大型变压器绕组变形的测试方法技术

本发明专利技术涉及高压电气领域，公开了一种大型变压器绕组变形测试方法，该测试方法包括：S1)将受冲击后的变压器低压绕组短路；S2)对受冲击后的变压器高压绕组施加第一电压；S3)测量受冲击后的变压器高压绕组阻抗值；S4)将受冲击后的变压器高压绕组阻抗值与受冲击前的变压器高压绕组阻抗值进行对比，以判断变压器绕组的变形情况。采用本发明专利技术提供的大型变压器绕组变形测试方法，可以利用小电源提供的电压，在现场随时进行测试，操作方便，测试成本低。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及高压电气领域，具体地，涉及一种大型变压器绕组变形测试方法。
技术介绍
当变压器受冲击后，需要进行绕组变形情况的测试，常规测试方法有短路阻抗法、频率响应法。频率响应法测试原理主要是通过检测变压器各个绕组的幅频响应特性，并对检测结果进行纵向或横向比较，根据幅频响应特性的变化程度，判断变压器可能发生的绕组变形，这种方法需要专用仪器进行。而短路阻抗法需返厂进行额定电流下短路阻抗测试，来判断绕组变形情况。常规检修无法准确判断绕组变形状况。采用传统常规的方法测试，需要很大的试验电源，目前现场条件很难满足，且耗用成本较大。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种大型变压器绕组变形测试方法，该大型变压器绕组变形测试方法可以利用小电源提供的电压，在现场随时进行测试，操作方便，测试成本低。为了实现上述目的，本专利技术提供一种大型变压器绕组变形测试方法，该测试方法包括:si)将受冲击后的变压器低压绕组短路；S2)对受冲击后的变压器高压绕组施加第一电压；S3)测量受冲击后的变压器高压绕组阻抗值；S4)将所述受冲击后的变压器高压绕组阻抗值与受冲击前的变压器高压绕组阻抗值进行对比，以判断变压器绕组的变形情况。优选地，步骤S3)还包括:测量所述受冲击后的变压器高压绕组的电流值和所述受冲击后的变压器高压绕组的电压值；以及根据所述电流值和电压值，计算所述变压器高压绕组阻抗值。优选地，所述第一电压是小于220V的小电压。优选地，利用调压器控制所述第一电压的大小。优选地，所述受冲击前的变压器阻抗值通过以下步骤得出:S5)将受冲击前的变压器低压绕组短路；S6)对受冲击前的变压器高压绕组施加第一电压；S7)测量受冲击前的变压器高压绕组阻抗值。优选地，步骤S3)还包括将所述第一电压下测出的所述受冲击后的变压器高压绕组阻抗值换算为额定电压下受冲击后的变压器高压绕组阻抗值；以及步骤S4)包括将所述额定电压下受冲击后的变压器高压绕组阻抗值与受冲击前的变压器高压绕组阻抗值进行对比，以判断变压器绕组的变形情况。通过上述技术方案，在变压器收到冲击之后，将受冲击后的变压器低压绕组短路，接着对受冲击后的变压器高压绕组施加第一电压，测量受冲击后的变压器高压绕组阻抗值，最后将受冲击后的变压器高压绕组阻抗值与受冲击前的变压器高压绕组阻抗值进行对比，以判断变压器绕组的变形情况。采用本专利技术提供的大型变压器绕组变形测试方法，可以利用小电源提供的电压，在现场随时进行测试，操作方便，测试成本低。本专利技术的其它特征和优点将在随后的【具体实施方式】部分予以详细说明。【附图说明】附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的【具体实施方式】一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。在附图中:图1是本专利技术提供的大型变压器绕组变形测试方法的流程图；图2是本专利技术提供的大型变压器绕组变形测试时的装置连接示意图。【具体实施方式】以下结合附图对本专利技术的【具体实施方式】进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的【具体实施方式】仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限制本专利技术。图1是本专利技术提供的大型变压器绕组变形测试方法的流程图。如图1所示，一种大型变压器绕组变形测试方法包括:S1)将受冲击后的变压器低压绕组短路；S2)对受冲击后的变压器高压绕组施加第一电压；S3)测量受冲击后的变压器阻抗值；S4)将受冲击后的变压器高压绕组阻抗值与受冲击前的变压器高压绕组阻抗值进行对比，以判断变压器绕组的变形情况。在变压器受冲击之前，工作人员可以事先测出受冲击前的变压器高压绕组阻抗值，并记录该阻抗值以备对比使用。所述受冲击前的变压器高压绕组阻抗值可以读取出厂时的阻抗值或者通过以下步骤得出:S5)将受冲击前的变压器低压绕组短路；S6)对受冲击前的变压器高压绕组施加第一电压；S7)测量受冲击前的变压器高压绕组阻抗值。将受冲击后的变压器低电压绕组短路，保证变压器低压绕组阻抗为零，然后对受冲击后的变压器高压绕组施加第一电压，计算并记录受冲击后的变压器高压绕组阻抗值，该阻抗值为该变压器短路阻抗，短路阻抗的变化即代表着变压器绕组的变化，因此可以将该短路阻抗与变压器出厂阻抗或者该变压器受冲击前测试出的阻抗对比，以判断该变压器受此次冲击后的绕组变形程度。优选地，步骤S3)还包括将所述第一电压下测出的所述受冲击后的变压器高压绕组阻抗值换算为额定电压下受冲击后的变压器高压绕组阻抗值；以及步骤S4)包括将所述额定电压下受冲击后的变压器高压绕组阻抗值与受冲击前的变压器高压绕组阻抗值进行对比，以判断变压器绕组的变形情况。由于利用小电压测出的变压器高压绕组阻抗值并不一定准确，换句话说，利用小电压测出的受冲击后的变压器高压绕组阻抗值与利用额定电压测出的受冲击后的变压器高压绕组阻抗值有一定不同，因此为了使结果更加准确，本专利技术可以利用第一电压下测出的受冲击后的变压器高压绕组阻抗值乘以一定倍数β，换算为额定电压下受冲击后的变压器高压绕组阻抗值，经多次试验得出，在第一电压为小电压(约180V)时，其中β大约为1.0021。同样的，在事先测量受冲击前的变压器高压绕组阻抗值时，为了更加精确，也可以利用此方法换算，在此不再赘述。图2是本专利技术提供的大型变压器绕组变形测试时的装置连接示意图。如图2所示，本专利技术一实施方式中，大型变压器是双绕组变压器，具有低压绕组和高压绕组，电流表与变压器高压绕组串联，电压表与变压器高压绕组并联，并且电流表一端与调压器连接，另一端与变压器高压绕组连接，通过调节调压器，可以控制第一电压的大小。于是，在步骤S3)中还包括测量所述受冲击后的变压器高压绕组的电流值和所述受冲击后的变压器高压绕组的电压值；以及根据所述电流值和电压值，计算所述变压器高压绕组阻抗值。所述第一电压是小于220V(例如180V)的小电压，由于小电压相较大电压没有过多限制，可以由简单多样的设备提供，因此可以随时随地进行操作。通过上述技术方案，在变压器收到冲击之后，将受冲击后的变压器低压绕组短路，接着对受冲击后的变压器高压绕组施加第一电压，测量受冲击后的变压器高压绕组阻抗值，最后将受冲击后的变压器高压绕组阻抗值与受冲击前的变压器高压绕组阻抗值进行对比，以判断变压器绕组的变形情况。采用本专利技术提供的大型变压器绕组变形测试方法，可以利用小电源提供的电压，在现场随时进行测试，操作方便，测试成本低。以上结合附图详细描述了本专利技术的优选实施方式，但是，本专利技术并不限于上述实施方式中的具体细节，在本专利技术的技术构思范围内，可以对本专利技术的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本专利技术的保护范围。另外需要说明的是，在上述【具体实施方式】中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合，为了避免不必要的重复，本专利技术对各种可能的组合方式不再另行说明。此外，本专利技术的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本专利技术的思想，其同样应当视为本专利技术所公开的内容。【主权项】1.一种大型变压器绕组变形测试方法，其特征在于，该测试方法包括: 51)将受冲击后的变压器低压绕组短路； 52)对受冲击后的变压器高压绕组施加第一电压； 53)测量受冲击后的变压器高压绕组阻抗值； 54)将所述受冲击后的变压器高压绕组阻抗值与受冲本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种大型变压器绕组变形测试方法，其特征在于，该测试方法包括：S1)将受冲击后的变压器低压绕组短路；S2)对受冲击后的变压器高压绕组施加第一电压；S3)测量受冲击后的变压器高压绕组阻抗值；S4)将所述受冲击后的变压器高压绕组阻抗值与受冲击前的变压器高压绕组阻抗值进行对比，以判断变压器绕组的变形情况。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王立学，刘双林，赵欣颖，郑永香，
申请(专利权)人：中国神华能源股份有限公司，北京国华电力有限责任公司，天津国华盘山发电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11