆和第二横杆，分别安装在第一横杆和第二横杆的同一侧端的固定环和限位环，以及安装在固定环上的测试头组件；所述第一横杆和第二横杆自上而下呈直线分布，所述测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁和砝码；所述电磁铁固定于固定环，电磁铁的顶端为自由端、用于与测试导线相连，电磁铁的底端套穿入砝码的顶端并锁紧有垫片；所述砝码套装入限位环，砝码的顶端套接于电磁铁底端、并悬挂搭接于垫片，砝码的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键；所述砝码在作用于按键而向上受力后可沿电磁铁的底端上移。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谭志辉，
申请(专利权)人：昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32