相位调制微波光链路噪声系数测量方法技术

本发明专利技术提供一种相位调制微波光链路噪声系数测量方法，直接测量输出噪声功率谱密度，从而计算出噪声系数。本发明专利技术结构简单，测量准确率高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种噪声系数测量方法，具体涉及一种相位调制微波光链路噪声系数测量方法。
技术介绍
噪声系数是射频电路的关键指标之一，它决定了接收机的灵敏度，影响着模拟通信系统的信噪比和数字通信系统的误码率。工程师HaroldFriis把噪声系数定义为用分贝(dB)表示的射频或微波器件输入处的信噪比(SNP.)除以输出处的SNR。从它的名称可知，SNP.是在给定传输环境中的信号电平与噪声电平之比。SNR越高，就有越多的信号超过噪声，使信号更容易检测。因此噪声系数是越低越好，因为在理想情况下，微波元件、子系统或系统应没有噪声施加到通过的信号上。但实际上所有电子器件都会增加一些噪声，叠加最低噪声的是最好的器件，这些器件有最低的噪声系数NFRF=NGRFkBTBW---(1)]]>使用dB为单位；NFF(dB)＝N-(GRF+kBT+20log(BW))＝Nlink_out+174-GRF-20log(BW)(2)上式中N为已测的总共输出噪声功率(单位为dBm/Hz)，-1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种相位调制微波光链路噪声系数测量方法，其特征在于，直接测量输出噪声功率谱密度，从而计算出噪声系数。

【技术特征摘要】
1.一种相位调制微波光链路噪声系数测量方法，其特征在于，直接测
量输出噪声功率谱密度，从而计算出噪声系数。
2.根据权利要求1所述的相位调制微波光链路噪声系数测量方法，其
特征在于，具体方法为：
直接测量输出噪声功率谱密度
则
NF(dB)＝Nlink+174-Glink_RF(3)
噪声系数为
NFlink(dB)＝Nlink+174-GRF(4)
其中,由于引入放大器，因此测到的数据为级联放大器后的噪声系数NFoutNFout(dB)＝Nout+174-G(5)...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶全意，高英杰，
申请(专利权)人：金陵科技学院，
类型：发明
国别省市：江苏;32