【技术实现步骤摘要】
本技术涉及LED测试装置
，尤其涉及一种LED器件测试夹具。
技术介绍
LED器件是特性敏感的半导体器件，抗浪涌的能力是比较差的，特别是抗反向电压能力。通常需要采用恒流源进行驱动，避免驱动电流超出最大额定值，影响其可靠性。直流电源内部有电感、电容等元器件，直流输出时无法避免电压浪涌及电流浪涌。电压浪涌、电流浪涌会对LED器件产生破坏作用。在对现有的LED器件进行一些可靠性测试的过程中，经常发现一些由于电源浪涌引起的破坏，影响了试验的准确性，这对准确判断产品性能提出了挑战，由于更换电源成本较高，因此希望找到一个更经济的LED器件保护方案。本技术的目的是提供一种LED器件测试夹具，解决目前在LED测试过程中，由电压浪涌或电流浪涌导致LED器件破坏的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于，提供一种保护LED器件及提高LED器件产品可靠性的LED器件测试夹具。为解决以上技术问题，本技术的技术方案是:一种LED器件测试夹具，其特征在于，包括框体，设置于所述框体表面上的LED器件测试安放区，与所述LED器件测试安放区相并联的测试保护元件以及用于实现所述框...
【技术保护点】
一种LED器件测试夹具，其特征在于，包括框体，设置于所述框体表面上的LED器件测试安放区，与所述LED器件测试安放区相并联的测试保护元件以及用于实现所述框体内部各部件之间电连接的导电线路。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张家鹏，潘利兵，李巍，刘晓庆，黄承斌，
申请(专利权)人：佛山市国星光电股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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