基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法技术

技术编号:11755198 阅读:154 留言:0更新日期:2015-07-22 03:25
本发明专利技术公开了一种基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法,首先进行预实验以确定因素和水平,然后根据得到的因素和水平,利用中心组合设计获得实验方案,并根据实验方案对珍珠粉圆进行质地多面分析检测,得到质构参数的数据,再将得到的质构参数的数据输入响应面分析软件中进行回归分析,获得因素与质构参数的回归关系式,得到响应面图,最终确定各因素优化后的水平参数组合。本发明专利技术通过利用响应面法对珍珠粉圆质构的测定方法进行改进,改进后的方法能够更加精确地对珍珠粉圆的质构进行检测,可直接应用于珍珠粉圆的实际生产中,同时有助于生产厂家对珍珠粉圆的配方进行改进。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于食品领域,具体涉及一种。
技术介绍
珍珠奶茶是源自台湾的一种特色饮品,风味独特,味美可口,尤其是里面的黑珍珠 粉圆,弹性十足,是当下极受欢迎的饮品,而珍珠粉圆的质构对珍珠粉圆及相关食品的市场 前景具有重大影响。现有技术中一般使用质构仪对珍珠粉圆进行质构测定,这种测定方法 能够测定出珍珠粉圆的弹性、硬度、粘聚性等质构特性的值,方法简单、快速,然而测定过程 中质构特性的值是随着测定条件变化而变化的,因此,很难做到精确地反映珍珠粉圆的质 构特性。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的目的在于提供一种, 该方法对珍珠粉圆的质构测定更加精确。 本专利技术采用的技术方案如下: 1、,包括如下步骤: (1)首先进行预实验确定因素和水平; (2)根据步骤(1)得到的因素和水平,利用中心组合设计获得实验方案,并根据实 验方案对珍珠粉圆进行质地多面分析检测,得到质构参数的数据; (3)将步骤⑵得到的质构参数的数据输入响应面分析软件中进行回归分析,获 得因素与质构参数的回归关系式,得到响应面图,最终确定各因素优化后的水平参数组合。 优选的,所述步骤(1)中所述因素和水平为两因素两水平,所述因素为压缩速率 和压缩程度,所述压缩速率水平范围为1~5mm/s,所述压缩程度水平范围为50~90%。 优选的,所述步骤(2)中所述质构参数为硬度、弹性、粘聚性、咀嚼性或回复性中 的至少一种。 优选的,所述步骤(2)中所述质构参数的数据为多次测定后的平均值,所述平均 值用TPA-Macro分析获得。 优选的,所述步骤(3)中所述响应面分析软件为Design Expert 8. 0软件。 优选的,所述步骤(3)中所述因素与质构参数的回归关系式如下: 硬度 Y1= 527. 28+95. 73XA+3710. 78XB+142. 17XAXB-390. 26XA 2+3027· 19 ΧΒ2; 弹性 Y2= 1. 18+0. 50 ΧΑ-0. 67 ΧΒ-0. 49 XAXΒ+0. 19 XA 2+0· 16 XB2; 粘聚性 Y3= 0· 75+0. 023ΧΑ-0. 098XB ; 咀嚼性 Y4= 463. 78+223. 89ΧΑ+1542. 65ΧΒ+108. 31ΧΑΧΒ-90. 02ΧΑ 2+1185· 70 ΧΒ2; 回复性 Y5= 0· 62+2. 229Ε .3XA-O. 13ΧΒ+0.1 lXAXB ; 其中,A为压缩速率,B为压缩程度。 优选的,所述步骤(1)中进行预实验时,选用的质构仪探头型号为P50,测试条件 为:测前速率2mm/s,测试速率和测后速率均为lmm/s,停留间隔2s,触发值5g 本专利技术的有益效果在于:本专利技术通过利用响应面法对珍珠粉圆质构的测定方法进 行改进,改进后的方法能够更加精确地对珍珠粉圆的质构进行检测,可直接应用于珍珠粉 圆的实际生产中,同时有助于生产厂家对珍珠粉圆的配方进行改进。【附图说明】 为了使本专利技术的目的、技术方案和有益效果更加清楚,本专利技术提供如下附图: 图1为硬度影响因素的分析结果; 图2为弹性影响因素的分析结果; 图3为粘聚性影响因素的分析结果; 图4为咀嚼性影响因素的分析结果; 图5为回复性影响因素的分析结果。【具体实施方式】 下面对本专利技术的优选实施例进行详细的描述。实施例中未注明具体条件的实验方 法,通常按照常规条件或按照制造厂商所建议的条件。 珍珠粉圆购自重庆大台北珍珠奶茶;TA. XTplus型质构仪购自英国SMS公司。 ,包括如下步骤: (1)首先进行预实验确定因素和水平; 作为进一步改进,所述因素和水平为两因素两水平,所述因素为压缩速率和压缩 程度,所述压缩速率水平范围为1~5mm/s,所述压缩程度水平范围为50~90%。 以本专利技术操作为例:进行预实验时,选用TA. XTplus型质构仪对珍珠粉圆进行质 地多面分析检测(TPA)测定,探头型号为P50,测试条件为:测前速率2mm/s,测试速率和侧 后速率均为lmm/s,停留间隔2s,触发值5g。预实验确定压缩速率水平范围为l-5mm/s,压 缩程度水平范围为50-90%的原因如下:压缩速率过快,珍珠粉圆会黏贴在探头上不能及 时分离,影响TPA测定值;压缩速率过慢,探头移动缓慢,浪费时间;压缩程度过小,无法准 确反映珍珠粉圆的弹性和回复性值;压缩程度过大,探头会破坏珍珠粉圆组织结构,得到的 测量结果不可用。 (2)根据步骤(1)得到的因素和水平范围,利用中心组合设计获得实验方案,并根 据实验方案对珍珠粉圆进行质地多面分析检测,得到质构参数的数据; 作为进一步改进,所述步骤(2)中所述质构参数为硬度、弹性、粘聚性、咀嚼性或 回复性中的至少一种。 作为进一步改进,所述步骤(2)中所述质构参数的数据为多次测定后的平均值, 所述平均值用TPA-Macro分析获得。 以本专利技术的操作过程为例: 中心组合设计Central-Composite Design (CO))获得的实验方案见表1, 表1响应面实验设计【主权项】1. ,其特征在于,包括如下步骤: (1) 首先进行预实验确定因素和水平; (2) 根据步骤(1)得到的因素和水平,利用中心组合设计获得实验方案,并根据实验方 案对珍珠粉圆进行质地多面分析检测,得到质构参数的数据; (3) 将步骤⑵得到的质构参数的数据输入响应面分析软件中进行回归分析,获得因 素与质构参数的回归关系式,得到响应面图,最终确定各因素优化后的水平参数组合。2. 根据权利要求1所述的,其特征在于,所述 步骤(1)中所述因素和水平为两因素两水平,所述因素为压缩速率和压缩程度,所述压缩 速率水平范围为1~5mm/s,所述压缩程度水平范围为50~90%。3. 根据权利要求2所述的,其特征在于,所述 步骤(2)中所述质构参数为硬度、弹性、粘聚性、咀嚼性和回复性。4. 根据权利要求1所述的,其特征在于,所述 步骤(2)中所述质构参数的数据为多次测定后的平均值,所述平均值用TPA-Macro分析获 得。5. 根据权利要求3所述的,其特征在于,所述 步骤(3)中所述响应面分析软件为DesignExpert8.0软件。6. 根据权利要求5所述的,其特征在于,所述 步骤(3)中所述因素与质构参数的回归关系式如下: 硬度Y1= 527. 28+95. 73XA+3710. 78XB+142. 17XAXB-390. 26XA2+3027. 19XB2; 弹性Y2=I. 18+0. 50XA-0. 67XB-0. 49XAXB+0. 19XA2+0. 16XB2; 粘聚性Y3= 0? 75+0.O23XA-O.O98XB; 咀嚼性Y4= 463. 78+223. 89XA+1542. 65XB+108. 31XAXB-90. 02XA2+1185. 70XB2; 回复性Y5= 0? 62+2. 229E.3XA-O. 13XB+0.IlXAXB; 其中,A为压缩速率,B为压缩程度。7. 根据权利要求1所述的,其特征在于,所述 步骤(1)中进行预实验时,选用的质构仪探头型号为P50,测试条件为:测前速率2mm/s,测 试速率和测后速率均为lmm/s,停留间隔2s,触发值5g。【专利摘要】本发本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于响应面法的珍珠粉圆质构测定方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)首先进行预实验确定因素和水平;(2)根据步骤(1)得到的因素和水平,利用中心组合设计获得实验方案,并根据实验方案对珍珠粉圆进行质地多面分析检测,得到质构参数的数据;(3)将步骤(2)得到的质构参数的数据输入响应面分析软件中进行回归分析,获得因素与质构参数的回归关系式,得到响应面图,最终确定各因素优化后的水平参数组合。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吴邱静李雪卉陈松王荣马婉茹朱建飞
申请(专利权)人:重庆工商大学
类型:发明
国别省市:重庆;85

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