一种曲线图形校准评估方法及系统技术方案

技术编号:11855600 阅读:63 留言:0更新日期:2015-08-11 01:50
本发明专利技术涉及一种评估方法及系统,特别涉及一种曲线图形校准评估方法及系统。本发明专利技术通过对规范化曲线图像文件进行剪切、取点和还原等处理,提取曲线数据,绘制基准曲线图形和被校准曲线图形,得到基准曲线图形和被校准曲线图形的相似性对比和相似度的量化评估结果。本发明专利技术提供了一种曲线图形校准评估方法及系统,解决了在只能获取评估曲线的截图或图片的情况下,难以将评估曲线和标准曲线进行相似度对比的技术问题,不仅取点过程和评估过程简单直观,而且非常方便的得到相似性对比和相似度的量化评估结果,可以在曲线图形校准评估领域广泛应用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种评估方法及系统,特别涉及一种曲线图形校准评估方法及系统
技术介绍
在现实生活中,通常需要将检测设备输出的曲线和标准曲线进行对比,通过对比结果衡量检测设备的性能。但是在某些情况下,由于被测设备的原始数据无法直接获取,而只能通过屏幕截图或者数码相机拍照的形式得到图片信息,这一类图片信息通常包含一些不需要的干扰信息,难以和标准曲线进行对比,从而难以得到相似性对比和相似度的量化评估结果。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种曲线图形校准评估方法和系统,解决了现有技术中,在只能获取评估曲线的截图或图片的情况下,难以将评估曲线和标准曲线进行相似度对比的技术问题。本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下:一种曲线图形校准评估方法,包括以下步骤:步骤1,获取待评估曲线的照片图;步骤2,对所述照片图进行标准化处理,并对标准化处理后的待评估曲线进行取点操作,得到待评估曲线的一组二维坐标数组;步骤3,获取所述待评估曲线的基准曲线和基准曲线数据;步骤4,将步骤2获取的二维坐标数组和步骤3获取的待评估曲线的基准曲线数据进行计算、比较和评估,并通过图形和数据的方式显示比较评估结果。在上述技术方案的基础上,本专利技术还可以做如下改进。进一步的,所述步骤I中,照片图包括时域波形图、频谱图、时频图和/或时相图。进一步的,所述步骤2中,标准化处理包括对照片图进行裁剪、擦除和/或坐标标注操作。进一步的,所述步骤2中,采用engauge软件对标准化处理后的待评估曲线进行取点操作,得到待评估曲线的一组二维坐标数组,并将所述二维坐标数组保存为excel格式。进一步的,所述步骤4中,通过图形方式显示比较评估结果具体为:将所述待评估曲线和所述基准曲线按同坐标放在一个坐标轴上,进行对比并直观显示其相似度。进一步的,所述步骤4中,将二维坐标数组和基准曲线数据进行比较评估包括以下步骤:将所述基准曲线与标准化处理后的待评估曲线放在同一坐标轴上;以横坐标为基础,将横坐标按顺序平均分割为N等份,每等份所包含的首尾两点为(xn,yn), (xn+1,yn+1);计算得到所述基准曲线的斜率为kln和待评估曲线的斜率k 2n,当斜率kln> = O时,记为I ;当kln〈0时,记为O ;当斜率k2n> = O时,记为I ;当k2n〈0时,记为O ;比较kln和k 211的数值,并统计出k ln^P k 2n数值相同的次数记为i,k ln^P k 2n数值不同的次数记为j ;计算PjPP2,所述P1= i/(i+j)%,即相同部分所占百分比,P1越大相似度越高;所述P2= j/(i+j)%,即相异部分所占百分比,P2越小相似度越高。进一步的,所述步骤4中,将二维坐标数组和基准曲线数据进行比较评估包括以下步骤:将所述基准曲线与标准化处理后的待评估曲线放在同一坐标轴上;以横坐标为基础,将横坐标按顺序平均分割为N等份,每等份所包含的首尾两点为(xn,yn), (xn+1,yn+1);计算得到所述基准曲线的斜率为kln和待评估曲线的斜率k 2n,当斜率kln> = O时,记为I ;当kln〈0时,记为O ;当斜率k2n> = O时,记为I ;当k2n〈0时,记为O ;计算kn,所述kn= I k ln-k2n |,并给定门限值为T,当kn> = T时,记为I ;当kn〈T时,记为0,统计得到I的个数m,O的个数η ;计算己和P 4的数值,所述P 3= m/(m+n) %,即大于等于门限值所占百分比,P 3越小相似度越高;所述P4= n/(m+n) %,即小于门限值所占百分比,P 4越大相似度越高。一种曲线图形校准评估系统,包括图片采集模块、图像处理模块、基准曲线输入模块、评估模块和显示模块,所述图片采集模块用于获取待评估曲线的照片图;所述图像处理模块用于对所述照片图进行标准化处理,并对标准化处理后的待评估曲线进行取点操作,得到待评估曲线的一组二维坐标数组;所述基准曲线输入模块用于获取所述待评估曲线的基准曲线和基准曲线数据;所述评估模块用于将二维坐标数组和待评估曲线的基准曲线数据进行比较计算、比较和评估,并输出评估结果; 所述显示模块用于通过图形和数据的方式显示比较评估结果。本专利技术的有益效果是:本专利技术提供了一种曲线图形校准评估方法及系统,解决了在只能获取评估曲线的截图或图片的情况下,难以将评估曲线和标准曲线进行相似度对比的技术问题,不仅取点过程和评估过程简单直观,而且非常方便的得到相似性对比和相似度的量化评估结果,可以在曲线图形校准评估领域广泛应用。【附图说明】图1为本专利技术一种曲线图形校准评估方法的流程图。【具体实施方式】以下结合附图对本专利技术的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本专利技术,并非用于限定本专利技术的范围。如图1所示,为本专利技术一种曲线图形校准评估方法的流程图,包括以下步骤:步骤1,获取待评估曲线的照片图;本实施例中,所述照片图包括时域波形图、频谱图、时频图和/或时相图。步骤2,对所述照片图进行标准化处理,并对标准化处理后的待评估曲线进行取点操作,得到待评估曲线的一组二维坐标数组;本实施例的步骤2中,标准化处理包括对照片图进行裁剪、擦除和/或坐标标注操作。优选的,本实施例采用engauge软件对标准化处理后的待评估曲线进行取点操作,得到待评估曲线的一组二维坐标数组,并将所述二维坐标数组保存为excel格式。步骤3,获取所述待评估曲线的基准曲线和基准曲线数据;步骤4,将步骤2获取的二维坐标数组和步骤3获取的待评估曲线的基准曲线数据进行计算、比较和评估,并通过图形和数据的方式显示比较评估结果。本实施例中,所述步骤4中,通过图形方式显示比较评估结果具体为:将所述待评估曲线和所述基准曲线按同坐标放在一个坐标轴上,进行对比并直观显示其相似度。可以采用两种方法对待评估曲线和基准曲线进行对比评估,其中一种方法的包括以下步骤:将所述基准曲线与标准化处理后的待评估曲线放在同一坐标轴上;以横坐标为基础,将横坐标按顺序平均分割为N等份,每等份所包含的首尾两点为(xn,yn), (xn+1,yn+1);计算得到所述基准曲线的斜率为kln和待评估曲线的斜率k 2n,当斜率kln> = O时,记为I ;当kln〈0时,记为O ;当斜率k2n> = O时,记为I ;当k2n〈0时,记为O ;比较kln和k 211的数值,并统计出k ln^P k 2n数值相同的次数记为i,k ln^P 当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种曲线图形校准评估方法,包括以下步骤:步骤1,获取待评估曲线的照片图;步骤2,对所述照片图进行标准化处理,并对标准化处理后的待评估曲线进行取点操作,得到待评估曲线的一组二维坐标数组;步骤3,获取所述待评估曲线的基准曲线和基准曲线数据;步骤4,将步骤2获取的二维坐标数组和步骤3获取的待评估曲线的基准曲线数据进行计算、比较和评估,并通过图形和数据的方式显示比较评估结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张洪陈智华陈蓓胡乔林魏晴昀潘谊春郁春来何龙万松梅昕山
申请(专利权)人:华中科技大学
类型:发明
国别省市:湖北;42

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