高精度电测装置制造方法及图纸

一种高精度电测装置，其特征在于，该高精度电测装置包括机台底座、吸附测量平台、X轴移动机构、Y轴移动机构、Z轴升降机构以及视觉识别机构，机台底座表面设置了吸附测量平台，在该吸附测量平台四周设置X轴移动机构和Y轴移动机构，在其中Y轴移动机构上设有Z轴升降机构，在Z轴升降机构上设置了视觉识别机构。

【技术实现步骤摘要】
【专利说明】
本技术涉及触控行业检测过程中的电测装置，尤其涉及一种高精度电测装置。【
技术介绍
】目前在手机或平板电脑行业，在检测过程中由于ITO电路多为消隐电路，肉眼很难看到，而有些银浆线路线径小、间距近且线路多，靠肉眼分辩检测劳动强度大，效率低且误判率尚，致使不合格品进入到下道工序，造成成品的良率不尚。为了提尚成品良率，将不合格的半成品及时检出。这就需要一种高精度的电测设备代替人工检测，将不合格的半成品及时检出，提高不合品的检出率，同时降低检测人员的劳动强度。【
技术实现思路
】本技术针对以上问题提出了一种触控行业进行检测所用的高精度电测装置，该装置能够提尚不良广品的检出率，避免不良品混入良品中，提尚检测效率和准确度，降低检测人员的劳动强度。本技术所述涉及的高精度电测装置，包括机台底座、吸附测量平台、X轴移动机构、Y轴移动机构、Z轴升降机构以及视觉识别机构，机台底座表面设置了吸附测量平台，在该吸附测量平台四周设置X轴移动机构和Y轴移动机构，在其中Y轴移动机构上设有Z轴升降机构，在Z轴升降机构上设置了视觉识别机构。该X轴移动机构包括一对平行的第一 X轴移动副、第二 X轴移动副，其中每一个X轴移动副都包含伺服电机、高精密滚珠丝杆、高精密直线导轨。该Y轴移动机构包括一对平行的第一 Y轴移动副和第二 Y轴移动副，该第一 /第二 Y轴移动副与第一 /第二 X轴移动副垂直；该每一副Y轴移动副都包含驱动电机、直线模组和模组支座，模组支座配合安装在X轴移动副的高精密滚珠丝杆上。该Z轴升降机构包括第一 Z轴升降副以及第二 Z轴升降副，其中第一 Z轴升降副安装在第一 Y轴移动副上，而第二 Z轴升降副安装在第二 Y轴移动副上。该每一副Z轴升降副都包括一个直线步进电机、直线导轨、检测探针，直线步进电机驱动检测探针沿着直线导轨升降导向。视觉识别机构包括相机、镜头、光源，该视觉识别机构包括两组，分别设置正在Z轴升降副上。【【附图说明】】图1是本技术高精度电测装置结构示意图；图2是本技术X轴移动机构结构示意图；图3是本技术Y轴移动机构结构示意图；图4是本技术Z轴升降机构结构示意图；图5是本技术视觉识别结构结构示意图；图6是本技术高精度电测装置结构示意图；其中:10、机台底座；20、吸附测量平台；30、X轴移动机构；31、伺服电机；32、高精密滚珠丝杆；33、高精密直线导轨；40、Y轴移动机构；41、驱动电机；42、直线模组；43、模组支座；50、Z轴升降机构；51、直线步进电机；52、直线导轨；53、检测探针；60、视觉识别机构；61、相机；62、镜头；63、光源。【【具体实施方式】】下面将结合附图及实施例对本技术进行详细说明。请参考附图1，其中示出了高精度电测装置，包括机台底座10、吸附测量平台20、X轴移动机构30、Y轴移动机构40、Ζ轴升降机构50以及视觉识别机构60，机台底座10表面设置了吸附测量平台20，在该吸附测量平台20四周设置X轴移动机构30和Y轴移动机构40，在其中Y轴移动机构40上设有Z轴升降机构50，在Z轴升降机构50上设置了视觉识别机构60。请参考附图2:该X轴移动机构包括一对平行的第一X轴移动副、第二X轴移动副，其中每一个X轴移动副都包含伺服电机31、高精密滚珠丝杆32、高精密直线导轨33。请参考附图3:该Y轴移动机构40包括一对平行的第一 Y轴移动副和第二 Y轴移动副，该第一 /第二 Y轴移动副与第一 /第二 X轴移动副垂直；该每一副Y轴移动副都包含驱动电机41、直线模组42和模组支座43，模组支座43配合安装在X轴移动副的高精密滚珠丝杆上。而驱动电机41驱动直线模组42沿着Y轴方向上移动。请参考附图4:该Z轴升降机构50包括第一 Z轴升降副以及第二 Z轴升降副，其中第一 Z轴升降副安装在第一 Y轴移动副上，而第二 Z轴升降副安装在第二 Y轴移动副上。该每一副Z轴升降副都包括一个直线步进电机51、直线导轨52、检测探针53，直线步进电机51驱动检测探针53沿着直线导轨52升降导向。请参考附图5:视觉识别机构包括相机61、镜头62、光源63，该视觉识别机构包括两组，分别设置正在Z轴升降副上。以上所述，仅是本技术较佳实施例而已，并非对本技术作任何形式上的限制，虽然本技术以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本技术，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本技术技术方案范围内，当利用上述揭示的
技术实现思路
作出些许变更或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本技术技术方案内容，依据本技术技术是指对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均属于本技术技术方案的范围内。【主权项】1.一种高精度电测装置，其特征在于，该高精度电测装置包括机台底座、吸附测量平台、X轴移动机构、Y轴移动机构、Z轴升降机构以及视觉识别机构，机台底座表面设置了吸附测量平台，在该吸附测量平台四周设置X轴移动机构和Y轴移动机构，在其中Y轴移动机构上设有Z轴升降机构，在Z轴升降机构上设置了视觉识别机构。2.根据权利要求1所述高精度电测装置，其特征在于，该X轴移动机构包括一对平行的第一 X轴移动副、第二 X轴移动副，其中每一个X轴移动副都包含伺服电机、高精密滚珠丝杆、高精密直线导轨。3.根据权利要求2所述高精度电测装置，其特征在于，该Y轴移动机构包括一对平行的第一 Y轴移动副和第二 Y轴移动副，该第一 /第二 Y轴移动副与第一 /第二 X轴移动副垂直；该每一副Y轴移动副都包含驱动电机、直线模组和模组支座，模组支座配合安装在X轴移动副的高精密滚珠丝杆上。4.根据权利要求3所述高精度电测装置，其特征在于，该Z轴升降机构包括第一Z轴升降副以及第二 Z轴升降副，其中第一 Z轴升降副安装在第一 Y轴移动副上，而第二 Z轴升降副安装在第二Y轴移动副上。5.根据权利要求4所述高精度电测装置，其特征在于，该每一副Z轴升降副都包括一个直线步进电机、直线导轨、检测探针，直线步进电机驱动检测探针沿着直线导轨升降导向。6.根据权利要求5所述高精度电测装置，其特征在于，视觉识别机构包括相机、镜头、光源，该视觉识别机构包括两组，分别设置正在Z轴升降副上。【专利摘要】一种高精度电测装置，其特征在于，该高精度电测装置包括机台底座、吸附测量平台、X轴移动机构、Y轴移动机构、Z轴升降机构以及视觉识别机构，机台底座表面设置了吸附测量平台，在该吸附测量平台四周设置X轴移动机构和Y轴移动机构，在其中Y轴移动机构上设有Z轴升降机构，在Z轴升降机构上设置了视觉识别机构。【IPC分类】G01R31/00, G01N21/84【公开号】CN204882375【申请号】CN201520320376【专利技术人】郑春晓 【申请人】深圳市极而峰工业设备有限公司【公开日】2015年12月16日【申请日】2015年5月18日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高精度电测装置，其特征在于，该高精度电测装置包括机台底座、吸附测量平台、X轴移动机构、Y轴移动机构、Z轴升降机构以及视觉识别机构，机台底座表面设置了吸附测量平台，在该吸附测量平台四周设置X轴移动机构和Y轴移动机构，在其中Y轴移动机构上设有Z轴升降机构，在Z轴升降机构上设置了视觉识别机构。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郑春晓，
申请(专利权)人：深圳市极而峰工业设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44