用于测量气体密度的方法及测量系统技术方案

技术编号:12699793 阅读:175 留言:0更新日期:2016-01-13 19:09
本公开涉及计量领域,公开了一种用于测量气体密度的方法及测量系统。该方法包括:得到第一对象和第二对象在气体环境中的质量差m1-air-m2-air,其中m1-air为第一对象在所述气体环境中的质量,m2-air为第二对象在所述气体环境中的质量;得到第一对象和第二对象在真空环境中的质量差m1-vacuum-m2-vacuum,其中m1-vacuum为第一对象在真空环境中的质量,m2-vacuum为第二对象在真空环境中的质量;得到第一对象和第二对象之间的体积差V1-V2,其中第一对象的体积为V1,第二对象的体积为V2,且第一对象的体积V1和第二对象的体积V2不相等;基于下式计算所述气体的密度ρair:应用本公开所公开的技术方案,可在不依赖环境参数的情况下来测量气体的密度。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及计量领域,更具体地,涉及一种用于测量气体密度的方法和一种测量 系统。
技术介绍
精确确定气体的密度对于工业、能源、计量等领域非常重要。例如,对被测对象的 质量进行测量通常是在一定气体(例如:空气)环境中进行的,但在测量中由于受到气体浮 力的影响,使得测量值不能精确反映被测对象的实际质量。这种误差在精确测量中的影响 尤为显著。如果能够精确地确定气体的密度,即可对测量值进行修正,以得到精确的物体实 际质量。 现有技术中主要通过国际计量委员会(简称CIPM)推荐的公式法来确定空气密 度。但公式法的测量精度依赖于温度、湿度、压力和C02等环境参数,如果相应传感器未能 及时校准,则难以保证测量精度。同时传感器的维护和更换成本也较高,而且无法应用于某 些会导致电子元器件失灵的测量场合。此外,应用公式法需要采用复杂的电路进行数据同 步采集和合成计算,实现较为复杂。 专利技术人研究发现,开发一种能实现不依赖环境参数来进行气体密度测量的方法和 相应装置是非常有必要的。
技术实现思路
本公开提出了一种不依赖环境参数来测量气体密度的方法。本公开还提出了一种 测量系统。 根据本公开本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量气体密度的方法,该方法包括:得到第一对象和第二对象在气体环境中的质量差m1‑air‑m2‑air,其中m1‑air为第一对象在所述气体环境中的质量,m2‑air为第二对象在所述气体环境中的质量;得到第一对象和第二对象在真空环境中的质量差m1‑vacuum‑m2‑vacuum,其中m1‑vacuum为第一对象在真空环境中的质量,m2‑vacuum为第二对象在真空环境中的质量;得到第一对象和第二对象之间的体积差V2‑V1,其中第一对象的体积为V1,第二对象的体积为V2,且第一对象的体积V1和第二对象的体积V2不相等;基于下式计算所述气体的密度ρair:ρair=(m1-air-...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:任孝平王健蔡常青姚弘丁京鞍钟瑞麟
申请(专利权)人:中国计量科学研究院
类型:发明
国别省市:北京;11

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