一种射频测试座和射频测试线缆制造技术

技术编号:12278643 阅读:95 留言:0更新日期:2015-11-05 04:57
本发明专利技术公开了一种射频测试座和射频测试线缆,涉及射频测试技术领域,其射频测试方法包括:第一测试装置与第二测试装置通过射频测试座中的连接第一测试装置的第一弹性装置和连接第二测试装置的第二弹性装置进行连接;射频测试线缆的绝缘顶针装置通过顶压所述第二弹性装置,断开射频测试座与第二测试装置连接,以便经由所述射频测试头和所述第一弹性装置对第一测试装置进行测试;射频测试线缆的绝缘顶针装置通过顶压所述第一弹性装置,断开射频测试座与第一测试装置连接,以便经由所述射频测试头和所述第二弹性装置对第二测试装置进行测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及终端射频测试
,特别涉及一种射频测试座和射频测试线缆
技术介绍
现在所使用的射频测试座,主要是用来测试射频线缆的功率和灵敏度的,当不插入射频测试线缆的时候,信号可以双向流通,如图1所示,带箭头的线是信号线,箭头的方向表示信号的流向,但是,当插入射频测试线缆的时候,信号只能单向导通,如图2和图3分别显示了射频测试座和射频测试线缆的示意图。如图4所示,在测试射频线缆功率的场景,当射频测试线缆连接到射频测试座的时候,射频测试座就是单向导通的,只与射频芯片这边是导通的,与天线这一端是断开的,也就是说,当不插入射频测试线缆的时候,射频测试座里面一个簧片是在图中虚线所在的状态。当插入射频测试线缆的时候,射频测试座中的簧片就从虚线的状态,被往下挤压到了实线这个状态。也就是说,LTE的终端上在每个射频芯片和天线之间都有一个射频测试座,现有的射频测试座在插上射频测试线缆以后,只有单向导通,如果需要测量天线的Sll参数或者史密斯Smith圆图的时候,必须把射频测试座吹掉,把射频测试线缆焊到主板上。这样做有几个缺点:1、必须破坏主板来制作测试天线无源治具;2、无源板通常和有本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种射频测试座,其特征在于,包括:射频测试机座;固定在所述射频测试机座内的连接装置;固定在所述射频测试机座内的第一弹性装置和第二弹性装置,分别与所述连接装置弹性连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘锋昱
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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