一种频谱仪及其多参数并行扫频的频谱测量方法技术

本发明专利技术公开了一种频谱仪及其多参数并行扫频的频谱测量方法，频谱仪包括信号输入模块、控制处理模块、信号测量模块和显示模块。在频谱测量过程中，信号输入模块获取输入信号；控制处理模块根据预设的测试窗口数量或者用户设置的测试窗口数量，在显示模块上分割出多个测试窗口，并根据用户的设置，保存用户对每一个测试窗口进行的参数设置以及测试频点或者频段的设置；信号测量模块对每一个测试窗口所对应的频点或者频段进行频谱测量；显示模块显示每一个测试窗口所对应的测量结果。用户可以针对同一信号中不同频点或者不同信号的状况，分割出多个测试窗口并对其设置不同的参数，可以节省频谱测量的时间，避免现有技术进行参数切换的繁琐操作。

【技术实现步骤摘要】
一种频谱仪及其多参数并行扫频的频谱测量方法
本专利技术涉及频谱测量领域，具体涉及一种频谱仪及其多参数并行扫频的频谱测量方法。
技术介绍
频谱测量技术已经成为越来越广泛的测量方法，但是利用现有技术的频谱测量方法对目标信号进行测试时，频谱仪只有一个显示窗口和一套扫描参数，在对一个信号的不同频点或者多个信号进行测量时，往往需要设置多种不同参数，现有技术的方法就需要通过仪器的输入键盘或屏幕菜单设置不同的参数分别进行测试，参数之间切换繁琐，测试效率较低。例如，欲测量多个频率相距较远的信号频点，需要使用较宽的扫宽同时涵盖这些点。若使用较大的频率分辨率(RBW，ResolutionBandWith)，测量时间虽然能够缩短，但测试结果分辨率不精细，细节无法观察到；若使用较小的频率分辨率，虽然可以观察到各个频点处很精细的测量细节，但会导致非常长的扫描时间，因为较小RBW的测量时间长(扫描分辨率小或扫宽大，扫描时间就长；扫描分辨率大或扫宽小，扫描时间就短)。所以通常只能在这些需要细致观察的频点上，使用较小的频段进行多次独立的测试，以增加测量细节同时减小扫描时间，但这样就导致了参数之间切换繁琐，测试效率较低的问题。又例如，欲测量多个电平幅度不同的信号，需要使用不同的测量参考电平才能观察得到这些信号的区别。若使用较大的参考电平(ReferenceLevel)测量幅度较高的信号，就需要增大衰减，则底噪升高，无法同时观察到幅度较低的信号；若使用较小的参考电平测量幅度较低的信号，就需要打开前置放大器，则增加了失真，无法同时观察到幅度较高的信号。所以通常只能在这些需要细致观察的电平上，使用不同的参考电平频段进行多次独立的测试过程，以增加测量细节和减小测量失真。现有的频谱仪技术方案中，扫宽/分辨率/参考电平/扫描时间等参数只能设置在人机界面上设置唯一可执行的扫描参数，一次扫描从头扫到尾，并且在一个显示屏幕上将扫描结果显示出来。若在测量多个不同频率和幅度状态差异比较大的信号的时候，需要使用较宽的扫宽或较大的参考电平同时涵盖这些点，仪器状态不能兼顾多个信号的特点，那么一套扫描参数就不能很好地适配每一个需要测量信号的频率精度和幅度精度，只能进行多次独立的测试过程，切换复杂，也不方便进行对比。
技术实现思路
根据本专利技术的第一方面，提供一种多参数并行扫频的频谱测量方法，包括：分割窗口：启动分割测试窗口功能；根据预设的测试窗口数量或者用户设置的测试窗口数量，在屏幕上分割出多个测试窗口；参数设置：依次选中多个测试窗口的一个并对其进行参数设置；对被选中的测试窗口进行测试频点或者频段的设置；信号测量：在每一个测试窗口上对其对应的频点或者频段进行频谱测量；结果显示：在屏幕上显示每一个测试窗口所对应的测量结果。分割窗口步骤还包括：自动生成多个测试窗口的序号。或者，在参数设置步骤设置测试窗口的序号，可以是对选中的测试窗口进行序号设置；或者，测试窗口的序号编排依照该测试窗口被选中的顺序被生成。对选中的测试窗口进行参数设置为：对扫宽和/或分辨率和/或参考电平和/或扫描时间进行设置。信号测量步骤为：按次序利用每一个测试窗口对其对应的频点或者频段进行频谱测量。频谱测量方法可以还包括：增加或减少测试窗口的数量。增加的测试窗口的参数与原有测试窗口中最后一个被进行参数设置的测试窗口的参数相同。频谱测量方法可以还包括设置测量模式，设置测量模式为：设置频谱仪的测量模式为单次测量或者循环测量；单次测量为，频谱仪完成多个测试窗口的一次频谱测量后，结束测量过程；循环测量为，频谱仪完成多个测试窗口的一次频谱测量后，循环执行频谱测量过程，直至达到预设的循环次数或者设置的循环次数。根据本专利技术的第二方面，提供一种频谱仪，包括信号输入模块、控制处理模块、信号测量模块和显示模块。信号输入模块连接至控制处理模块，用于获取输入信号；控制处理模块用于根据预设的测试窗口数量或者用户设置的测试窗口数量，在显示模块上分割出多个测试窗口，并根据用户的设置，保存用户对每一个测试窗口进行的参数设置以及测试频点或者频段的设置；信号测量模块连接至控制处理模块，用于对每一个测试窗口所对应的频点或者频段进行频谱测量；显示模块连接至控制处理模块和信号测量模块，用于显示每一个测试窗口所对应的测量结果。参数设置包括扫宽和/或分辨率和/或参考电平和/或扫描时间的设置。控制处理模块还用于增加或减少测试窗口的数量，增加的测试窗口的参数与原有测试窗口中最后一个被进行参数设置的测试窗口的参数相同。信号测量模块按次序利用每一个测试窗口对其对应的频点或者频段进行频谱测量。控制处理模块还用于设置测量模式，即设置频谱仪的测量模式为单次测量或者循环测量；单次测量为，频谱仪完成多个测试窗口的一次频谱测量后，结束测量过程；循环测量为，频谱仪完成多个测试窗口的一次频谱测量后，循环执行频谱测量过程，直至达到预设的循环次数或者设置的循环次数。本专利技术的有益效果是，用户可以针对同一信号中不同频点或者不同信号的状况，分割出多个测试窗口并对多个测试窗口设置不同的参数，对于精确度要求高的频点，设置较高的分辨率，对于精确度要求交低的频点，不用设置较高的分辨率，这样既节省了频谱测量的时间，也避免了现有技术进行参数切换的繁琐操作。附图说明图1为本专利技术实施例一的频谱仪的机构示意图；图2为本专利技术实施例一的被测信号示意图；图3为本专利技术实施例一的频谱仪的窗口分割效果图；图4为本专利技术实施例一的频谱测量结果显示效果图；图5为本专利技术实施例二的被测信号示意图；图6为本专利技术实施例二的频谱测量结果显示效果图。具体实施方式下面通过具体实施方式结合附图对本专利技术作进一步详细说明。实施例一：如图1所示为本实施例频谱仪的结构示意图，包括输入模块001、控制处理模块002、信号测量模块003和显示模块004。输入模块001连接至控制处理模块002，用于获取输入信号；控制处理模块002用于根据预设的测试窗口数量或者用户设置的测试窗口数量，在显示模块上分割出多个测试窗口，并根据用户的设置，保存用户对每一个测试窗口进行的参数设置以及测试频点或者频段的设置；信号测量模块003连接至控制处理模块002，用于对每一个测试窗口所对应的频点或者频段进行频谱测量；显示模块004连接至控制处理模块002和信号测量模块003，用于显示每一个测试窗口所对应的测量结果，显示模块004即屏幕。本实施例的多参数并行扫频的频谱测量方法包括如下步骤：S1、输入模块001获取信号，用户启动分割测试窗口功能，控制处理模块002根据预设的测试窗口数量或者用户设置的测试窗口数量，在屏幕上分割出多个测试窗口。具体地，如图2所示，用户需要对频谱仪屏幕上的A1、A2、A3、A4四个频点进行扫描，经过分析可知，四个频点需要利用不同的扫描分辨率进行扫描，因此，本实施例的测试窗口由用户在频谱仪的输入面板或者屏幕菜单或者对应的远程菜单上进行设置，测试窗口的数量为四个，则屏幕上分割出四个测试窗口，四个测试窗口的分割效果如图3所示。S2、选中四个测试窗口的一个，对该测试窗口进行测试频点或者频段的设置，并对其进行参数设置，即对扫宽、分辨率//参考电平、扫描时间等进行设置，使得该窗口能够显示对A1频点的扫描结果。测试窗口的序号编排依照该测试窗口被选中的顺序被本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多参数并行扫频的频谱测量方法，其特征在于，包括：分割窗口：启动分割测试窗口功能；根据预设的测试窗口数量或者用户设置的测试窗口数量，在屏幕上分割出多个测试窗口；参数设置：依次选中所述多个测试窗口的一个并对其进行参数设置；对被选中的测试窗口进行测试频点或者频段的设置；信号测量：在每一个测试窗口上对其对应的频点或者频段进行频谱测量；结果显示：在屏幕上显示每一个测试窗口所对应的测量结果。

【技术特征摘要】
1.一种多参数并行扫频的频谱测量方法，其特征在于，包括：分割窗口：启动分割测试窗口功能；根据预设的测试窗口数量，在屏幕上分割出多个测试窗口；参数设置：依次选中所述多个测试窗口的一个并对其进行参数设置；对被选中的测试窗口进行测试频点或者频段的设置；信号测量：在每一个测试窗口上对其对应的频点或者频段进行频谱测量；结果显示：在屏幕上显示每一个测试窗口所对应的测量结果。2.如权利要求1所述的频谱测量方法，其特征在于，所述分割窗口步骤还包括生成所述多个测试窗口的序号；所述生成所述多个测试窗口的序号的方式为：自动生成所述多个测试窗口的序号，或者选中的测试窗口的序号经过设置而被生成，或者测试窗口的序号编排依照该测试窗口被选中的顺序被生成。3.如权利要求1所述的频谱测量方法，其特征在于，对选中的测试窗口进行参数设置为：对扫宽和/或分辨率和/或参考电平和/或扫描时间进行设置。4.如权利要求1所述的频谱测量方法，其特征在于，所述信号测量步骤为：按次序利用每一个测试窗口对其对应的频点或者频段进行频谱测量。5.如权利要求1所述的频谱测量方法，其特征在于，还包括：增加或减少测试窗口的数量。6.如权利要求5所述的频谱测量方法，其特征在于，增加的测试窗口的参数与原有测试窗口中最后一个被进行参数设置的测试窗口的参数...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁杰，
申请(专利权)人：深圳市鼎阳科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44