一种数据处理方法和电子设备技术

技术编号:11688696 阅读:70 留言:0更新日期:2015-07-07 22:13
本发明专利技术公开一种数据处理方法和电子设备。所述数据处理方法包括:在条纹结构光投射到一待测物体时,获取包含所述待测物体的第一图像,其中,所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光,所述至少两个基准条纹光中每个基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同;检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息;基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息;根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像进行深度恢复。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子
,尤其涉及一种数据处理方法和电子设备
技术介绍
三维扫描是集光、机、电和计算机技术于一体的高新技术,主要用于对物体空间外形和结构及色彩进行扫描,以获得物体表面的空间坐标。三维扫描技术被广泛应用于工业、医疗、教育、文物保护等诸多方面。三维扫描的重要意义在于能够将实物的立体信息转换为计算机能直接处理的数字信号,为实物数字化提供了相当方便快捷的手段。光学三维扫描系统是将等间隔等宽度多根条纹光投射到物体表面,摄像头同步采集图像,然后对图像进行计算,并利用相位稳步极线实现两幅图像上的三维空间坐标(X、Y、Z),从而实现对物体表面三维轮廓的测量。但是在本申请的专利技术人在实现本申请技术方案的过程中,至少发现上述现有技术存在如下技术问题:当物体的深度越大时,所述摄像头上采集的图片上与条纹光对应条纹图像变形量越大,在对所述图片上变形量较大的条纹图像进行识别时,容易产生错位识别或者错误识别,从而影响物体的立体图像的深度恢复。
技术实现思路
本申请提供一种数据处理方法和电子设备,解决了现有技术中在获得投射到深度较大的物体的条纹光的图片时,对所述图片上与条纹光对应条纹图像进行识别容易产生错位识别或者错误识别,从而影响物体的立体图像的深度恢复的技术问题,达到便于识别所述图片上的条纹光顺序和位置信息,提高所述物体的立体图像的深度恢复的技术效果。本申请提供一种数据处理方法,所述方法包括:在条纹结构光投射到一待测物体时,获取包含所述待测物体的第一图像,其中,所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光,所述至少两个基准条纹光中每个基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同;检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息;基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息;根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像进行深度恢复。优选地,所述基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息,具体包括:从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息和与所述至少两根基准条纹光对应的基准条纹图像信息;根据所述基准条纹图像信息和所述初级条纹信息,确定所述多根初级条纹光的条纹顺序,并获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹位置信息。优选地,所述获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹位置信息,具体为:获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光在所述第一图像上的每个点的坐标数值。优选地,所述根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像的深度恢复,具体为:根据所述条纹顺序和所述坐标数值,对所述待测物体的立体图像的深度恢复。优选地,在所述至少两根基准条纹光包括M根第一基准条纹光和N根第二基准条纹光,所述第一基准条纹光和所述第二基准条纹光的宽度不同,所述M和N为大于等于I的整数时,所述从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息和与所述至少两根基准条纹光对应的基准条纹图像信息,具体为:从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息、与所述M根第一基准条纹光对应的第一基准条纹图像信息和与所述N根第二基准条纹光对应的第二基准条纹图像信息。优选地,所述根据所述基准条纹图像信息确定所述多根初级条纹光的条纹顺序,具体为:根据所述第一基准条纹图像信息确定所述第二基准条纹光的顺序;根据所述第二基准条纹图像信息确定所述初级条纹光的顺序。本申请还提供一种电子设备,所述电子设备包括:图像采集单元,用于在条纹结构光投射到一待测物体时,获取包含所述待测物体的第一图像,其中,所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光,所述至少两个基准条纹光中每个基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同;检测单元,用于检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息;获取单元,用于基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息;执行单元,用于根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像进行深度恢复。优选地,所述基准条纹光的宽度大于所述初级条纹光的宽度。优选地,在所述至少两根基准条纹光的数目大于3时,所述至少两根基准条纹光中的每相邻的两个基准条纹光之间的初级条纹光的数目相同。优选地,所述至少两根基准条纹光中的相邻的两根基准条纹光之间的间距大于等于第一预设值。优选地,所述获取单元具体用于:从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息和与所述至少两根基准条纹光对应的基准条纹图像信息;根据所述基准条纹图像信息确定所述多根初级条纹的条纹顺序,并获取所述条纹位置信肩、O优选地,所述获取单元具体用于获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光在所述第一图像上的每个点的坐标数值。优选地,所述执行单元具体用于根据所述条纹顺序和所述坐标数值,对所述待测物体的立体图像的深度恢复。优选地,所述至少两根基准条纹光包括M根第一基准条纹光和N根第二基准条纹光,所述第一基准条纹光和所述第二基准条纹光的宽度不同,其中,所述M大于等于I,所述N大于等于2。优选地,所述获取单元具体用于:从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息、与所述M根第一基准条纹光对应的第一基准条纹图像信息和与所述N根第二基准条纹光对应的第二基准条纹图像信息。优选地,所述获取单元还具体用于:根据所述基准条纹图像信息确定所述多根初级条纹光的条纹顺序。优选地,所述第一基准条纹光和所述第二基准条纹光的宽度大于所述初级条纹光的宽度。优选地,所述第一基准条纹光的宽度大于所述第二基准条纹光的宽度。优选地,所述相邻的两根第二级基准条纹光之间的间距大于等于第一预设值。本申请有益效果如下:上述数据处理方法通过将条纹机构光设置为包括宽度不同的初级条纹光和基准条纹光,使得在获得条纹机构光投影到待测物体上的第一图像后,尤其是在条纹结构光投射到深度较大的物体时,所述条纹结构光的变形量较大,在识别所述条纹图像时,能够很容易地识别出与初级条纹光宽度不同的基准条纹光,再根据基准条纹光确定所述初级条纹光的条纹顺序,从而避免对第一图像上的条纹图像识别时产生错位识别或者误识别,解决了现有技术中在获得投射到深度较大的物体的条纹光的图片时,对所述图片上的条纹光识别容易产生错位识别或者错误识别,从而影响物体的立体图像的深度恢复的技术问题,达到便于识别所述图片上的条纹光顺序和位置信息,提高所述物体的立体图像的深度恢复的技术效果。【附图说明】图1为本申请第一较佳实施方式数据处理方法的流程图;...
一种数据处理方法和电子设备

【技术保护点】
一种数据处理方法,所述方法包括:在条纹结构光投射到一待测物体时,获取包含所述待测物体的第一图像,其中,所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光,所述至少两个基准条纹光中每个基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同;检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息;基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息;根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像进行深度恢复。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:肖蔓君陈柯杨晨
申请(专利权)人:联想北京有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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