【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及终端射频测试
,特别涉及一种射频测试座和射频测试线缆。
技术介绍
现在所使用的射频测试座,主要是用来测试射频线缆的功率和灵敏度的,当不插入射频测试线缆的时候,信号可以双向流通,如图1所示,带箭头的线是信号线,箭头的方向表示信号的流向,但是,当插入射频测试线缆的时候,信号只能单向导通,如图2和图3分别显示了射频测试座和射频测试线缆的示意图。如图4所示,在测试射频线缆功率的场景,当射频测试线缆连接到射频测试座的时候,射频测试座就是单向导通的,只与射频芯片这边是导通的,与天线这一端是断开的,也就是说,当不插入射频测试线缆的时候,射频测试座里面一个簧片是在图中虚线所在的状态。当插入射频测试线缆的时候,射频测试座中的簧片就从虚线的状态,被往下挤压到了实线这个状态。也就是说,LTE的终端上在每个射频芯片和天线之间都有一个射频测试座,现有的射频测试座在插上射频测试线缆以后,只有单向导通,如果需要测量天线的Sll参数或者史密斯Smith圆图的时候,必须把射频测试座吹掉,把射频测试线缆焊到主板上。这样做有几个缺点:1、必须破坏主板来制作测试天线无源治具 ...
【技术保护点】
一种射频测试座,其特征在于,包括:射频测试机座;固定在所述射频测试机座内的连接装置;固定在所述射频测试机座内的第一弹性装置和第二弹性装置,分别与所述连接装置弹性连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:刘锋昱,
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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