本发明专利技术公开了数字集成电路直流参数标准复现方法，包括以下步骤：S1：控制器设置直流参数标准值；S2：仪器模块组根据直流参数标准值以及待测试装置的施加值在测试回路中复现直流参数，控制器接受复现的直流参数，并与所述直流参数标准值进行比较，得到误差测试结果；S3：若误差测试结果超过控制器规定的误差判定范围，控制器利用二分法算法对测试回路中的直流参数进行修正，直到误差测试结果小于规定的误差判定范围，修正后的直流参数即是复现的直流参数标准。本发明专利技术，控制器将待测试装置测试的回路中的数字集成电路直流参数与数字集成电路直流参数标准进行比较，从而实现数字集成电路直流参数的校准。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及微电子计量
，特别涉及一种数字集成电路直流参数标准复现 方法及标准装置。
技术介绍
集成电路参数的性能指标直接影响了各种军民用系统、设备的技术指标，目前这 些集成电路参数的量值溯源途径主要通过"集成电路测试系统校准装置一一集成电路测试 系统--集成电路参数"的方式进行，这种方式解决了集成电路测试系统的量值溯源问题， 然而却无法保障"集成电路测试系统一一集成电路参数"之间的量值传递的可靠性。原因 是集成电路测试系统的参数和集成电路参数存在本质的差异，集成电路测试系统的量值溯 源是针对单个部件（如驱动器、比较器、精密测量单元、电源等）在静态条件下的主要参数 的量值溯源，而集成电路参数的量值溯源则是实际测试过程中测试系统多个部件综合作用 的结果，可能会存在经过量值溯源的测试系统所测试的集成电路参数量值不准的情况，无 法真正保障各种军民用系统、设备的性能指标。 目前，业界一般采用金器件的方式进行测试系统的量值比对、核查，通常的做法是 选取某种金器件特定的参数在不同测试系统上测试，以此来进行测试系统性能比对。此类 金器件参数量值单一、准确度不高，并不能用于集成电路参数标准来对集成电路测试系统 进行校准。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种数字集成电路直流参数标准均可以在最小值到最大值 之间进行无极调节，且测量不确定度优于0. 1 %的数字集成电路直流参数标准复现方法及 标准装置。 一种数字集成电路直流参数标准复现方法，包括以下步骤： S1 :数字集成电路直流参数标准装置1中的控制器12设置数字集成电路直流参数 标准值；S2 :数字集成电路直流参数标准装置1中的仪器模块组11根据所述数字集成电路 直流参数标准值以及待测试装置2对数字集成电路直流参数标准装置1两端的电压/电流 施加值在由控制器12、仪器模块组11、待测试装置2依次串联连接形成的测试回路中复现 数字集成电路直流参数，控制器12接受仪器模块组11复现的测试回路中的数字集成电路 直流参数，并与所述数字集成电路直流参数标准值进行比较，得到误差测试结果； S3:若所述误差测试结果超过控制器12规定的误差判定范围，控制器12利用二分 法算法对测试回路中的数字集成电路直流参数进行修正，直到误差测试结果小于规定的误 差判定范围，修正后的数字集成电路直流参数即是数字集成电路直流参数标准装置1复现 的数字集成电路直流参数标准。 本专利技术提供了一种数字集成电路直流参数标准装置，包括PXI仪器模块组11、控 制器12及接口适配器13 ; 所述控制器11、接口适配器13分别与所述PXI仪器模块组11电连接； 所述PXI仪器模块组11，用于根据数字集成电路直流参数的测量原理，复现多组 可编程数字集成电路直流参数标准； 所述控制器12,用于控制所述PXI仪器模块组11复现数字集成电路直流参数标 准，并对数据进行存储、处理及显示； 所述接口适配器13,用于根据复现数字集成电路参数标准所对应的不同的原理， 对接收的PXI仪器模块组11的数据信号进行转接、隔离、分配，以复现不同的数字集成电路 参数标准至待测试装置2。 本专利技术提供的数字集成电路直流参数标准复现方法及标准装置，可以实现数字集 成电路直流参数标准的无极调节，同时具有溯源功能，确保了数字集成电路直流参数的全 量程校准，填补了我国在此项技术的空白；且性能优异、集成度高、便携性好，可溯源，能够 很好地满足当前数字集成电路直流参数现场校准的需求。【附图说明】 图1是本专利技术实施方式提供的数字集成电路直流参数标准复现方法的流程示意 图。 图2是本专利技术实施方式提供的数字集成电路直流参数标准装置的结构示意图。 图3是本专利技术实施方式提供的数字集成电路直流参数标准复现方法中直流参数 复现的原理结构图。 图4是图3中复现I0L/I0H、I IL/IIH、Ios、IDD参数标准的原理结构图。 图5是图3中复现VIK、Va/Vra参数标准的原理结构图。 图6是图3中实现Vj^准量值溯源的电路原理图。 主要元件符号说明 如下【具体实施方式】将结合上述附图进一步说明本专利技术。【具体实施方式】 如图1所示，本专利技术实施方式提供的一种数字集成电路直流参数标准复现方法， 包括以下步骤： S1 :数字集成电路直流参数标准装置1中的控制器12设置数字集成电路直流参数 标准值； S2 :数字集成电路直流参数标准装置1中的仪器模块组11根据所述数字集成电路 直流参数标准值以及待测试装置2对数字集成电路直流参数标准装置1两端的电压/电流 施加值在由控制器12、仪器模块组11、待测试装置2依次串联连接形成的测试回路中复现 数字集成电路直流参数，控制器12接受仪器模块组11复现的测试回路中的数字集成电路 直流参数，并与所述数字集成电路直流参数标准值进行比较，得到误差测试结果； S3:若所述误差测试结果超过控制器12规定的误差判定范围，控制器12利用二分 法算法对测试回路中的数字集成电路直流参数进行修正，直到误差测试结果小于规定的误 差判定范围，修正后的数字集成电路直流参数即是数字集成电路直流参数标准装置1复现 的数字集成电路直流参数标准。 具体的，本实施例中：数字集成电路直流参数标准装置1，用于复现多组可编程数 字集成电路直流参数标准及对待测试装置2中的数字集成电路直流参数进行校准；待测试 装置2优选集成电路测试系统，用于对数字集成电路直流参数进行测试；仪器模块组11包 括数字多用表111、可编程电阻112、源测量单元113,根据数字集成电路直流参数测量原 理，数字多用表111、可编程电阻112、源测量单元113共同作用复现不同的数字集成电路 直流参数的标准值，具有通用性好、便携性好、参数可无极调节且准确度高等特点。其中，数 字多用表111，用于进行电压电阻测量；可编程电阻112,用于设定任意电阻值；源测量单元 113,用于设置可变电压值；控制器12规定的误差判定范围由数字多用表111电压测量的分 辨力决定，误差判断范围优选〇. 1%。 如图3所示，复现数字集成电路直流参数的标准值的原理是：数字集成电路直流 参数标准装置1中，控制器12与PXI仪器模块组11通过PXI总线6互联，控制PXI仪器模 块组11中各模块复现数字集成电路直流参数标准，并进行数据的存储、处理及显示。接口 适配器13实现待测试装置2与PXI仪器模块组11的自适应连接，一边通过连接线缆5与 PXI仪器模块组11连接，一边通过测试接口 7与加载板4连接。接口适配器13依据数字 集成电路参数标准所复现的不同原理，对来自PXI仪器模块组11的信号进行转接、隔离、分 配，以复现不同的参数标准至测试接口 7,校准装置3用于对数字集成电路直流参数标准装 置1中的数字集成电路直流参数标准进行量值溯源。 实施例1 复现数字集成电路直流参数标准，例如1%参数时，数字集成电路直流参数标准复 现方法的具体步骤如下： S1 :在数字集成电路直流参数标准装置1内的控制器12中输入一U参数标准值， 例如1mA，根据该数字集成电路直流参数标准值设置合适的可编程电阻值，例如100Q，并 通过数字多用表111对可编程电阻112进行测量并记录下来； S2 :在集成电路测试系统进行U参数测试时，会本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种数字集成电路直流参数标准复现方法，其特征在于：包括以下步骤：S1：数字集成电路直流参数标准装置(1)中的控制器(12)设置数字集成电路直流参数标准值；S2：数字集成电路直流参数标准装置(1)中的仪器模块组(11)根据所述数字集成电路直流参数标准值以及待测试装置(2)对数字集成电路直流参数标准装置(1)两端的电压/电流施加值在由控制器(12)、仪器模块组(11)、待测试装置(2)依次串联连接形成的测试回路中复现数字集成电路直流参数，控制器(12)接受仪器模块组(11)复现的测试回路中的数字集成电路直流参数，并与所述数字集成电路直流参数标准值进行比较，得到误差测试结果；S3：若所述误差测试结果超过控制器(12)规定的误差判定范围，控制器(12)利用二分法算法对测试回路中的数字集成电路直流参数进行修正，直到误差测试结果小于规定的误差判定范围，修正后的数字集成电路直流参数即是数字集成电路直流参数标准装置(1)复现的数字集成电路直流参数标准。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：胡勇，孙崇钧，刘倩，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七零九研究所，
类型：发明
国别省市：湖北;42
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