OLED显示装置和用于矫正OLED显示装置的残像的方法制造方法及图纸

根据本发明专利技术实施例提供的OLED显示装置和用于矫正OLED显示装置的残像的方法，可以使用多种方式来检测OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度，从而能够通过调整各个OLED像素的老化程度来矫正OLED显示装置的残像。

【技术实现步骤摘要】
OLED显示装置和用于矫正OLED显示装置的残像的方法
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种OLED显示装置和用于矫正OLED显示装置的残像的方法。
技术介绍
OLED(OrganicLight-EmittingDiode)显示器是一种全固态、主动发光型显示器。OLED显示器具有高亮度、高对比度、超薄超轻、低功耗、无视角限制、工作温度范围广等特性，因此被认为是新兴的下一代显示器。有源矩阵OLED（AMOLED）显示面板与薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）产品特性具有很大的差异。AMOLED显示技术发展到现在，尤为突出的问题就是显示残像。残像与显示图像的轮廓有关。不同的显示灰阶会造成驱动薄膜晶体管漏极电流的巨大差异；同时，各个薄膜晶体管（TFT）的栅源极电压（Vgs）之间的的不同对各个薄膜晶体管也产生了不同的电压耐受性（stress）影响；因此，在屏幕上，有可能以显示图像为轮廓，对显示器上的OLED像素产生不同的TFT阈值电压（Vth）漂移。另外，长期使用之后，OLED显示屏的电致发光材料会有老化，发光效率就会降低。这也会造成OLED显示屏的残像。专利技术内容有鉴于此，本专利技本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种OLED显示装置，所述OLED显示装置包括OLED像素阵列；其特征在于，所述OLED显示装置还包括：像素检测电路，用于检测所述OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度；其中，通过将老化图像显示在所述OLED像素阵列上来对所述各个OLED像素分别地进行老化，使得所述各个OLED像素的老化程度相同；所述老化图像中每个像素的亮度与该像素的老化程度成反比。

【技术特征摘要】
1.一种OLED显示装置，所述OLED显示装置包括OLED像素阵列；其特征在于，所述OLED显示装置还包括：像素检测电路，用于检测所述OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度；其中，通过将每个像素的亮度与该像素的老化程度成反比的老化图像显示在所述OLED像素阵列上来对所述各个OLED像素分别地进行老化，使得所述各个OLED像素的老化程度相同。2.如权利要求1所述的OLED显示装置，其特征在于，所述各个OLED像素的老化程度由各个OLED像素中驱动薄膜晶体管的阈值电压来指示，所述像素检测电路适于获取各个OLED像素中驱动薄膜晶体管的阈值电压。3.如权利要求2所述的OLED显示装置，其特征在于，所述像素检测电路通过检测流经驱动薄膜晶体管的电流来获得各个OLED像素中驱动薄膜晶体管的阈值电压。4.如权利要求1所述的OLED显示装置，其特征在于，所述各个OLED像素的老化程度由各个OLED像素中跨越OLED的电压来指示，所述像素检测电路适于检测各个OLED像素中跨越OLED的电压。5.如权利要求1所述的OLED显示装置，其特征在于，所述OLED显示装置还包括：计时电路，用于以预定的时间间隔启动所述像素检测电路。6.一种用于矫正OLED显示装置的残像的方法，所述OLED显示装置包括OLED像素阵列；其特征在于，所述方法包括：检测所述OLED像素阵列中各个OLED像素的老化程度；以及通过将每个像素的亮度与该...

【专利技术属性】
技术研发人员：解红军，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11